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公开(公告)号:CN100494520C
公开(公告)日:2009-06-03
申请号:CN200580010595.8
申请日:2005-03-31
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 森勇介
CPC classification number: C30B9/10 , C30B29/403 , C30B29/406 , Y10T117/1092 , Y10T117/1096
Abstract: 本发明提供了一种制造第III族元素氮化物晶体的方法,使用该方法可以提高生长速率,并且在短时间内生长出较大的高质量晶体,还提供其中所用的制造装置以及使用该方法和该装置得到的半导体元件。该方法是一种制造第III族元素氮化物晶体的方法,其包括使含有第III族元素、氮及碱金属和碱土金属中的至少一种的材料溶液在含氮气体的气氛中加压加热,以使材料溶液中的氮和第III族元素相互反应生长晶体的晶体生长过程。该方法还包括在晶体生长过程之前制造材料溶液的材料制造过程,制造方式是在含氮气体的气氛中将环境温度和环境压力的至少之一设置到高于晶体生长过程的条件,从而使氮可以溶解在含有第III族元素及碱金属和碱土金属中的至少一种的熔体中。本发明的方法可使用例如图7所示的制造装置进行。
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公开(公告)号:CN1930327A
公开(公告)日:2007-03-14
申请号:CN200580008118.8
申请日:2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 森勇介
CPC classification number: C30B29/403 , C30B9/10 , C30B29/406 , C30B35/00 , Y10T117/1064 , Y10T117/1096
Abstract: 本发明提供一种可以制造高品质结晶的III族元素氮化物结晶的制造装置以及III族元素氮化物结晶的制造方法。使用本发明的装置进行的结晶生长例如可以按如下的方法进行。向反应容器(120)内导入结晶原料(131)以及含氮气体,用加热器(110)进行加热,并在加压气氛下使结晶生长。上述气体从气体供给装置(180)经由上述反应容器的气体导入口而导入上述反应容器(120)内,随后从上述反应容器的气体排出口排到耐压容器(102)的内部。由于上述气体不经由耐压容器(102)便直接导入反应容器(120),因而可以防止附着在耐压容器(102)等处的杂质混入到结晶生长的场所。另外,因为上述气体在反应容器(120)内流动,所以不会发生诸如蒸发的碱金属等在气体导入口等处的凝集、以及向气体供给装置(180)等处的流入等问题。其结果,可以提高所得到的III族元素氮化物结晶的质量。
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公开(公告)号:CN112635543A
公开(公告)日:2021-04-09
申请号:CN202011005460.5
申请日:2020-09-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供一种在实现高载流子浓度的同时、位错低且电阻低的III族氮化物基板。III族氮化物基板在经过研磨的面内,具有显示第1杂质浓度的第1区域和显示低于第1杂质浓度的第2杂质浓度的第2区域,第1区域的第1位错密度低于第2区域的第2位错密度。
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公开(公告)号:CN110714190A
公开(公告)日:2020-01-21
申请号:CN201910617944.6
申请日:2019-07-09
Applicant: 国立大学法人大阪大学 , 松下电器产业株式会社
IPC: C23C16/34 , C23C16/455
Abstract: 本发明提供一种低电阻且可控制晶格常数的III族氮化物基板。III族氮化物基板具有III族氮化物的基材部,所述III族氮化物的基材部具有表面、背面、和在表面与背面之间的内层,基材部的表面的碳浓度比内层的碳浓度高。III族氮化物结晶的制造方法中,从III族氮化物结晶的生长初期至生长中期,使III族元素氧化物气体与生长后期相比高浓度地生成,并高浓度地供给至育成室,并且将含碳元素气体高浓度地供给至育成室,在III族氮化物结晶的生长后期,使III族元素氧化物气体与生长初期至生长中期相比低浓度地生成,并低浓度地供给至育成室,并且将含碳元素气体低浓度地供给至育成室。
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公开(公告)号:CN101558188B
公开(公告)日:2012-08-29
申请号:CN200880001092.8
申请日:2008-03-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L31/03044 , C30B9/10 , C30B11/12 , C30B19/02 , C30B29/403 , C30B29/406 , G02B1/02
Abstract: 本发明提供晶体生长速度快、可以获得高质量的晶体的III族元素氮化物晶体的制造方法;以及III族元素氮化物晶体。本发明是如下的制造方法,即,将III族元素、碱金属以及III族元素氮化物的晶种加入晶体生长容器中,在含氮气体气氛下,将晶体生长容器加压加热,在含有III族元素、碱金属以及氮的熔液中使III族元素以及氮反应,以晶种作为核来生长III族元素氮化物晶体,其中,在将晶体生长容器加压加热之前,添加沸点高于碱金属的熔点的烃。
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公开(公告)号:CN100567596C
公开(公告)日:2009-12-09
申请号:CN200580005839.3
申请日:2005-12-26
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 国立大学法人大阪大学
CPC classification number: C30B29/36 , C30B9/00 , C30B9/10 , Y10T117/1068 , Y10T117/1072 , Y10T117/1088
Abstract: 提供一种可以以低成本制造大型的碳化硅(SiC)单晶的制造方法。通过将硅(Si)和碳(C)溶解在碱金属助熔剂中并使它们反应,使碳化硅单晶生成或生长。作为上述碱金属,优选为锂(Li)。根据该方法,即使是在例如1500℃以下的低温条件下,也可以制造碳化硅单晶。将通过本发明的方法得到的碳化硅单晶的一个例子显示在图3(B)的照片上。
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公开(公告)号:CN100466178C
公开(公告)日:2009-03-04
申请号:CN200480038996.X
申请日:2004-12-22
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 森勇介
IPC: H01L21/208 , C30B11/06 , C30B19/02 , C30B29/38
CPC classification number: C30B9/00 , C30B9/10 , C30B25/02 , C30B29/40 , C30B29/403 , H01L21/02389 , H01L21/02392 , H01L21/02458 , H01L21/0254 , H01L21/02579 , H01L21/02625
Abstract: 本发明提供一种III族氮化物晶体的制造方法,其是在含有氮的气氛下,使含有选自Ga、Al以及In之中的至少一种III族元素和碱金属的助熔剂中含有Mg,然后在该助熔剂中进行III族氮化物晶体的生长,从而形成III族氮化物基板。由于Mg是III族氮化物晶体的P型掺杂材料,因此即使在晶体中混入Mg,晶体仍然表现出P型或半绝缘性的电特性,在电子器件的应用中不成问题。另外,通过使上述助熔剂含有Mg,在助熔剂中氮的溶解量增大,从而能够以快速生长速率进行晶体生长,晶体生长的重现性也得以提高。
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公开(公告)号:CN1922346A
公开(公告)日:2007-02-28
申请号:CN200580005839.3
申请日:2005-12-26
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 国立大学法人大阪大学
CPC classification number: C30B29/36 , C30B9/00 , C30B9/10 , Y10T117/1068 , Y10T117/1072 , Y10T117/1088
Abstract: 提供一种可以以低成本制造大型的碳化硅(SiC)单晶的制造方法。通过将硅(Si)和碳(C)溶解在碱金属助熔剂中并使它们反应,使碳化硅单晶生成或生长。作为上述碱金属,优选为锂(Li)。根据该方法,即使是在例如1500℃以下的低温条件下,也可以制造碳化硅单晶。将通过本发明的方法得到的碳化硅单晶的一个例子显示在图3(B)的照片上。
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公开(公告)号:CN113808926A
公开(公告)日:2021-12-17
申请号:CN202110645250.0
申请日:2021-06-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01L21/223
Abstract: 本发明提供III族氮化物晶体、III族氮化物基板及III族氮化物晶体的制造方法。提供具有优异的导电性和低吸光系数的III族氮化物晶体。III族氮化物晶体掺杂有N型掺杂剂和氢元素,N型掺杂剂的浓度为1×1020cm‑3以上,氢元素的浓度为1×1019cm‑3以上。
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公开(公告)号:CN113802185A
公开(公告)日:2021-12-17
申请号:CN202110645249.8
申请日:2021-06-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供III族氮化物晶体、III族氮化物基板及III族氮化物晶体的制造方法。提供具有优异的导电性和低吸光系数的III族氮化物晶体。III族氮化物晶体掺杂有N型掺杂剂和锗元素,N型掺杂剂的浓度为1×1019cm‑3以上,锗元素的浓度为N型掺杂剂的浓度的9倍以上。
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