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公开(公告)号：CN107766655B
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN201710994392.1
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供一种电磁继电器永磁贮存退化表征参数的确定方法，包括如下步骤：实现电磁继电器动态特性仿真；建立永磁的贮存退化模型；将试验的数据采集时刻代入永磁贮存退化模型中，得到所对应的永磁贮存退化状态；按照各时刻永磁贮存退化状态修改电磁系统仿真模型相应参数，实现永磁贮存退化的注入；分别对注入了永磁不同贮存退化程度的电磁继电器仿真模型进行动态特性仿真；对所述外特性仿真退化数据进行拟合，并分别构建各外特性的贮存退化模型；对所构建的外特性贮存退化模型进行趋势分析；确定所选定的输出特性是否为电磁继电器永磁贮存退化表征参数。本发明解决了电磁继电器在贮存过程中无法直接监测其永磁退化程度的问题。
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公开(公告)号：CN108647458B
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201810470417.2
申请日：2018-05-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品退化建模方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法确定退化模型中随机影响系数的分布情况；同时基于机电产品试验样本的退化数据，估计出退化模型中固定影响系数的值；最后，根据所确定退化模型函数形式以及随机影响系数与固定影响系数，给出结合制造工艺数据的机电产品退化模型。本发明解决了目前的退化建模方法由于无法对由制造工艺所决定的随机影响系数进行量化表述，而需要对其分布情况进行主观假设的问题。
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公开(公告)号：CN107885930B
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201711082103.7
申请日：2017-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明提供一种继电器弹性金属材料加速贮存退化失效机理变化判别方法，包括如下步骤：对触簧系统弹性金属材料进行贮存退化试验并加测应力松弛数据；建立继电器动态特性仿真模型；通过修改模型的方式将弹性金属材料的贮存退化注入到仿真模型中，实现继电器的贮存退化仿真；基于所获取的仿真贮存退化数据及贮存失效阈值，估计不同应力等级下的继电器贮存伪寿命；根据失效机理一致判别准则及继电器贮存伪寿命，判断不同加速应力等级下继电器的贮存退化失效机理是否发生改变。本发明所提方法能够准确找出导致继电器贮存失效机理改变的加速应力等级，可为确定继电器产品加速贮存试验中所能够加载的最大加速应力等级提供依据。
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公开(公告)号：CN109033555A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810725455.8
申请日：2018-07-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5018
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过建立继电器有限元仿真模型，结合工艺数据，获得继电器输出特性初始分布；然后，通过对继电器进行失效模式及失效机理分析，结合继电器输出特性初始分布及贮存退化试验实测数据，建立具有分布特性的继电器贮存退化模型，结合电路仿真分析方法将底层继电器的贮存退化数据转换为继电器类单机贮存退化数据；最后，利用最小二乘方法，得到继电器类单机分布参数的退化轨迹，结合失效阈值，实现对继电器类单机的贮存可靠性评估。本发明解决了因试验经费及试验样本制约而导致的继电器类单机贮存可靠性评估精度较低的问题。
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公开(公告)号：CN105914104B
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201610423179.0
申请日：2016-06-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开一种双永磁长短轭铁极面单稳态电磁机构，包括线圈、线圈骨架、转轴、衔铁、轭铁、永磁体，其中，所述轭铁包括左轭铁、右轭铁和下轭铁，所述左轭铁和右轭铁相对设置，所述线圈骨架以及所述线圈设置在所述左轭铁和所述右轭铁之间；所述下轭铁设置在所述左轭铁和所述右轭铁之间，并且位于所述线圈上方，所述下轭铁的两端分别通过永磁体与所述左轭铁和所述右轭铁相连；所述衔铁通过所述转轴可枢转地与所述下轭铁相连，位于所述下轭铁的上方，所述衔铁的两端分别具有第一极面和第二极面，用以分别和所述左轭铁以及右轭铁相接触。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107862130A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201711073253.1
申请日：2017-11-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5009 , G06F2217/76
Abstract: 一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，包括如下步骤：建立继电器动态特性仿真模型；基于动态特性仿真建立继电器输出特性快速计算模型；通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；按照拟合结果分散程度筛选出对输出特性影响大的前若干个设计参数；确定选定设计参数最长贮存期对应的退化量；以该退化量为中心值，通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；计算继电器的可靠度，并以可靠度大小为指标确定导致其贮存退化的内部关键因素。本发明可对继电器输出特性进行快速、准确计算。解决了在进行继电器贮存可靠性设计与优化时，难以准确界定导致其贮存退化关键因素的问题。
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公开(公告)号：CN107729660A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710994391.7
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5009
Abstract: 本发明是一种结合仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，包括如下步骤：根据原理图确定组成继电器类单机的n个继电器型号；对各型号继电器进行加速贮存退化试验并监测记录退化数据；建立继电器类单机的功能仿真模型；对继电器样本进行蒙特卡罗抽样，得到可构建m个继电器类单机的m个继电器样本组合；进行继电器类单机功能仿真并获取m组虚拟贮存退化数据；应用最小二乘法拟合虚拟贮存退化数据分布，确定最优分布类型；拟合分布参数的贮存退化轨迹；根据分布参数的拟合结果，计算继电器类单机在贮存时刻t的可靠度；根据所采用的加速应力类型，选择加速模型，进行贮存寿命外推。本发明直接在继电器类单机的设计阶段即可预计其贮存可靠性指标。
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公开(公告)号：CN107704704A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201710993399.1
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5009 , G06F2217/16
Abstract: 本发明公开一种基于贝叶斯理论的继电器类单机贮存可靠性评估方法，包括如下步骤：获取可用于提高继电器类单机贮存可靠性评估结果准确度的相关数据；开展继电器类单机贮存退化试验，并获取贮存退化数据；通过EM迭代法将贮存可靠性先验信息转化为继电器类单机输出特性分布参数超参数的先验估计；基于贝叶斯理论，得到超参数的后验估计；根据超参数的后验估计，计算继电器类单机输出特性分布参数的期望值；对分布参数的期望值关于贮存时间t进行函数拟合；根据分布参数期望值的拟合结果，计算继电器类单机的贮存可靠度。本发明应用贝叶斯理论将其与实际试验数据相结合，实现对此类信息的有效利用，从而达到提高贮存可靠性评估准确性的目的。
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公开(公告)号：CN106202794A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610579488.7
申请日：2016-07-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种基于多场有限元仿真的继电器类单机输出特性获取方法。包括基于Simulink软件的继电器类单机功能仿真建模；通过多物理场有限元软件对单机组成继电器进行建模并计算其静、动态特性；应用Kriging法及变形能法建立各继电器动态特性快速计算模型；建立用于控制单机联合仿真工作的脚本文件，并根据单机设计与评估中不同的分析需要，控制各继电器动态特性快速计算模型与单机功能仿真模型完成继电器类单机的联合仿真。本发明将继电器有限元仿真、快速计算建模与单机功能仿真相结合，实现了各组成继电器输入参数波动对单机输出特性影响的高精度快速仿真分析。
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公开(公告)号：CN108710745B
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201810470432.7
申请日：2018-05-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品可靠性评估方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型的函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法得到退化模型中随机影响系数的k个集合；同时，基于机电产品试验样本的退化数据，通过多次迭代的方式估计出退化模型中固定影响系数的值；随后，根据所得到的k组随机影响系数集合、固定影响系数估计值以及所述机电产品的退化失效阈值，得到该产品的k个退化失效伪寿命；最后，基于得到的退化失效伪寿命，计算并给出该机电产品在各时刻的可靠度。本发明为解决小子样条件下的批次产品可靠性评价问题提供了有效手段。
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