-
公开(公告)号：CN106456070A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580027058.8
申请日：2015-06-17
Applicant: 索尼公司
Inventor： 小泽谦
IPC: A61B5/1455 , G01J3/02 , G01J4/04 , G01J3/453 , G01J3/28
CPC classification number: G01J1/42 , A61B5/0075 , A61B5/14532 , A61B5/14546 , A61B5/14551 , A61B5/14552 , A61B5/14558 , A61B5/681 , G01J1/0411 , G01J1/0429 , G01J1/0488 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/027 , G01J3/2823 , G01J3/4531 , G01J4/04 , G01J2004/005 , G01N21/314 , G01N21/359 , G01N2021/3595 , A61B5/1455
Abstract: 本发明提供了一种成像装置和成像方法。将来自被摄体的光作为多个光束集提供至具有多个元件的相位差阵列。所述相位差阵列被配置成针对多个光束集中的至少一些光束集内所包括的光提供不同的光路。在成像元件阵列处接收来自所述相位差阵列的光。所述成像元件阵列包括多个成像元件。可以显示基于所述成像元件阵列的输出信号根据高光谱成像数据所获得的信息。
-
公开(公告)号：CN104833634A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510303622.6
申请日：2013-10-02
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。
-
公开(公告)号：CN102782465B
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201180011869.0
申请日：2011-01-14
Applicant: 科学技术设备委员会
Inventor： H·莫特梅尔
CPC classification number: G01J3/02 , G01B9/0209 , G01J3/0208 , G01J3/4531 , G01J3/4532
Abstract: 本发明公开了一种干涉仪，例如该干涉仪可以并入到手持分光计中。干涉仪包括环绕路径光学器件和检测器，环绕路径光学器件包括分束器（210）和至少两个反射元件（221，222），分束器被布置为将输入光束（205）分为第一光束和第二光束（231、232）。环绕路径光学器件被布置为将第一光束和第二光束围绕环绕某一区域的路径在相反方向上引导并且朝向检测器（250）输出第一光束和第二光束。环绕路径光学器件还将第一光束和第二光束聚焦在检测器上。检测器被布置为检测由第一光束和第二光束产生的图案。在优选实施方式中，两个反射元件是一对凹面镜并且环绕路径光学器件环绕三角形区域。使用凹面镜用于反射和聚焦提供了紧凑的干涉仪。
-
公开(公告)号：CN102369421A
公开(公告)日：2012-03-07
申请号：CN201080013123.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 莱尔照明公司
Inventor： 罗伯特·G·梅塞施米特
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/4531 , G01J3/457 , G01N21/45 , G01N21/552 , G01N21/65
Abstract: 本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统，描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备，其包括：电磁辐射源，用于以光子激发样本；探测器，适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用，例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外，也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。
-
公开(公告)号：CN101326428B
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200680046401.4
申请日：2006-10-11
Applicant: 杜克大学
CPC classification number: G01J3/4412 , A61B5/0066 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/7257 , G01B9/02044 , G01B9/02084 , G01B9/02087 , G01B9/0209 , G01J3/4531 , G01N21/31 , G01N21/4795 , G01N2021/4704 , G01N2021/4709 , G01N2021/4735 , G01N2201/08
Abstract: 傅立叶域a/LCI(faLCI)系统和方法，其允许利用单独的扫描以快速比率的体内数据采集。利用扫描获得角度分辨和深度分辨光谱信息。由于仅需要一个扫描，参考臂可以关于样品保持固定。在样品的多个反射偏角下，参考信号和被反射的样品信号被互相关和分散，从而同时并行地表示来自样品上多个点的反射。利用以约40毫秒为数量级的扫描可以获得关于样品上多个不同点的每一个处样品的全部深度的信息。从空间、互相关参考信号，利用允许从角度分辨数据获得散射体的尺寸信息的技术也可以获得结构(尺寸)信息。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101210874B
公开(公告)日：2010-05-19
申请号：CN200610171670.5
申请日：2006-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/4531 , G01N21/3586
Abstract: 一种测量太赫兹时域光谱的方法及设备。该方法包括步骤：以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，用于产生太赫兹脉冲；以重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束作为探测光束；通过反馈调节的方式控制第一飞秒激光器和第二飞秒激光器工作在相同的重复频率上；通过调节第一飞秒激光器和/或第二飞秒激光器的腔长，来将第一脉冲激光束的相位与第二脉冲激光束的相位之间的相位差调节为预定的相位差；测量在第一脉冲激光束与第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及通过对表示电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。同现有技术相比，本发明在保持高探测带宽的同时能保持高的频谱分辨力。
-
公开(公告)号：CN108225562A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711317348.3
申请日：2017-12-12
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/28 , G01J3/447 , G01J3/45 , G01J3/4531 , G01J3/2823 , G01J2003/1291 , G01N21/23
Abstract: 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及一种具有偏振镜单元（210）的傅里叶变换光谱仪（200），所述傅里叶变换光谱仪由至少两个进行双折射的晶体、一个用于探测光线的探测单元（202）和一个布置在偏振镜单元（210）与探测单元（202）之间的透镜单元（204）构成，所述透镜单元由至少一个用于使光线转向到探测单元（202）上的透镜元件（206）构成。在此，透镜单元（204）具有能借助于透镜元件（206）改变的焦距，以便可以使傅里叶变换光谱仪（200）在不同的运行模式之间转接。
-
公开(公告)号：CN104833634B
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201510303622.6
申请日：2013-10-02
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。
-
公开(公告)号：CN104704333A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201380052250.3
申请日：2013-10-02
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明的分光特性测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其检测干涉光的光强度分布；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束之间附加周期性。
-
公开(公告)号：CN102369421B
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201080013123.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 莱尔照明公司
Inventor： 罗伯特·G·梅塞施米特
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/4531 , G01J3/457 , G01N21/45 , G01N21/552 , G01N21/65
Abstract: 本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统，描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备，其包括：电磁辐射源，用于以光子激发样本；探测器，适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用，例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外，也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
24
records
(took 0.011 seconds)
