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公开(公告)号：CN118483628B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410946867.X
申请日：2024-07-16
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G01R33/00 , G01R33/028
Abstract: 本公开涉及磁传感技术领域，具体涉及一种磁敏元件及其制备方法、磁敏传感器、电子器件、芯片和电子设备。该磁敏元件包括：基底、有源区、激励电极和磁偏转电流检测电极；该基底位于最底层；该有源区形成于该基底上；该有源区为梳状结构，该梳状结构包括梳脊和多个梳齿，该多个梳齿从该梳脊的一侧或多侧伸出；该激励电极设置于该梳脊上或该梳脊外围，与该梳脊形成电接触，通过导线与外部电源相连，用于为该磁敏元件施加激励电流；该磁偏转电流检测电极设置于该梳齿两侧，用于检测该激励电流因磁场作用而发生偏转后所产生的电流变化。磁敏传感器包括该磁敏元件，利用该激励电流所产生的电流变化测量磁场，由此提高了传感器的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118566566A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202411058867.2
申请日：2024-08-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网河南省电力公司
Abstract: 本发明公开了一种避雷器阻性电流的检测方法、装置、系统及介质、芯片，涉及电气测量技术领域。检测方法包括：通过电流互感器对避雷器的电流进行采集，得到全电流信号；对全电流信号进行傅里叶变换，得到基波电流和三次谐波电流；根据基波电流的相位和三次谐波电流的相位得到基波电压的相位；确定避雷器相间干扰电流的相位，并根据基波电压的相位得到避雷器容性电流的相位；获取相间干扰电流的有效值和容性电流的有效值，并根据全电流信号、相间干扰电流的相位和有效值，以及容性电流的相位和有效值，得到避雷器的阻性电流波形信号。该方法只需采集电流信号，可减少现场施工安装成本，且可以去除相间干扰的影响，提高了阻性电流检测的准确性。
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公开(公告)号：CN118132404B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410576360.X
申请日：2024-05-10
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。
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公开(公告)号：CN113990866B
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202111622482.0
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 西安电子科技大学
IPC: H01L27/02
Abstract: 本发明实施例提供一种硅控整流器、芯片及电路，所述硅控整流器包括：衬底，所述衬底上方设有N阱区和P阱区；所述N阱区和P阱区上方依次设有第一N+区、第一P+区、第三区、第二N+区及第二P+区，所述第三区为第三P+区或第三N+区；所述第一N+区和第一P+区均与所述硅控整流器的阳极相连；所述第二N+区和第二P+区均与所述硅控整流器的阴极相连。所述硅控整流器具有更强的泄放电流的能力，大大提升了防护能力。
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公开(公告)号：CN119473406A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411386903.8
申请日：2024-09-30
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F9/4401 , G06F9/445 , G06K17/00
Abstract: 本发明提供一种设备初始化方法、装置、系统和电子设备，属于射频识别技术领域。设备初始化方法包括：控制电子标签接收以及存储初始化设备向多个电子设备发送的配置标识；在电子设备上电的情况下，控制处理单元基于配置标识确定初始化功能配置信息，以及基于初始化功能配置信息进行设备初始化。本发明通过电子标签接收以及存储初始化设备发送的配置标识，从而通过电子标签存储对电子设备的特定功能的初始化功能配置信息。在电子设备上电的情况下，控制处理单元基于初始化功能配置信息进行设备初始化。本发明借助于电子标签的高效通信，从而在生产产品时，便于高效地实现批量物联网设备的功能定制化服务。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119398089A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411193154.7
申请日：2024-08-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06K19/077
Abstract: 本申请公开了一种电子封印标签及其制备方法，属于无线射频识别技术领域。所述电子封印标签包括：基体结构，包括基板，以及位于所述基板的厚度方向一侧的第一天线和标签芯片，且所述第一天线与所述标签芯片连接；封印结构，所述基体结构密封设置在所述封印结构中，所述封印结构的外侧具有凹陷，且所述凹陷位于所述基板背离所述第一天线的一侧；第二天线，位于所述凹陷的侧壁，且与所述第一天线连接，所述第二天线与所述第一天线所在的平面异面。本申请能够在缩减基板尺寸的情况下，提高天线增益，提升标签读写距离。
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公开(公告)号：CN119312821A
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202411222480.6
申请日：2024-09-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06K7/10 , G06Q10/087 , H01Q3/02 , H01Q3/28 , H01Q3/30
Abstract: 本申请公开了一种基于射频识别的通道门识别方法、装置及系统，属于射频识别技术领域。方法包括：控制射频信号沿通道门的通道方向进行扫描；记录获取射频标签基于射频信号返回的标签信号对应的扫描角度；根据射频标签返回的多个标签信号对应的扫描角度的变化识别附着射频标签的物品的移动方向。本申请通过获取附着在物品上的射频标签基于射频信号返回的标签信号对应的扫描角度，为识别提供了关键的空间定位信息，分析多个标签信号对应的扫描角度变化，能够准确识别物品的移动方向，还结合了标签信号的信号强度变化，能够从多个不同的维度确定物品的出入库结果，减少了通过单一的判断因素导致的容易误判的情况，提高了物品出入库识别的准确性。
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公开(公告)号：CN119294415A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411185665.4
申请日：2024-08-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06K7/10
Abstract: 本发明提供一种电子标签、芯片、电子标签的冲击检测方法和装置，属于电子标签技术领域。电子标签包括：功能单元，其包括用于检测物品在运输中所受压力的压电振动传感器；触发单元，与功能单元电连接，用于基于压电振动传感器采集的压力信号确定物品的受压状态；处理单元，与触发单元电连接，用于存储物品的受压状态，以便与处理单元通信连接的读写器读取受压状态。本发明通过检测物品在运输中所受压力，再通过触发单元确定物品的受压状态，再通过处理单元存储物品的受压状态，以便与处理单元通信连接的读写器读取受压状态。本发明实施例实现在物品运输时监控物品受压状态，实现运输过程中对物品的冲击检测。
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公开(公告)号：CN119247918A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411150948.5
申请日：2024-08-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本申请涉及嵌入式操作系统测试技术领域，公开了一种嵌入式操作系统启动时间测试方法、系统及上位机，该方法应用于上位机，上位机与程控电源及待测设备通信连接，待测设备安装有待测嵌入式操作系统，待测嵌入式操作系统中包含预先安装的辅助计时应用，该方法包括：控制程控电源向待测设备供电，接收程控电源返回的上电事件，根据上电事件获取电源上电时间；接收待测设备发送的由辅助计时应用标记的用户态进程开始事件，根据用户态进程开始事件获取启动完成时间；根据电源上电时间及启动完成时间确定待测嵌入式操作系统的启动时间。本申请公开的技术方案，利用上位机、程控电源及辅助计时应用实现测试的通用性，并支持多次重复测试。
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公开(公告)号：CN119247219A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411212360.8
申请日：2024-08-30
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 嵩山实验室
Abstract: 本发明涉及磁传感芯片检测领域，提供一种磁传感芯片灵敏度温漂测试装置及测试方法。所述装置包括：温箱、温漂测试模块及信号采集模块，所述温漂测试模块设置在温箱内，所述信号采集模块与所述温漂测试模块连接；所述温漂测试模块包括m个磁场发生模块，每一个磁场发生模块包括永磁体卡座及多个永磁体，所述永磁体卡座设有用于容纳待测磁传感芯片及标准磁传感芯片的通孔，多个永磁体置于所述通孔两侧的永磁体卡座内；所述信号采集模块具有m个通道，用于同时采集m个磁场发生模块对应的待测磁传感芯片及标准磁传感芯片的输出信号。通过本发明可以低成本、高效率的实现线性磁敏传感芯片的灵敏度温漂测试。
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