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公开(公告)号：CN109470377A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811344613.1
申请日：2018-11-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种多层阻变存储器的温度分布测试方法，包括：获取阻变存储器的堆叠层数；设定目标层的测试顺序；按照测试顺序选取目标层；在目标层上选取多个目标单元构成目标集合；利用脉冲信号对目标集合内的各目标单元进行初始化，将目标集合内的各目标单元设定为高阻态或者低阻态；分别记录目标集合内的各目标单元的初始电阻值；对阻变存储器的各层重复上述步骤；对阻变存储器的各层进行温度分布测量，构建各层的温度分布模型。本发明能够有效地推断存储器内部层的温度分布，提高了温度分布分析的可靠性。
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公开(公告)号：CN111445396B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202010146378.8
申请日：2020-03-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种集成电路版图重建方法、装置、电子设备和存储介质，集成电路版图重建方法包括：获取待重建集成电路版图的第一图像；根据预设的纠偏规则对第一图像进行处理，以获取第二图像，纠偏规则用于校正第一图像的畸变；根据预设的重建模型对第二图像进行处理，以获取第三图像，重建模型用于提高第二图像的分辨率。基于预设的纠偏规则对第一图像进行处理，解决了扫描电子显微镜获取的第一图像的畸变问题，使第二图像能够真实地反映实际电路分布情况，从而避免了第一图像畸变的质量问题对重建图像的准确度的影响，进一步地，再利用预设的重建模型根据低分辨率的第二图像获取高分辨率的第三图像，降低了获取高分辨率图像的设备成本。
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公开(公告)号：CN111460529B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202010184947.8
申请日：2020-03-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F21/76 , G06F18/2411 , G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种硬件木马检测与定位方法及系统，所述方法包括：施加激励信号；包括在待检芯片的时钟输入端输入方波信号，电源输入端和地线之间施加工作电压VDD；检测所述待检芯片的每个区域在所述激励信号下的电磁辐射信号；获取正常芯片所述每个区域的电磁数据，将每个所述区域的所述电磁辐射信号与所述电磁数据进行比较，若每个所述区域的所述电磁辐射信号均未超出所述电磁数据的上下限，则判定所述待检芯片无硬件木马；若存在电磁辐射信号超出所述上下限的区域，则判定这些区域存在硬件木马；其中，所述电磁数据是通过测试正常芯片在所述激励信号下的电磁辐射得到。本发明可有效提高硬件木马的测出率。
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公开(公告)号：CN114594370A
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN202210257057.4
申请日：2022-03-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种集成电路失效检测方法及装置。方法包括：获取待检测集成电路的第一图像，其中，待检测集成电路包括至少一条待检测的金属线，第一图像中包括待检测的金属线的图像；使用检测探针接触金属线，获取接触到检测探针后的待检测集成电路的第二图像，其中，第二图像中包括第一图像中的金属线的图像；根据第一图像、第二图像，确定待检测集成电路的失效情况。从而仅通过图像的变化即可检测集成电路的内部失效情况，检测方法方便简单，并且无需将集成电路研磨到待检测的那一层，即可通过其上层的互连情况，对其内部的失效情况进行初步的检测，效率更高。
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公开(公告)号：CN114325461A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111659602.4
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/40 , G01R19/10 , G01R19/12 , G01R19/165
Abstract: 本申请涉及一种开关电源故障预测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取开关电源在预设时间段内的多个电压信号，其中，所述预设时间段的起始时间点早于负载瞬态过程的起始点，所述预设时间段的结束时间点晚于所述负载瞬态过程的结束点；根据多个所述电压信号获取电压过冲值；按照预设时序获取开关电源在多个所述预设时间段内的多个所述电压过冲值，得到电压过冲时间序列；根据所述电压过冲时间序列和预设参数阈值，预测所述开关电源的剩余正常工作时间。采用本方法能够对开关电源的剩余正常工作时间进行预测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114004180A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202111170070.8
申请日：2021-10-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/327 , G06F30/33 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种集成电路的分析方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测器件包含的数字集成电路对应的门级网表，所述门级网表用于描述所述数字集成电路包括的多条路径及每条路径上的门电路包括的至少一逻辑门；根据所述门级网表获取每条路径的路径信息；根据所述路径信息和预设器件退化模型计算每条所述路径的延时增量；根据所述延时增量和失效边界条件计算每条所述路径的失效时间，并将最小失效时间对应的路径作为所述数字集成电路的关键失效路径。通过本方法可基于电路负载及时序要求分析出集成电路中导致可靠性退化的关键失效路径，从而在设计早期对该路径进行加固，提高集成电路的可靠性。
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公开(公告)号：CN109470377B
公开(公告)日：2020-09-25
申请号：CN201811344613.1
申请日：2018-11-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种多层阻变存储器的温度分布测试方法，包括：获取阻变存储器的堆叠层数；设定目标层的测试顺序；按照测试顺序选取目标层；在目标层上选取多个目标单元构成目标集合；利用脉冲信号对目标集合内的各目标单元进行初始化，将目标集合内的各目标单元设定为高阻态或者低阻态；分别记录目标集合内的各目标单元的初始电阻值；对阻变存储器的各层重复上述步骤；对阻变存储器的各层进行温度分布测量，构建各层的温度分布模型。本发明能够有效地推断存储器内部层的温度分布，提高了温度分布分析的可靠性。
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公开(公告)号：CN108776757A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201810659220.3
申请日：2018-06-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种微处理器权限提升攻击模拟方法，包括以下步骤：a.通过对微处理器的原始设计数据进行仿真，获得攻击的目标触发电路节点；b.在所述目标触发电路节点处设计实现攻击电路；c.利用仿真或FPGA、即现场可编程门阵列，来验证所述攻击电路功能的正确性；d.利用所述攻击电路来模拟权限提升攻击。本发明通过在微处理器中嵌入攻击电路来模拟权限提升攻击的效果，这种硬件模拟与软件仿真相比，速度更快。
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公开(公告)号：CN111445502B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202010150602.0
申请日：2020-03-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种集成电路图像匹配方法及系统。一种集成电路图像匹配方法，其特征在于，所述的图像匹配方法包括：构造集成电路版图微观图像的检测算子；基于所述检测算子将所述集成电路版图微观图像的特征点与所述集成电路设计版图的特征点进行比较，以得到匹配点；基于孔特征对集成电路版图微观图像及集成电路设计版图进行精确定位。上述集成电路图像匹配方法与系统，首先实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的区域定位，然后基于集成电路版图微观图像中孔的特征，精确定位到孔中心，而实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的精准匹配从而实现两者之间的像素级对齐。
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公开(公告)号：CN114785715A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210253517.6
申请日：2022-03-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H04L43/0852 , H04L43/50
Abstract: 本申请涉及一种链路时延检测系统及方法。所述系统包括：向量生成设备，与待测链路的输入端连接，用于向待测链路输入测试向量，其中，测试向量包括依次排列的多个数据，相邻两个数据的取值不同；测量设备，与待测链路的输出端连接，用于获取测试向量经过待测链路得到的测试数据；将测试数据分别延时不同时长，得到多个延时向量；根据多个延时向量在预设时间范围内的数据相互之间的关系，确定待测链路的时延是否达标。能够仅根据待测链路输出的测试数据，即可判定待测链路的时延是否达标，无需与其他的标准数据进行对照，节省了资源，并且能够简单可靠的判定待测链路的时延是否达标，节省了检测的时间。
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