使用红外线的半导体工件的温度测量和校正的技术

    公开(公告)号:CN106165079A

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201580016349.7

    申请日:2015-03-11

    Abstract: 揭露一种在处理室中测量工件温度的改良系统与方法。因为硅在红外线光谱带中具有非常低的放射率,所以会在工件的至少一部分上配置涂布层。涂布层可为石墨或任何其他可易于应用的材料,且涂布层在红外线光谱中对于温度具有相对恒定的放射率。在一实施例中,将石墨涂布层涂布至工件的一部分,使得工件的温度可通过观察涂布层的温度而被测量。此技术可用以校准处理室、验证处理室内的操作条件或发展制造工艺。

    具有改良温度均匀性的加热平台

    公开(公告)号:CN105981134A

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201580008264.4

    申请日:2015-02-11

    CPC classification number: H05B3/26 H01L21/67103

    Abstract: 本发明大体上描述一种具有改良温度均匀性的加热平台。各种实例提供平台部分,其具有与其热耦合的金属化层。电接触件可连接到金属化层并被配置成传导用于加热金属化层以及平台部分的电流。电接触件可包含电导体以及电阻加热元件,电阻加热元件被配置成当电流流过其时将加热,从而产生减少从平台部分吸收到电接触件中的热量的热块。

    用于基板温度量测的气体耦合探针基板基板

    公开(公告)号:CN105659371A

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201480055162.3

    申请日:2014-09-08

    Abstract: 本发明大体上描述了在半导体装置制造期间用于基板基板测量基板的温度的低压温度传感器。各项实施例描述了具有安置在压板的介电板内的开口的气室,其中密封件安置在气室中的开口周围,使得气室中的开口可以抵着基板密封。此外,温度传感器以及弹簧安置在气室中,所述弹簧经偏置以将温度传感器放置成与基板接触。另外,提供了经配置以利用低压气体对气室加压以便增加基板与温度传感器之间的热导率的气体源。

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