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公开(公告)号：CN114153001A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111661380.X
申请日：2021-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于检查货物中冻品的检查系统及检查方法，检查系统包括：第一驱动装置，安装在载体上，第一驱动装置包括第一支撑框架，第一支撑框架能够相对于载体绕相互垂直的第一轴线、第二轴线和第三轴线转动；可见光采集装置，设置在第一支撑框架上；第二驱动装置，安装在第一支撑框架上，并包括第二支撑框架，第二支撑框架被构造成能够根据可见光采集装置获取的可见光图像相对于第一支撑框架绕相互垂直的第四轴线和第五轴线转动；红外探测仪，设置在第二支撑框架上；以及控制装置。通过第一驱动装置调节可见光采集装置的角度获取目标的可见光图像，并通过该图像和第二驱动装置对红外探测仪进行调节以获取目标或目标局部区域的红外图像，从而基于红外图像确定目标内是否放置有冻品货物。
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公开(公告)号：CN113970567A
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202010711982.0
申请日：2020-07-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/203 , G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种背散射成像装置、控制方法及检查系统。背散射成像装置包括：射线源组件(10)，被配置为向扫描区域发出射线；背散射探测器阵列(21)，包括多个背散射探测器，且被配置为接收所述射线在扫描区域内的物体(40)发生背散射时的散射光子(52)；第一准直器组件(22)，包括与所述多个背散射探测器分别对应的多个第一准直通道(22b)，且设置在所述背散射探测器阵列(21)邻近所述扫描区域的一侧，被配置为对所述物体(40)背散射时的散射光子(52)进行约束，以使得所述多个背散射探测器分别接收所述物体(40)内对应深度的散射光子(52)；其中，所述多个第一准直通道(22b)的至少部分的准直角度可调。
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公开(公告)号：CN113252713B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110787122.X
申请日：2021-07-13
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提出一种臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法，涉及安检技术领域。本公开的一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和，横向探测位移探测设备，包括：位置标定机构，位于沿顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面，朝向位移探测器；和位移探测器，位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面，与位置标定机构的安装高度一致，朝向位置标定机构，被配置为获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，位移标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂。这样的臂架能够提高采用该臂架的移动式辐射探测设备的探测准确度。
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公开(公告)号：CN113238293A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110777668.7
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：辐射源（10）；探测器（30），被配置为探测所述辐射源（10）发出的辐射作用于被检的对象时的信号；和处理器（20），与所述辐射源（10）通讯连接，被配置为根据所述对象的类型确定与所述对象的类型对应的至少一种周期辐射组合，并在所述至少一种周期辐射组合中选择与所述对象的至少两个不同的部分分别对应的周期辐射组合，以及在所述对象被扫描期间，使所述辐射源（10）以被选择的周期辐射组合向对应的所述至少两个不同的部分发出辐射，其中，所述周期辐射组合为所述辐射源（10）在每个扫描周期内输出的至少一个辐射脉冲的时序排列。本公开实施例能够改善检查系统对被检对象的适应性。
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公开(公告)号：CN107797133A
公开(公告)日：2018-03-13
申请号：CN201610798762.X
申请日：2016-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/16
Abstract: 本发明提供了一种多能区信号处理装置及多能区辐射探测系统和方法。所述多能区信号处理装置可以包括：第一处理模块，配置为接收来自探测器的信号，并对接收到的信号进行处理以产生门控信号，其中门控信号的开启时段表示接收到的信号的幅度；以及第二处理模块，配置为从第一处理模块接收门控信号，根据门控信号的开启时段确定所述信号所属的能区，以针对多个能区中的每一个计算该能区中的信号数目。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104535592A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410854084.5
申请日：2014-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 本发明提供一种滤波装置和方法及一种物质探测装置和方法，所述滤波装置包括双能射线源，所述双能射线源用于发射高能射线和低能射线；滤波片，位于所述双能射线源的射线出射处，由高Z材料制成，用于对出射的高能射线和低能射线进行滤波。本发明能够通过对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，显著减少检测能谱中的低能成分，实现更大可分性系数的物质探测方式，从而获得更优越的系统分类检测性能。
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公开(公告)号：CN119827535A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411997309.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/06 , G01N23/087
Abstract: 一种多能成像系统及方法，多能成像系统包括：多能谱辐射源（10），被配置为产生多种射线辐射中的至少一种，所述多种射线辐射具有不同最大能量的能谱；多能谱探测器（20），能够获得射线辐射的能谱中的多种能量成分中的至少一种；和处理器（30），与所述多能谱辐射源（10）和所述多能谱探测器（20）信号连接，被配置为获得穿过被检对象的所述多种射线辐射和所述多种能量成分之间的至少两种配合方式的能谱图像数据。
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公开(公告)号：CN119743683A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411958219.2
申请日：2024-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种飞点成像装置图像校正方法，涉及安全检测领域，用以提高飞点成像装置的成像质量。方法包括以下步骤：根据飞点成像装置的飞轮的第一振幅计算校正参数；判断校正参数是否大于第一预设参数；如果校正参数大于第一预设参数，则对飞点成像装置扫描得到的图像进行校正。上述技术方案，可以对飞点成像装置扫描获得的图像进行校正，以保证成像质量。
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公开(公告)号：CN119644394A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411999219.7
申请日：2024-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 本公开提供了一种辐射敏感探测器，可以应用于辐射检查技术领域和辐射检查设备技术领域，所述辐射敏感探测器包括多个像素，所述多个像素中的至少一个像素包括：辐射敏感元件，用于接收射线光子，且将所述射线光子转换并输出为模拟信号；模数转换元件，与所述辐射敏感元件电连接，所述模数转换元件用于将所述模拟信号转换为数字信号；其中，所述模拟信号包括多个细分模拟信号，所述细分模拟信号经由采用空间维度和时间维度中的至少一个切分并转换所述射线光子形成。本公开还提供了一种辐射检查设备。
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公开(公告)号：CN113920208B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202010661255.8
申请日：2020-07-10
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T9/00 , G06V10/762 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/088
Abstract: 本公开实施例提供了一种图像处理方法及装置、计算机可读存储介质和电子设备。该方法包括：获取待测原始图像；编码所述待测原始图像，生成所述待测原始图像的目标特征图；根据正样本原始图像获得与所述目标特征图匹配的第一目标解码向量，所述正样本原始图像为无异常区域的图像；解码所述第一目标解码向量，获得所述待测原始图像的待测生成图像。通过本公开实施例提供的技术方案，通过无异常区域的正样本原始图像来获得待测原始图像的待解码的解码向量，可以更加准确地重构待测原始图像，避免重构待测原始图像的异常区域。
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