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公开(公告)号：CN115498998B
公开(公告)日：2023-02-21
申请号：CN202211419950.9
申请日：2022-11-14
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于相位误差自动校正的高频晶体振荡器，包括高频晶体、负载电容、两个单刀双掷开关、环形振荡器、8分频电路、扭环形计数器、峰值检测器、缓冲器、数字模块、多路选择器和放大器，本发明在电路对高频晶体进行能量注入的同时，检测注入信号与晶体振荡信号之间的相位误差并自动校正，使相位误差始终小于45°。本发明保证了高频晶体内部能量持续高效的线性增长，大大降低晶体达到稳定振荡幅度所需的启动时间，实现快速启动；且基于相位误差自动校正技术，本发明在极大地降低启动时间的同时，大幅降低了产生能量注入信号的信号源频率精度要求，本发明显著地提升了芯片良率。
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公开(公告)号：CN115295065A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202211224306.6
申请日：2022-10-09
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明涉及超大规模集成电路可测性设计领域，公开了一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路，电路核心结构位于中介层，包括灵活可配置模块FCM、控制信号配置模块和测试状态控制模块；FCM采用双路斜对称结构，实现水平方向及垂直方向的数据传输；控制信号配置模块连接所有FCM的控制信号，控制着所有FCM的数据传输方向以及导通和截断状态；测试状态控制模块控制着FCM和控制信号配置模块内部数据的移位和更新操作。本发明可满足多种场景芯粒的测试需求，实现对原有DFT测试逻辑的复用，满足芯粒即插即用的策略，提升测试的灵活性和可控性。
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公开(公告)号：CN114112077A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111420630.0
申请日：2021-11-26
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明提供了一种应用于大测温范围的温度传感器的SAR逻辑电路，温度传感器包括感温电路与SAR ADC电路，SAR逻辑电路是SAR ADC电路的组成部分；SAR逻辑电路包括3个TSPC寄存器阵列，寄存器阵列之间通过信号的传输相连接，寄存器阵列都由TSPC寄存器级联组成；TSPC寄存器结构包括TSPCR与电平恢复回路，能够改善信号的竞争问题，从而改善电路工作温度范围。本发明改善了SAR逻辑电路的工作温度范围，使工作温度范围扩大至‑150℃—200℃，应用于温度传感器时，能扩大温度传感器的测温范围。
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公开(公告)号：CN113346850A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110671608.7
申请日：2021-06-17
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种多次谐波抑制的高效射频功率放大器，包括输入匹配电路、栅极偏置电路、晶体管、漏极偏置电路、输出匹配电路、多次谐波抑制电路,是在射频功率放大器的输出网络中添加由多个步进阻抗谐振器组成的具有多次谐波抑制的低通滤波电路，一方面可以实现较好的二至五次谐波抑制和提升线性度；另一方面，输出匹配电路的基波频率具有较低的插入损耗，并且添加的多次谐波抑制电路不会影响输出匹配的带宽。
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公开(公告)号：CN110570896B
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN201910701404.6
申请日：2019-07-31
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
IPC: G11C29/50 , G11C11/413
Abstract: 本发明提供一种面向弱故障的低电压SRAM测试方法，基于弱故障敏化机制，整合存储单元弱故障、译码器字线弱故障和写驱动位线弱故障对应的测试元素，同时引入棋盘数据背景并配合连续读操作，设计出一种算法复杂度仅为12N的新型测试算法，通过电路实现和验证表明该测试方法对这三种弱故障的故障覆盖率较现有测试方法有所提高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111510079A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010298601.0
申请日：2020-04-16
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于相关双采样的伪差分结构微弱电流积分电路，包括一个带输入共模反馈的电路的差分放大器A1、一个寄生等效电容Cp、一个哑电容Cdum、两个对称的输入共模反馈电容、两个对称的反馈电容、两个对称的自归零电容。本发明采用相关双采样电路将输入电流信号转换成保持电容上的电压，通过自归零电容存储放大器的失调和低频噪声信息。运用伪差分结构的电路来减少MOS开关工作时的电荷注入和时钟馈通效应。引入输入共模反馈电路来抑制放大器A1输入端的共模波动，减小因共模-差模变换导致的误差。
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公开(公告)号：CN108257645B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201810154805.X
申请日：2018-02-23
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明公开了一种用于低电压SRAM的稳定性故障测试方法，在低电压SRAM上增加测试电路，形成测试模式下低电压SRAM的位线BLB所需的浮动0和浮动1，能够准确测量低电压SRAM单元中的稳定性故障，同时，通过在低电压SRAM内注入稳定性故障，通过外加测试电路的方式来攻击该低电压SRAM，可以避免对内部低电压SRAM造成干扰，并可以减小交叉耦合的晶体管与电源或地之间稳定性故障的最小可检测电阻，以达到提高检测灵敏性的目的，测试方法，精确度高，设计巧妙，具有良好的前景。
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公开(公告)号：CN108758189B
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201711483582.3
申请日：2017-12-29
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明公开一种用于成像辐射计的扫描平台，包括T字形支架；第一直线位移机构，第二直线位移机构，油泵，连通所述直线位移机构和一油箱；控制器，其连接所述直线位移机构和油泵；以及上位机，其与所述控制器通过串口进行通信，所述上位机上设置有显示装置；所述直线位移机构包括：驱动机构，第一导轨，第一滑块，其滑动设置在所述第一导轨内，第二导轨，其设置在所述第一导轨上端，第二滑块，其滑动设置在所述第二导轨内，第三滑块，其连接在所述第二滑块上端，测距模块，其中，油泵通过一电磁阀与所述第二导轨的内部端头空间连通，所述电磁阀上设置有一流量计。本发明解决了扫面平台上滑台移动距离不精确的技术问题。
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公开(公告)号：CN119826995A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510329740.8
申请日：2025-03-20
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种温度传感器，包括：带隙电路，减法器，加法器，DAC模块，比较器以及SAR逻辑模块；带隙电路产生与温度成负相关的两个电压，将该两个电压输入至减法器，产生电压kΔVBE，k表示减法器的比例系数，将VBE2与kΔVBE输入至加法器，产生与温度无关的电压，将加法器输出的电压输入至DAC模块进行数模转换，得到DAC模块输出的电压VDAC，将VDAC与kΔVBE输出至比较器的输入端进行比较，比较器将比较结果输出至SAR逻辑模块中，SAR逻辑模块输出控制信号至DAC模块中，同时输出数字编码。
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公开(公告)号：CN119628419B
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510170707.5
申请日：2025-02-17
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种DC‑DC转换器的过零检测电路及过零检测方法，该电路包括过零检测比较电路、采样保持与电平移位电路、电压差值量化积分电路；过零检测比较电路通过比较电感电压和电源地判断电感电流是否过零并输出过零检测信号，采样保持与电平移位电路根据过零检测产生时钟短脉冲用于对电感电压进行采样，并对电感电压和电源地进行电平移位；电压差值量化积分电路利用电平移位后的电感电压和电源地为第三电容进行充电或放电，得到的电容电压反馈至过零检测比较电路中，控制下一周期的过零检测比较的快慢。本发明利用反馈环路控制过零检测比较电路中栅控电阻大小来改变电流从而修正过零电压的位置，实现纠正过零检测过早过晚关闭的目的。
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