半导体探测器的信号处理方法及装置

    公开(公告)号:CN105242300B

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201510417228.5

    申请日:2015-07-15

    Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置,包括:获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系;根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间,所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间;在半导体探测器数据采集时,根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷,降低了本底噪声的影响,进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率,改善了峰康比。

    飞行模式CdZnTe巡检系统和巡检方法

    公开(公告)号:CN105510952A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201510983070.8

    申请日:2015-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种飞行模式CdZnTe巡检系统和巡检方法,涉及辐射探测领域。其中,巡检系统包括CdZnTe谱仪和飞行器,飞行器携带CdZnTe谱仪飞行,以实现飞行巡检功能,提高核辐射监测的工作效率。并且,CdZnTe谱仪能量分辨率高、体积小、重量轻、便携性好,与飞行器结合后,测量精度高、续航时间长,可以飞临核事故现场进行作业,巡检事故现场,降低人员进入事故现场接受的辐射剂量,为救援提供支持。

    半导体探测器的信号处理方法及装置

    公开(公告)号:CN105242300A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510417228.5

    申请日:2015-07-15

    CPC classification number: G01T1/247 G01T1/241 H04N5/32

    Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置,包括:获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系;根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间,所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间;在半导体探测器数据采集时,根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷,降低了本底噪声的影响,进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率,改善了峰康比。

    半导体探测器的信号处理方法及装置

    公开(公告)号:CN104111470A

    公开(公告)日:2014-10-22

    申请号:CN201410336256.X

    申请日:2014-07-15

    CPC classification number: G01T1/247 G01T1/241 H04N5/32

    Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置,包括:获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系;根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间,所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间;在半导体探测器数据采集时,根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷,降低了本底噪声的影响,进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率,改善了峰康比。

    辐射探测器
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103972323A

    公开(公告)日:2014-08-06

    申请号:CN201310038954.7

    申请日:2013-01-31

    CPC classification number: H01L31/115 G01T1/241

    Abstract: 公开了一种辐射探测器,该辐射探测器包括:用于感测辐射的半导体晶体,所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;位于顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的至少一个表面上的阳极电极;以及位于顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的其余表面中的至少一个表面上的阴极电极,其中,阳极电极为条带形状,阴极电极平面形状,并且阴极电极与阳极电极平行地延伸大致等于阳极电极的长度尺寸。该电极结构可以提高辐射探测器的能量分辨率和探测效率。

    一种半导体探测器
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103235332A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201310149397.6

    申请日:2013-04-26

    Abstract: 本发明提供一种半导体探测器,该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极;所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面;所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜;所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上,所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上,所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上;所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比,所述半导体探测器能够提高能量分辨率。

    同面电极光电二极管阵列及其制作方法

    公开(公告)号:CN105448945B

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201511010038.8

    申请日:2015-12-29

    Abstract: 公开了一种同面电极光电二极管阵列及其制作方法。在低电阻率衬底,高电阻率外延类型的外延硅片的顶侧,形成第一导电类型重掺杂区域和第二导电类型掺杂区域,分别为光电二极管的阴极和阳极。该结构包括在阳极和阴极之间形成的沟槽结构,该沟槽结构可由空隙、绝缘材料、传导结构、反射材料和离子注入构成;也可以包括在阳极和阴极下方形成第一导电类型重掺杂区域、绝缘隔离层或带绝缘层的传导结构等。

    光电二极管器件、光电二极管探测器及其制造方法

    公开(公告)号:CN106784071B

    公开(公告)日:2018-09-28

    申请号:CN201611121395.6

    申请日:2016-12-07

    Abstract: 公开了光电二极管器件、光电二极管探测器及其制造方法。根据实施例,一种光电二极管器件可以包括:在衬底的第一表面上生长外延层,其中,该外延层被第一类型轻掺杂,且在衬底中形成与该第一类型轻掺杂的外延层相接触的第一类型重掺杂区;从衬底的与第一表面相对的第二表面一侧,减薄衬底,并露出第一类型重掺杂区;从衬底的第二表面一侧,对第一类型重掺杂区进行构图,以在其中形成沟槽,该沟槽穿透第一类型重掺杂区而进入外延层中,其中,构图后的第一类型重掺杂区充当光电二极管器件的第一电极区域;以及在沟槽底部形成第二类型重掺杂的区域,该区域充当光电二极管器件的第二电极区域。

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