三轴可调倾角的非球面加工夹具

    公开(公告)号:CN101823230A

    公开(公告)日:2010-09-08

    申请号:CN201010149231.0

    申请日:2010-04-12

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 三轴可调倾角的非球面加工夹具,涉及一种夹具。提供一种通用性好、结构紧凑、定位精度高、使用方便的三轴可调倾角的非球面加工夹具。设有工作台、中间板、底座、回转底板、工作台回转电机、中间板回转电机、底板回转电机、工作台回转电机底座、中间板回转电机底座、底板回转电机底座、齿轮、齿条、螺钉、轴承座、盖板、轴承、轴承挡圈、密封圈、联轴器、工作台主动轴、工作台从动轴、中间板主动轴、中间板从动轴和底板回转轴。其结构特点为该夹具采用三个电机驱动,可实现非球面工件,尤其是楔形非球面工件加工时所需的空间角度的倾斜装夹,具有结构紧凑、定位精度高、使用方便等优点,因此能满足非球面工件加工时的装夹需要。

    大口径平面光学元件的快速抛光横移式加工方法

    公开(公告)号:CN101670541A

    公开(公告)日:2010-03-17

    申请号:CN200910112548.4

    申请日:2009-09-15

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 大口径平面光学元件的快速抛光横移式加工方法,涉及一种大口径平面光学元件。提供一种大口径平面光学元件的快速抛光横移式加工方法。采用数控抛光机床,设有抛光盘、抛光垫、真空薄膜、工件旋转轴、修整轮、修整轮轴和工作横移轴。选择加工方式,设定加工参数,利用空间坐标变换和傅立叶级数计算工件相对抛光盘速度的步骤;利用压强分布表面模型计算工件横移过程中的压强分布,对工件一个横移加工周期进行线性切割,结合普林斯顿公式得到工件不同半径上点的材料去除率的步骤;计算工件上不同半径上点露出抛光盘和落入不同压强区域的几率,采用比值对所得材料去除率加权赋值,预测加工后工件面型变化趋势,加工后检测结果与预测相符合的步骤。

    精密磨床的机床防护系统
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101543977A

    公开(公告)日:2009-09-30

    申请号:CN200910111636.2

    申请日:2009-04-30

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 精密磨床的机床防护系统,涉及一种精密磨床。提供一种可实现密闭、洁净无污染的加工环境,以及保护磨床精密零部件免受污染或刮伤的精密磨床的机床防护系统。设有防护罩、左挡板、右挡板、软垫、刮屑毛刷、床身导轨防护罩、丝杆护套、线轨防护罩和丝杆防护罩;防护罩安装在磨床的外围,左挡板、右挡板分别安装在工作台的左右两侧,软垫设在左挡板上,刮屑毛刷设在左挡板和右挡板的侧面;床身导轨防护罩设在工作台床身导轨上;丝杆护套设在立柱丝杆的顶端;线轨防护罩设在立柱底座导轨上,丝杆防护罩设在立柱底座丝杆上。

    高精度大尺寸平面磨床
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101367182A

    公开(公告)日:2009-02-18

    申请号:CN200810071922.6

    申请日:2008-10-10

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 高精度大尺寸平面磨床,涉及一种适用于磨削工件平面的机床或装置。提供一种实现磨床总体运动平稳、刚性好、定位精度高、加工精度高、加工尺寸大、整体性能好的高精度大尺寸平面磨床。设有立柱底座、z轴伺服电机、z轴带轮驱动机构、z轴直线导轨、z轴导轨滑块、立柱线轨支架、立柱、y轴带轮驱动机构、y轴伺服电机、y轴滚珠丝杆副、y轴直线导轨、砂轮电机、联轴器、动静压主轴、磨头、砂轮、外围钣金全防护罩、工作台、静压导轨、工作台床身、z轴滚珠丝杆副、x轴伺服电机、x轴带轮驱动机构和砂轮修整器。

    自由曲面工件的弹簧式拼块结构定位夹具

    公开(公告)号:CN101804606B

    公开(公告)日:2011-10-12

    申请号:CN201010115993.9

    申请日:2010-02-23

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 自由曲面工件的弹簧式拼块结构定位夹具,涉及一种定位夹具。提供一种弹簧式拼块结构定位夹具,实现通用性较好、可装夹尺寸大、定位精度较高、使用方便的自由曲面工件的弹簧式拼块结构定位夹具。设有底座、上盖板、顶针、负载弹簧、左支架、右支架、顶针夹紧架、复位弹簧、锁紧螺钉和固定顶块。上盖板安装在底座上,顶针穿过负载弹簧安装在上盖板上,左支架和右支架均固定在底座上,顶针夹紧架安装在左支架和右支架中,复位弹簧安装在顶针夹紧架和右支架中间,锁紧螺钉安装在底座上,拧紧锁紧螺钉时,可推动顶针夹紧架向右移动,并压缩复位弹簧;当松开锁紧螺钉时,被压缩的复位弹簧会将顶针夹紧架向左推回;固定顶块通过螺钉安装在上盖板上。

    一种直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置

    公开(公告)号:CN102175177A

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN201110038753.8

    申请日:2011-02-16

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置,涉及一种光学非球面元件面形检测装置。设X/Y/Z轴直线电机、X/Y/Z轴直线导轨、底座、X/Y/Z轴工作台、支柱、横梁、A/C轴工作台、测头固定座、测头和A/C轴DD马达。X/Y/Z轴工作台由X/Y/Z轴直线电机驱动,X轴工作台位于底座上;A轴工作台由A轴DD马达驱动,C轴工作台由C轴DD马达驱动,C轴DD马达位于X轴工作台上,C轴DD马达可随X轴工作台做前后方向的移动;Z轴工作台位于Y轴工作台上,A轴DD马达位于Z轴工作台上,A轴DD马达可随Y轴工作台和Z轴工作台做左右和上下运动。能通过五轴的联动调整测头与工件表面的相对位置,保证测头与工件表面垂直。

    用于非球面光学元件面形检测的分度装置

    公开(公告)号:CN101655356B

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200910112505.6

    申请日:2009-09-08

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 用于非球面光学元件面形检测的分度装置,涉及一种精确控制旋转角位移的分度装置。提供一种可以实时反馈、补偿运动量,实现精确控制角位移的用于非球面光学元件面形检测的分度装置。包括控制系统和分度装置两部分,控制系统设有工控机、接口电路板、伺服放大器、伺服电机、角度编码器和编码器数显表。分度装置设有底座、上轴承座、主轴、电机座、深沟球轴承、主轴同步带轮、电机同步带轮、同步带、旋转盘和夹具。

    精密磨床的机床防护系统
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101543977B

    公开(公告)日:2010-10-13

    申请号:CN200910111636.2

    申请日:2009-04-30

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 精密磨床的机床防护系统,涉及一种精密磨床。提供一种可实现密闭、洁净无污染的加工环境,以及保护磨床精密零部件免受污染或刮伤的精密磨床的机床防护系统。设有防护罩、左挡板、右挡板、软垫、刮屑毛刷、床身导轨防护罩、丝杆护套、线轨防护罩和丝杆防护罩;防护罩安装在磨床的外围,左挡板、右挡板分别安装在工作台的左右两侧,软垫设在左挡板上,刮屑毛刷设在左挡板和右挡板的侧面;床身导轨防护罩设在工作台床身导轨上;丝杆护套设在立柱丝杆的顶端;线轨防护罩设在立柱底座导轨上,丝杆防护罩设在立柱底座丝杆上。

    磨床的拼块式薄膜节流静压导轨结构

    公开(公告)号:CN100560294C

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200810071351.6

    申请日:2008-07-03

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 磨床的拼块式薄膜节流静压导轨结构,涉及一种磨床,尤其是涉及一种用于精密超精密磨床中的拼块式薄膜节流静压导轨结构。提供一种可实现加工装配简单、调整方便、刚性好的磨床的拼块式薄膜节流静压导轨结构。设有工作台、上导轨、下导轨、调整垫、导轨压板、丝杆螺母座、弹性薄膜机构、油路管道和螺钉。上导轨与工作台连接,下导轨、调整垫与导轨压板连接,上导轨安装在导轨压板与下导轨之间,丝杆螺母座与工作台连接;弹性薄膜结构通过油路管道与上导轨连接,弹性薄膜机构通过油路管道与工作台、丝杆螺母座连接,组成静压导轨的薄膜节流装置。

    轴对称非球面光学元件面形的检测方法

    公开(公告)号:CN101571382A

    公开(公告)日:2009-11-04

    申请号:CN200910111953.4

    申请日:2009-06-09

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 轴对称非球面光学元件面形的检测方法,涉及一种非球面光学元件的检测。提供一种简单、快捷、准确的轴对称非球面光学元件面形的检测方法。将光学元件固定在检测平台上,测出非球面镜顶点坐标,得通过顶点的Z轴方向的直线为轴对称非球面镜的对称轴,使光学元件顶点与检测平台中心在同一X轴上;以光学元件半径为半截面线的测量距离,确定每条半截面线扫描的步数;以光学元件的顶点为起点沿X轴方向逐点扫描被检测光学元件表面,直至半截面线全部检测完毕;测完一条半截面线后,探针回到平台的中心等待下次测量;旋转平台,移动XY轴使在XY平面上的探针坐标与光学元件顶点坐标一致,从起点开始检测,测得另一条半截面线,逐一测量,即完成检测。

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