公开(公告)号：CN103729632B

公开(公告)日：2016-11-02

申请号：CN201410028192.7

申请日：2014-01-22

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 高会军 ,  周亚飞 ,  张欢欢 ,  邱一帆 ,  张叶梅 ,  李志成 ,  孙昊

IPC: G06K9/00 ,  G06K9/32

Abstract: 一种基于连通区域滤波的圆形Mark点的定位方法，本发明涉及定位方法。本发明是要解决定位算法复杂，计算机内存需求大，检测时间长精度低及外界环境引起与模板匹配不成功对Mark的工艺要求高，产生变形圆形Mark点检测准确度达不到要求的问题，而提出一种基于连通区域滤波的圆形Mark点的定位方法。该方法是通过计算目标Mark点ROI区域；二得到目标Mark点边缘；三得到二值化ROI图像；四保留面积最大ROI连通区域；五保留面积ROI背景连通区域；六设计噪声滤波器；七得到滤波Canny边缘点；八得到最小外接矩形；九去除Canny边缘缺陷；十得到圆形Mark点的中心和半径参数。本发明应用定位方法领域。

公开(公告)号：CN103729655A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201410028467.7

申请日：2014-01-22

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 高会军 ,  张欢欢 ,  邱一帆 ,  周亚飞 ,  李茹 ,  李志成 ,  孙昊

IPC: G06K9/62 ,  G06T7/00

Abstract: 一种用于片式元件视觉定位的检测方法。本发明涉及片式元件的视觉定位检测领域。本发明是为了解决传统片式元件检测方法检测精度和鲁棒性差，对吸嘴吸取元件的精度要求高。本发明主要技术为采用光学照明系统获取元件图像，进行阀值分割得到二值化预处理后的图像，找到元件的等效椭圆对元件定位并得到元件旋转角度，标记连通区域，对元件的边缘点拟合分类，计算元件的中心坐标和旋转角度。本发明用于片式元件的视觉定位检测。

公开(公告)号：CN102101111B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201010572401.6

申请日：2010-12-03

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 高会军 ,  李志成 ,  宋春卫 ,  吴立刚

IPC: B07C5/10

Abstract: 基于光学检测的E型磁材分选方法，涉及一种基于光学检测的磁材分选方法。它解决现有的E型磁材的检测方法的检测效率低、检测精度差的问题。其方法是：对待测E型磁材进行拍照，获得E型磁材料图像，并对图像进行磁材边缘的提取、边缘的拟合以及长度的测量获得待测E型磁材的长度信息进而进行分选。为提高测量的精度，在方法中增加有图像去噪过程，包括Hough变换去噪和最小二乘拟合去噪；同时，为了提高拟合直线的质量，本方法应用亚像素求解技术并通过拟合直线获取待测E型磁材的边缘。本发明适用于E型磁材分选。