公开(公告)号：CN116246680A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202310170744.7

申请日：2023-02-27

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 许凯亮 ,  李建成 ,  陈茂鑫 ,  王佳 ,  董方磊 ,  冯雪健 ,  杨作涵

IPC: G11C16/10 ,  G11C16/34 ,  G11C29/12

Abstract: 本发明涉及一种PROM编程器，包括PC机、PROM编程板、PROM子板和程控电源。FPGA编程板设有FPGA芯片，电平转换芯片；FPGA通过电平转换芯片与PROM芯片进行数据交互，通过电平转换芯片的逻辑控制端对IO端口进行方向控制，实现反熔丝PROM编程操作。PROM编程板和PROM子板连接后具备自检查空功能、文件加载、编程及校验功能、JTAG功能验证和电流特性验证、信息记录等功能。本发明验证功能全面、编程成功率极高，对提高反熔丝PROM的编程成功率和准确性具有重要意义。

公开(公告)号：CN111739574B

公开(公告)日：2022-08-05

申请号：CN202010507063.1

申请日：2020-06-05

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 陈茂鑫 ,  李建成 ,  陆时进 ,  王佳 ,  宋小敬 ,  李俊泽 ,  许凯亮 ,  董方磊 ,  李阳 ,  查启超

IPC: G11C29/10 ,  G11C29/36 ,  G11C29/18

Abstract: 一种基于随机二进制序列的静态随机存取存储器验证方法，首先计算SRAM存储器地址位宽和数据位宽等器件参数；然后产生SRAM存储器写操作地址；利用正随机二进制序列和反随机二进制序列对SRAM存储器进行验证，分析统计结果，完成SRAM存储器的功能测试。本发明使用随机二进制序列控制SRAM存储器的读写操作，模拟应用条件下的读取地址和数据，增强存储器测试验证与应用条件的契合度，同时可验证存储器在高速应用条件下的带宽能力，提高存储器功能验证的完备性。

公开(公告)号：CN109639457A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201811368413.X

申请日：2018-11-16

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 李哲 ,  郑宏超 ,  边强 ,  陈茂鑫 ,  宋小敬 ,  毕潇 ,  杜守刚 ,  于春青 ,  赵旭 ,  穆里隆 ,  彭惠薪 ,  徐雷霈 ,  张栩燊 ,  董方磊 ,  武永俊

IPC: H04L12/24 ,  H04L12/26 ,  G06F13/38

CPC classification number: H04L41/0803 ,  G06F13/385 ,  H04L43/0811 ,  H04L43/0847

Abstract: 一种JESD204B协议高速发送器单粒子错误率的测试系统及方法，将高速发送器和可编程逻辑器件搭建成测试系统，可编程逻辑器件产生并行数据给高速发送器的并行端，同时配置高速发送器；高速发送器产生的串行数据发送给可编程逻辑器件并进行串并转换，然后可编程逻辑器件对低速的数据进行解析，检测高速发送器的单粒子错误率。本发明有效的提高了单粒子机时利用率，且数据链路完整，利用可编程逻辑器件将高速串行数据解串为低速的并行数据进行处理，而不是利用误码仪和高速示波器等昂贵的仪器进行监测，提升高速信号测试稳定性，并且降低了试验成本；按照不同错误类型自动分类进行统计，提高了测试效率。