辐射成像系统和方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113281357B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202110781545.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法,涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括:光电二极管探测器,被配置为接收来自射线源的射线,并生成第一探测信号;第一成像设备,与光电二极管探测器连接,被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据;计数探测器,位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧,被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线,生成第二探测信号;计数成像设备,与计数探测器连接,被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据;和图像融合装置,被配置为根据第一成像数据和计数成像数据,获取第一融合图像,提高辐射探测质量。

    辐射成像系统和方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113281357A

    公开(公告)日:2021-08-20

    申请号:CN202110781545.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法,涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括:光电二极管探测器,被配置为接收来自射线源的射线,并生成第一探测信号;第一成像设备,与光电二极管探测器连接,被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据;计数探测器,位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧,被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线,生成第二探测信号;计数成像设备,与计数探测器连接,被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据;和图像融合装置,被配置为根据第一成像数据和计数成像数据,获取第一融合图像,提高辐射探测质量。

    暗室式安检设备以及方法

    公开(公告)号:CN105277577B

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201510796132.4

    申请日:2015-11-18

    Abstract: 本发明提供一种暗室式安检设备和使用该安检设备进行检查的方法。暗室式安检设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件,壳体内部的部件包括:采样系统,采样系统包括传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置,其中X射线检测装置用于确定被检物体在到达采样系统内的相应位置,以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置;样品处理系统;其中,采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样和检测,不拆包,不破坏待检物品,适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。

    臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法

    公开(公告)号:CN113252713A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110787122.X

    申请日:2021-07-13

    Abstract: 本公开提出一种臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法,涉及安检技术领域。本公开的一种臂架,包括:顶臂;纵臂;和,横向探测位移探测设备,包括:位置标定机构,位于沿顶臂的延伸方向的第一端的区域,固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面,朝向位移探测器;和位移探测器,位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域,固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面,与位置标定机构的安装高度一致,朝向位置标定机构,被配置为获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况,生成位移数据并输出;其中,位移标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂。这样的臂架能够提高采用该臂架的移动式辐射探测设备的探测准确度。

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