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公开(公告)号：CN117871474A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311740973.4
申请日：2023-12-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供一种检测设备及检测方法，检测设备包括样品台、激光入射模块、成像模块、光谱检测模块和探针检测模块，样品台用于放置样品；激光入射模块用于发出入射光线射向样品；成像模块用于获取样品的图像信息；光谱检测模块接收入射光线入射至样品后返回的信号，以根据信号获取样品的光谱；探针检测模块，探针检测模块包括不导电探针和检测子模块，不导电探针检测过程中与样品保持预设距离范围设置，检测子模块用于接收探针的变化信号以获取样品的表面形貌。该检测设备能够克服接触性检测中探针损伤，提高检测效率及降低检测成本；且能够在获取样品表面形貌的同时采集当前点的光谱信息，实现“图谱合一”的更高精度检测。
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公开(公告)号：CN117146780A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311425149.X
申请日：2023-10-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种成像方法、终端设备及介质，该方法包括：获取所述成像系统采集的可见光图像、短波红外图像、可见光偏振度图像以及短波红外偏振度图像中的一个或者多个，作为待检测图像；在所述待检测图像为多个时，将多个所述待检测图像进行图像融合，得到成像结果，否则，将所述待检测图像作为成像结果。本发明能够实现高质量的多模态成像。
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公开(公告)号：CN119681475A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411924703.3
申请日：2024-12-25
Applicant: 季华实验室
IPC: B23K26/70 , B23K26/0622 , B23K26/064 , B23K26/082 , G01B11/02
Abstract: 本申请公开了一种激光修复监测装置、方法、存储介质及程序产品，涉及激光修复技术领域，装置包括：工控系统；脉冲激光器，脉冲激光器与工控系统通信连接，工控系统控制脉冲激光器发出修复激光；激光修复光路，修复激光经过激光修复光路会聚至样品，对样品进行修复；检测模块，检测模块与工控系统通信连接，检测模块发出的检测光线经过激光修复光路到达样品的修复位置，从修复位置经过激光修复光路反射回检测模块中；检测模块中包括探测器，探测器实时探测反射的检测光线。本申请能够实现激光修复过程的实时监测，提高激光修复效果。
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公开(公告)号：CN119395001A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202510000423.1
申请日：2025-01-02
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种光纤探头、光纤LIBS远程探测系统及方法，涉及激光探测技术领域，光纤探头包括：外壳，以及沿激光入射方向依次设置在外壳内的准直镜、聚焦镜和二次曲面反射腔；二次曲面反射腔包括上端面和下端面，下端面与样品接触，上端面与聚焦镜接触；下端面的中心为聚焦镜的焦点，且聚焦镜的焦点与二次曲面反射腔的第一焦点重合；在光谱激发阶段，激光入射后经准直镜准直，由聚焦镜聚焦在样品表面，激发产生等离子体，二次曲面反射腔对等离子体产生空间约束；在光谱收集阶段，等离子体产生的辐射光直接被聚焦镜会聚收集，或经过二次曲面反射腔被反射至聚焦镜会聚收集。本申请提高了光纤LIBS探测的灵敏度，且实现了自动聚焦。
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公开(公告)号：CN118937723A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411200198.8
申请日：2024-08-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种原子力探针固定装置及控制方法、原子力显微镜、介质，涉及显微技术领域，包括：探针支撑座；探针，探针安装在探针支撑座的前端凹槽内；压力传感器，压力传感器安装在探针支撑座的尾部沟槽内；压紧簧片，压紧簧片位于探针下方，将探针夹紧；探针旋转支座，探针支撑座固定在探针旋转支座的下方；旋转电机，旋转电机与探针旋转支座之间连接，旋转电机的转动使得探针旋转支座的倾角发生变化。本申请实现了拓展原子力显微镜适用的样品种类的技术效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117450941B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202311467025.8
申请日：2023-11-03
Applicant: 季华实验室
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种透明样品多点厚度监测方法、终端设备及介质，该方法包括：控制光纤光源发射的照明信号经由Y型光纤和阵列透镜探头，对待测样品进行照射；控制所述阵列多通道光谱检测模块，采集所述待测样品表面反射的多通道光谱干涉数据，并确定所述多通道光谱干涉数据对应的目标光谱干涉数据；根据所述目标光谱干涉数据，获取所述待测样品的样品厚度。本发明能够实现高效且低成本的样品厚度多点测量。
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公开(公告)号：CN117825767B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410252945.6
申请日：2024-03-06
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作，进而降低单分子器件的电学检测难度。
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公开(公告)号：CN117450941A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311467025.8
申请日：2023-11-03
Applicant: 季华实验室
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种透明样品多点厚度监测方法、终端设备及介质，该方法包括：控制光纤光源发射的照明信号经由Y型光纤和阵列透镜探头，对待测样品进行照射；控制所述阵列多通道光谱检测模块，采集所述待测样品表面反射的多通道光谱干涉数据，并确定所述多通道光谱干涉数据对应的目标光谱干涉数据；根据所述目标光谱干涉数据，获取所述待测样品的样品厚度。本发明能够实现高效且低成本的样品厚度多点测量。
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公开(公告)号：CN117146780B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311425149.X
申请日：2023-10-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种成像方法、终端设备及介质，该方法包括：获取所述成像系统采集的可见光图像、短波红外图像、可见光偏振度图像以及短波红外偏振度图像中的一个或者多个，作为待检测图像；在所述待检测图像为多个时，将多个所述待检测图像进行图像融合，得到成像结果，否则，将所述待检测图像作为成像结果。本发明能够实现高质量的多模态成像。
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公开(公告)号：CN116106291B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202310351238.8
申请日：2023-04-04
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明涉及样品光谱检测技术领域，特别涉及一种样品检测设备及系统，在每一个样品放置区域上分别放置一个待检测的液态样品，然后通过光谱收发器将第一射出光束射至液态样品，并经液态样品反射之后形成反射光束，反射光束再从第一收发端进入光谱收发器并从第二收发端射出至一检测机构，最后再利用检测机构对反射光束进行检测，使得本发明采用对液态样品反射的反射光束进行检测的方式能够准确的得到液态样品的检测结果，解决了相关技术在对液态农产品进行检测时，存在无法准确获得样品的检测结果的缺陷的技术问题。
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