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公开(公告)号：CN119714135A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411879041.2
申请日：2024-12-19
Applicant: 西安近代化学研究所
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明提供了一种炸药晶体表面粗糙度的接触式精确检测方法，该方法包括以下步骤：步骤一，确定待测颗粒数；步骤二，确定单颗炸药晶体的待测面积；步骤三，探针成像；步骤四，计算平均倾斜矢量；步骤五，计算粗糙度；步骤六，计算粗糙度平均值。本发明采用通过纳米压痕的探针成像为检测手段，通过晶体总颗粒数和晶体的总面积来分别确定待测颗粒数和每个晶体的采样面积。测量待测样品的表面形貌，通过二维线性拟合，在倾斜矢量方向计算粗糙度。该方法受环境影响低，测试过程对炸药晶体安全性高，且具有无损、结果精确等优点。
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