公开(公告)号：CN115831292A

公开(公告)日：2023-03-21

申请号：CN202211636912.9

申请日：2022-12-12

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨大智 ,  付饶 ,  由佳欣 ,  梁慧敏

IPC: G16C60/00 ,  G06F30/20 ,  G06F119/14 ,  G06F119/08 ,  G06F119/12

Abstract: 基于考虑温度的应力松弛模型的预测方法，金属材料性能领域，为了解决现有应力松弛模型预测出的金属材料的应力不准确的问题，建立考虑温度的应力松弛模型，获得j，k，l，b六个参数值；将j，k，l，b六个参数值带入一个考虑温度的应力松弛模型中，得到待输出的应力松弛模型，向待输出的应力松弛模型中输入金属材料的当前温度，预测出当前温度下金属材料的应力。它用于预测金属材料的应力。

公开(公告)号：CN109033555A

公开(公告)日：2018-12-18

申请号：CN201810725455.8

申请日：2018-07-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  林义刚 ,  郑博恺 ,  付饶 ,  司爽

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5018

Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过建立继电器有限元仿真模型，结合工艺数据，获得继电器输出特性初始分布；然后，通过对继电器进行失效模式及失效机理分析，结合继电器输出特性初始分布及贮存退化试验实测数据，建立具有分布特性的继电器贮存退化模型，结合电路仿真分析方法将底层继电器的贮存退化数据转换为继电器类单机贮存退化数据；最后，利用最小二乘方法，得到继电器类单机分布参数的退化轨迹，结合失效阈值，实现对继电器类单机的贮存可靠性评估。本发明解决了因试验经费及试验样本制约而导致的继电器类单机贮存可靠性评估精度较低的问题。

公开(公告)号：CN105914104B

公开(公告)日：2018-11-20

申请号：CN201610423179.0

申请日：2016-06-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  林义刚 ,  付饶 ,  由佳欣 ,  梁慧敏 ,  翟国富

IPC: H01H50/16 ,  H01H50/44

Abstract: 本发明公开一种双永磁长短轭铁极面单稳态电磁机构，包括线圈、线圈骨架、转轴、衔铁、轭铁、永磁体，其中，所述轭铁包括左轭铁、右轭铁和下轭铁，所述左轭铁和右轭铁相对设置，所述线圈骨架以及所述线圈设置在所述左轭铁和所述右轭铁之间；所述下轭铁设置在所述左轭铁和所述右轭铁之间，并且位于所述线圈上方，所述下轭铁的两端分别通过永磁体与所述左轭铁和所述右轭铁相连；所述衔铁通过所述转轴可枢转地与所述下轭铁相连，位于所述下轭铁的上方，所述衔铁的两端分别具有第一极面和第二极面，用以分别和所述左轭铁以及右轭铁相接触。

公开(公告)号：CN112133606A

公开(公告)日：2020-12-25

申请号：CN202011054241.6

申请日：2020-09-29

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 由佳欣 ,  姜姗 ,  李博 ,  冯祥东 ,  付饶

IPC: H01H50/56 ,  H01H50/54

Abstract: 本发明公开了一种减少直动式电磁接触器闭合回跳的静触头，所述静触头包括上静触头、下静触头、导电橡胶、约束弹簧，其中：所述静触头分为上静触头和下静触头两部分；所述上静触头的下端和下静触头的上端均设置有凹槽；所述导电橡胶嵌入上静触头和下静触头的凹槽内；所述约束弹簧套装在导电橡胶外侧，连接上静触头和下静触头。该静触头在不改变原电磁接触器的尺寸大小及内部结构的前提下，将刚性静触头转变成柔性静触头，使触头吸合过程末段有缓冲，有效减少触头回弹，从而减少电弧燃烧，提高接触器寿命，适用于直动式接触器。

公开(公告)号：CN107016141A

公开(公告)日：2017-08-04

申请号：CN201610153200.X

申请日：2016-03-17

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 邓杰 ,  叶雪荣 ,  林义刚 ,  付饶 ,  董宝旭 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开一种基于变化贡献率的电磁继电器分步容差优化方法，包括以下步骤：S1：确定容差优化的标准；根据关键因素与输出特性之间的关系以及实际加工能力，确定所述关键因素的公差范围；S2：确定所述关键因素的水平数；设计正交试验，计算每组所述正交试验的输出结果；求取各所述关键因素的贡献率；S3：将所述贡献率按照一定容差步长减小容差，获得所述关键因素的新公差范围；再次计算各所述关键因素的贡献率；S4：在步骤S3确定的所述新公差范围内求出对应的新公差范围的输出特性波动范围；S5：重复步骤S3‑S4的工作，直到所述输出特性波动范围满足容差优化标准，或者新公差范围达到加工精度下限，此时所述新公差范围即为分步容差优化的最终结果。

公开(公告)号：CN105866666A

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201610178427.X

申请日：2016-03-25

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  郑博恺 ,  付饶 ,  董宝旭 ,  叶雪荣 ,  林义刚

IPC: G01R31/327

CPC classification number: G01R31/3278

Abstract: 本发明公开了一种继电器类单机加速贮存试验测试装置，用于对多个继电器类单机进行加速贮存测试，每一继电器类单机均包括多个输入输出端子，其包括：多个恒温恒湿试验箱、智能报警系统、端子切换与控制电路、接触电阻测量电路、时间参数测量电路和上位机系统，其中：上位机系统分别与端子切换与控制电路和时间参数测量电路连接，上位机系统向端子切换与控制电路和时间参数测量电路发送参数设置命令、系统自检命令及开始测试命令；端子切换与控制电路连接在多个继电器类单机与接触电阻测量电路之间，接触电阻测量电路用于测试继电器类单机中每一个输入输出端子处的接触电阻值以及将测得的接触电阻值发送至上位机系统。