一种α-HNIW晶型标准物质晶型纯度定值方法

    公开(公告)号:CN112098623B

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202010856693.X

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 本发明提供了一种α‑HNIW晶型标准物质晶型纯度定值方法,该方法具体包括以下步骤:步骤一、抽取粉末试样;步骤二,分别对α‑HNIW晶型标准物质中的α‑HNIW、丙酮、水分和其它有机杂质进行测试;所述的测试包括X射线粉末衍射测试、核磁共振测试、温台‑库仑测试和液相色谱测试;温台‑库仑测试,温台‑库仑滴定法用于测试微量水分含量,根据微量水分含量减掉α‑HNIW晶型中的结晶水分含量,获得吸附水分含量;步骤三,对α‑HNIW晶型标准物质中的α‑HNIW、丙酮、水分和其它有机杂质的测试结果进行统计分析获得定值结果。本发明的定值方法实现高纯度α‑HNIW晶型标准物质的精确定值,保证了晶型纯度定值结果的溯源性和权威性,可用于多晶型材料晶型纯度定值推广。

    一种炸药晶体表面粗糙度的接触式精确检测方法

    公开(公告)号:CN119714135A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411879041.2

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 本发明提供了一种炸药晶体表面粗糙度的接触式精确检测方法,该方法包括以下步骤:步骤一,确定待测颗粒数;步骤二,确定单颗炸药晶体的待测面积;步骤三,探针成像;步骤四,计算平均倾斜矢量;步骤五,计算粗糙度;步骤六,计算粗糙度平均值。本发明采用通过纳米压痕的探针成像为检测手段,通过晶体总颗粒数和晶体的总面积来分别确定待测颗粒数和每个晶体的采样面积。测量待测样品的表面形貌,通过二维线性拟合,在倾斜矢量方向计算粗糙度。该方法受环境影响低,测试过程对炸药晶体安全性高,且具有无损、结果精确等优点。

    一种针对纳米铝颗粒氧化铝膜孔隙率的快速表征方法

    公开(公告)号:CN117664823A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311501807.9

    申请日:2023-11-13

    Abstract: 本发明提供了一种针对纳米铝颗粒氧化铝膜孔隙率的快速表征方法,包括:步骤一,采用透射电镜拍摄透射电镜照片;通过圆形近似法量取单颗粒子的直径d和单质铝核直径d2,然后二者相减得到氧化铝层厚度δ。步骤二,将透射电镜的模式调为扫描透射模式,通过原位能量色散X射线光谱仪进行能谱扫描;通过归一化法获得氧元素在整个颗粒中的原子数比例wO。步骤三,纳米铝为单质铝核和无定性三氧化二铝壳层组成的球形,通过步骤一和步骤二获得的参数计算出孔隙率P。本发明的方法使得可以在纳米尺度下获得单一氧化铝层的孔隙率,更加能真实反映氧化铝层的包覆强度,且该方法操作简单,快速准确。

    一种γ-HNIW晶型标准物质晶型纯度定值方法

    公开(公告)号:CN112098444B

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202010857410.3

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 本发明提供了一种γ‑HNIW晶型标准物质晶型纯度定值方法,该方法具体包括以下步骤:步骤一、抽取粉末试样;步骤二,分别对γ‑HNIW晶型标准物质中的γ‑HNIW、丙酮、水分和其它有机杂质进行测试;X射线粉末衍射测试,全谱拟合计算获得γ‑HNIW晶型在所有不同晶型的HNIW中的相对含量;核磁共振测试,核磁共振氢谱加入已知纯度的反丁烯二酸标准法用于测试丙酮含量;温台‑库仑测试,温台‑库仑滴定法用于测试微量水分含量;液相色谱测试,液相色谱归一化法用于测试其它有机杂质含量;步骤三,对γ‑HNIW晶型标准物质中的γ‑HNIW、丙酮、水分和其它有机杂质的测试结果进行统计分析获得定值结果。本发明的定值方法可对高纯晶型纯度定值,准确可靠、切实可行,可实现高纯度γ‑HNIW晶型标准物质的精确定值。

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