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公开(公告)号:CN119025420A
公开(公告)日:2024-11-26
申请号:CN202411077900.6
申请日:2024-08-07
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本公开涉及驱动开发与测试技术领域,具体涉及一种利用自动化测试工具实现轻量级操作系统的驱动程序开发包DDK接口自动化测试的方法和基于轻量级操作系统的DDK接口的自动化测试方法以及装置、系统,本方法通过在设置好的板级驱动文件中引用DDK接口测试列表头文件,实现对多个DDK单元测试文件的引用,并将设置好的板级驱动文件和DDK接口测试列表头文件保存在DDK后进行编译,以向轻量级操作系统提供第一编译DDK文件,使得轻量级操作系统能够利用第一编译DDK文件执行DDK接口的自动化测试。本公开在无需利用额外工具的前提下,能够验证针对轻量级操作系统所提供的全部DDK接口,并可以按需修改针对DDK接口的测试内容。
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公开(公告)号:CN119247918A
公开(公告)日:2025-01-03
申请号:CN202411150948.5
申请日:2024-08-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本申请涉及嵌入式操作系统测试技术领域,公开了一种嵌入式操作系统启动时间测试方法、系统及上位机,该方法应用于上位机,上位机与程控电源及待测设备通信连接,待测设备安装有待测嵌入式操作系统,待测嵌入式操作系统中包含预先安装的辅助计时应用,该方法包括:控制程控电源向待测设备供电,接收程控电源返回的上电事件,根据上电事件获取电源上电时间;接收待测设备发送的由辅助计时应用标记的用户态进程开始事件,根据用户态进程开始事件获取启动完成时间;根据电源上电时间及启动完成时间确定待测嵌入式操作系统的启动时间。本申请公开的技术方案,利用上位机、程控电源及辅助计时应用实现测试的通用性,并支持多次重复测试。
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公开(公告)号:CN112269698A
公开(公告)日:2021-01-26
申请号:CN202011203466.3
申请日:2020-11-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种密码机测试装置及用其进行密码机测试的方法,属于密码机功能测试技术领域。所述密码机测试装置预先存储有封装函数,利用密码机测试装置进行密码机测试的方法包括:接收用户指令,所述用户指令包括用于组成命令报文的输入参数;根据所述用户指令调用所述封装函数以生成所述命令报文;发送所述命令报文至密码机;以及接收所述密码机发送的与所述命令报文对应的响应报文。本发明提供的技术方案,具有测试覆盖面广和灵活度高的优点,并且能够有效降低密码机测试的复杂性。
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公开(公告)号:CN120066831A
公开(公告)日:2025-05-30
申请号:CN202510005040.3
申请日:2025-01-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明涉及计算机内存管理技术领域,公开了一种内存管理功能的检测方法、系统、电子设备及存储介质,其中,方法包括:对目标系统的初始内存池建立高负载及碎片化的内存环境,得到目标内存池,在内存环境下,对目标内存池执行第一目标任务的内存抢占操作,记录第一目标任务抢占负载内存块以及碎片内存块的第一执行时间,判断第一执行时间是否超过第一预设时间阈值,响应于第一执行时间超过第一预设时间阈值,确定目标系统的内存管理功能存在异常。本发明的检测方法,通过引入任务优先级,引发内存抢占情况,对内存管理进行全面检测,避免实时操作系统投入使用后的故障率,提高实时操作系统的使用寿命,提高设备的可靠性,满足检测的实时性要求。
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