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公开(公告)号：CN103075951A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201210557826.9
申请日：2012-12-20
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种基于电容传感器阵列的三维微接触式测头，所述的测头由方形底板、电容传感器阵列、十字梁和测针组成，其特征在于：所述的测头有多个电容传感单元，呈阵列式分布于方形底板上，测针连接在十字梁的中心连接体上，十字梁的悬臂与电容传感器上极板相连，上极板通过微弹簧悬挂单元悬挂，所述上极板的悬挂采用若干个微弹簧实现，微弹簧不仅用于固定电容传感器的上极板，还用于支撑十字梁和测针重量，由测针及十字梁组成的杠杆结构将被测物的横向位移放大并转化为电容上极板的轴向位移，解决单个电容传感器测量时横向分辨力低的问题。本发明弥补了单个电容传感器横向分辨力低的缺陷，提高了分辨力和精度，有效拓展了横向测量范围。
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公开(公告)号：CN111967100B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202010725389.1
申请日：2020-07-24
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于改进蚁群算法拟合螺纹中轴线的方法，其特征在于：步骤1：由光学扫描或螺纹测量仪器获得螺纹表面点云的三维坐标数据作为改进蚁群算法的输入样本；步骤2：根据螺纹表面三维坐标点到中轴线的距离方差最小的原则建立立体几何数学模型，根据两点确定一条直线的原则确定螺纹内部区域内两点共6个坐标值；步骤3：将采集的螺纹三维数据投影到二维面上，估算出中轴线上两点坐标共六个参数的初始区间；步骤4：建立改进蚁群算法框架，算法框架由设置初始状态，信息素更新，设定选择概率，选定转移方法，贪婪处理以及结束原则六部分组成。步骤5：通过拟合程序将上述步骤过程及获得的数据整合后输出螺纹中轴线的两点式。
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公开(公告)号：CN108489401B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN201810563230.7
申请日：2018-05-23
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种分体式校准靶标，在利用激光跟踪仪对激光扫描仪的空间距离示值误差进行校准时与靶镜相配合作为测量靶标使用，包括：靶座；靶镜承托组件，具有锥柄、设置在锥柄上的连接件以及设置在连接件上并用于通过磁性吸附与靶镜相连接的靶镜座；以及靶球组件，具有球侧锥柄、设置在球侧锥柄上的三维调节机构以及设置在三维调节结构上的靶球，其中，锥柄、球侧锥柄均为莫氏锥柄，该莫氏锥柄具有相同的尺寸以及公差，且锥尖向下设置，靶座上设置有莫氏锥套，该莫氏锥套的锥尖向下，开口向上，莫氏锥套与锥柄以及球侧锥柄相匹配。本发明还提供了具有上述分体式校准靶标的校准装置以及利用该校准装置对激光扫描仪进行校准的方法。
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公开(公告)号：CN113310445B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202110576171.9
申请日：2021-05-26
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种多仪器组合测量系统的校准方法，采用多齿分度台作为标准器校准多仪器组合测量系统的坐标系旋转误差；采用带有激光干涉仪的直线导轨作为标准器校准多仪器组合测量系统的坐标系平移误差；采用长度标尺作为标准器校准多仪器组合测量系统的公共测量点和非公共测量点的空间距离长度误差。本发明弥补了现有单台测量仪器的校准方法不能直接应用于多仪器组合测量系统的校准的问题，保障了多仪器组合测量系统的量值统一、准确可靠，助力多仪器组合测量系统的研发升级和现场应用。
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公开(公告)号：CN115877037A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202211365264.8
申请日：2022-11-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 同济大学
IPC: G01Q40/00
Abstract: 本发明公开了一种电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法，基于原子光刻技术制备一维光栅标准样板，计算该一维光栅标准样板的光栅理论周期值D；将一维光栅标准样板静置于电子探针显微分析仪器的载物台设定时间，使测试状态保持稳定；待电子探针显微分析仪器聚焦清晰后，电子探针显微分析仪器扫描载物台上的一维光栅标准样板，对一维光栅标准样板的栅格间距进行图像采集和测量，得到光栅扫描距离测量值L,并记下此时的放大倍率，根据D和L计算获得该放大倍率下的校准因子K。本发明的电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法，缩短了对仪器进行校准的溯源链长度，降低了量值传递过程的误差积累，提升了不同仪器之间的校准一致性，操作方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108489401A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810563230.7
申请日：2018-05-23
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种分体式校准靶标，在利用激光跟踪仪对激光扫描仪的空间距离示值误差进行校准时与靶镜相配合作为测量靶标使用，包括：靶座；靶镜承托组件，具有锥柄、设置在锥柄上的连接件以及设置在连接件上并用于通过磁性吸附与靶镜相连接的靶镜座；以及靶球组件，具有球侧锥柄、设置在球侧锥柄上的三维调节机构以及设置在三维调节结构上的靶球，其中，锥柄、球侧锥柄均为莫氏锥柄，该莫氏锥柄具有相同的尺寸以及公差，且锥尖向下设置，靶座上设置有莫氏锥套，该莫氏锥套的锥尖向下，开口向上，莫氏锥套与锥柄以及球侧锥柄相匹配。本发明还提供了具有上述分体式校准靶标的校准装置以及利用该校准装置对激光扫描仪进行校准的方法。
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公开(公告)号：CN105066939B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201510469248.7
申请日：2015-08-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种球棒球心距检测装置及其检测方法，包括：基体，包含：导轨以及分别固定在导轨两端的两个支架；固定支撑部，固定在导轨上用于支撑球体；两个移动支撑部，分别设在固定支撑部两侧，每个移动支撑部包含：可移动式安装在导轨上用于支撑球体的球体侧支撑单元、以及可移动式安装在导轨上设在固定支撑部和球体侧支撑单元之间用于支撑球杆的球棒侧支撑单元；两个测量部，分别与两个球体侧支撑单元一一对应且安装在两个支架上，基于预定测量规则分别测量出其中一个球体侧支撑单元移动的第一距离和另一个球体侧支撑单元移动的第二距离；以及计算部，根据第一距离和第二距离计算出球心距。
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公开(公告)号：CN104457556B
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201310441883.5
申请日：2013-09-23
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B7/312
Abstract: 本发明公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量装置和方法，所述表座固定在底座上，电感测微仪设置于表座上，弹性体的一端固定在底座上，另一端和连接座的底部相连，连接座的首端和电感测微仪相连，末端和滑轨垂直相连，测头夹具套设在滑轨上，三针套件固定在测头夹具上，安装架固定在底座上，待测工件的圆柱部分夹持于安装架上，三针套件压紧在待测工件的螺纹部上，滚动轴承设置于待测工件的圆柱部分上，质量块压加在滚动轴承上。还公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量方法。本发明结构简单，制作方法，能够简单速度的测得待测工件的同轴度，精度高，操作过程简单，易于广泛推广。
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公开(公告)号：CN102278933B
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201110184739.9
申请日：2011-07-04
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种圆柱直齿渐开线花键环规跨棒距的测量方法及测量装置，测量方法包括如下步骤：（1）在卧式测长仪的测量座和尾座上相向安装两对称的测钩，在测钩的钩尖端上安装测量测头，所述测量测头包括刀口测头和平面测头，所述刀口测头与内花键键齿齿槽相互垂直；（2）进行零位校准，即调整两测量测头平行，将组合的量块用量块夹固定在卧式测长仪工作台上，调整工作台使量块夹上量爪工作面与刀口测头刀口面平行，然后将仪器置零；（3）量块取下，将被测的花键环规安装好，测量棒安装在被测的花键环规齿槽内；（4）使刀口测头与测量棒接触，调整工作台，读取仪器示值，加上零位校准用量块的实际值，就获得被测花键环规的跨棒距。
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公开(公告)号：CN102278933A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110184739.9
申请日：2011-07-04
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种圆柱直齿渐开线花键环规跨棒距的测量方法及测量装置，测量方法包括如下步骤：（1）在卧式测长仪的测量座和尾座上相向安装两对称的测钩，在测钩的钩尖端上安装测量测头，所述测量测头包括刀口测头和平面测头，所述刀口测头与内花键键齿齿槽相互垂直；（2）进行零位校准，即调整两测量测头平行，将组合的量块用量块夹固定在卧式测长仪工作台上，调整工作台使量块夹上量爪工作面与刀口测头刀口面平行，然后将仪器置零；（3）量块取下，将被测的花键环规安装好，测量棒安装在被测的花键环规齿槽内；（4）使刀口测头与测量棒接触，调整工作台，读取仪器示值，加上零位校准用量块的实际值，就获得被测花键环规的跨棒距。
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