薄膜晶体管
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100502047C

    公开(公告)日:2009-06-17

    申请号:CN200510054415.8

    申请日:1997-06-27

    Inventor: 井上聪

    CPC classification number: H01L29/78696 G02F1/13454

    Abstract: 本发明提供一种具有可减少Vgs-Ids特性的变坏的结构的薄膜晶体管。该薄膜晶体管(16)具有由N型杂质扩散区构成的源区(17)、漏区(18)和栅电极(19),栅电极(19)的正下方成为沟道区(30)。此外,在源区(17)、漏区(18)中,通过多个接触孔(20)分别与源电极(21)、漏电极(22)连接。而且在沟道区(30)的内部,在多个部位并隔开一定间隔地形成P型杂质扩散区(23)。

    转移方法
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100477079C

    公开(公告)日:2009-04-08

    申请号:CN200610100303.6

    申请日:1997-08-26

    Abstract: 本发明提供一种剥离方法,包括:从基板剥离脱离件,其中:剥离所述脱离件包括以多束连续实施的光束照射;以所述多束光束中的第一光束照射第一区域;以所述多束光束中的第二光束照射第二区域部分;以及第一区域不与以强度比第二光束的最高强度的90%高的部分所述第二光束照射的部分第二区域重叠,或者不与以所述第二光束中强度无变化的部分光束照射的部分所述第二区域重叠。此外,提供了相应的转移方法,以及按照相应剥离方法或转移方法制造薄膜器件的方法。

    3维器件的制造方法
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1132245C

    公开(公告)日:2003-12-24

    申请号:CN99800189.9

    申请日:1999-02-23

    Abstract: 本发明的3维器件的制造方法,包括在透光性的基板1上形成分离层2、中间层3和第1被转印层41有机同样在透光性的基板1上形成分离层2、中间层3和第2被转印层42的工序、在与被转印层41的基板1相反侧通过粘接层5将基板(转印侧基板)21接合的工序、向分离层2照射照射光7利用磨蚀在分离层2的层内和/或界面发生剥离从而使被转印层41从基板1上脱离下来转印到基板21上的工序、在与被转印层42的基板1相反侧通过导电性粘接层22将被转印层41接合的工序有机和上述一样向分离层2照射照射光7使被转印层42从基板1上脱离下来从而转印到被转印层41上的工序。

    3维器件的制造方法
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1256791A

    公开(公告)日:2000-06-14

    申请号:CN99800189.9

    申请日:1999-02-23

    Abstract: 本发明的3维器件的制造方法,包括在透光性的基板1上形成分离层2、中间层3和第1被转印层41有机同样在透光性的基板1上形成分离层2、中间层3和第2被转印层42的工序、在与被转印层41的基板1相反侧通过粘接层5将基板(转印侧基板)21接合的工序、向分离层2照射照射光7利用磨蚀在分离层2的层内和/或界面发生剥离从而使被转印层41从基板1上脱离下来转印到基板21上的工序、在与被转印层42的基板1相反侧通过导电性粘接层22将被转印层41接合的工序有机和上述一样向分离层2照射照射光7使被转印层42从基板1上脱离下来从而转印到被转印层41上的工序。

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