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公开(公告)号：CN219302602U
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202223352857.9
申请日：2022-12-14
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种半导体集成电路测试器，包括测试台以及放置在测试台上的半导体芯片，测试台上安装有用于对半导体芯片进行卡紧的夹持架，半导体芯片放置在夹持架内部，夹持架内壁设置有可沿其内部移动的防滑卡紧板，防滑卡紧板一侧面连接有用于推动其移动的活动推杆，活动推杆与用于带动其移动的推动件相连。本实用新型涉及集成电路测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种半导体集成电路测试器，在半导体芯片进行测试时进行稳定夹持，能够自动的对半导体芯片四个侧面进行卡紧松动，操作简单，夹持稳定。
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公开(公告)号：CN218524497U
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202222765782.0
申请日：2022-10-20
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路板的多工位测试装置，包括装置本体和设置在装置本体上的耐压检测组件，在挤压面板、拉伸杆、L形磁铁、固定磁铁、气缸、挤压面板、连接面板、滑杆、第二弹簧、顶起柱和连接孔的配合下，顶起柱对电路板进行顶起，当电路板与测试槽发生一定的脱离时，关闭气缸，当将电路板都取出时，再次开启气缸，其带动挤压面板继续向上移动，同时L形磁铁带动固定磁铁发生位移直至固定磁铁与阻隔块相接触，使二者相脱离，此时连接面板受到第二弹簧的弹力恢复到初始的位置。本实用新型涉及电路板测试的技术领域。本实用新型具有可便捷地将多个电路板与测试槽发生一定的脱离，便于操作者将其进行取出的效果。
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公开(公告)号：CN217332178U
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202220127970.8
申请日：2022-01-18
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是指一种芯片硬件安全检测装置，其包括工作台面、机台架、去封装结构和拍照结构，去封装结构包括芯片槽块、芯片洗剂导出组件、吸剂组件以及加热组件，拍照结构包括CCD相机，芯片槽块设有定位槽，芯片洗剂导出组件包括第一挠性导管以及洗剂供给器，吸剂组件包括第二挠性导管和抽液泵，加热组件包括对焦移动架、若干个万向调节器和若干个激光发射器，对焦移动架的一端设有一万向调节器。本申请能够自动实现去封装、拍照等步骤，检测效率高，能够将集成电路板的损坏程度降至最低，不需要人工清洗，还能够及时抽走芯片洗剂，保护集成电路板的其它元器件。
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公开(公告)号：CN216087152U
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202122174999.X
申请日：2021-09-09
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型公开了一种用于SMT封装产品的集成电路测试模具，涉及集成电路技术领域，包括工作台，所述工作台的上方设置有测试仪，所述工作台的顶部设置有固定机构，所述工作台的顶部设置有调节机构，所述固定机构包括有固定框、L型块和卡杆，所述固定框活动安装在工作台的顶部。本实用新型通过拉块、卡杆、弹簧、限位块、L型块，固定框和橡胶垫的共同配合，避免人工对集成电路板进行固定导致集成电路板被汗渍和灰尘损坏，具有方便固定的优点，通过第一电机、第二电机、齿轮、齿板、限位杆、滚珠、滑块、支撑块、第一稳定块、第二稳定块、螺杆和测试仪的共同配合，对测试的位置进行自动调节，具有方便调节的优点。
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公开(公告)号：CN218122182U
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202222315533.1
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路老化测试装置，包括活动检测板以及显示板，活动检测板与显示板均设置为方形结构，且长度与宽度相同，活动检测板与显示板通过活动转杆活动连接，活动检测板上开设有用于放置集成线路板的放置槽，活动检测板内部嵌入有可沿放置槽内部上下移动的放置板，放置板设置为L型结构，放置板顶部安装有导入架，活动检测板顶部开设有用于对导入架使力的施力凹槽，显示板上安装有显示屏，显示屏一侧设置有用于调节测试参数的调节按钮。本实用新型涉及集成电路老化测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种集成电路老化测试装置，能够在对测设装置进行便捷的收放携带，结构简单，操作便捷，降低检测设备的制造成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN216053035U
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202122262694.4
申请日：2021-09-18
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型公开了一种基于FPGA的串口通信AES加密模块木马植入与检测装置，包括：AES加密模块、通信发送模块、电路频谱波形检测模块、相关性分析单元、参考第一电路、第二电路、功耗检测单元、恒温箱，温度控制器、温度测量模块，可以通过测量电路的功耗来分析是否被植入木马，同时，还可以根据检测到的频谱波形的相关性来分析否被植入木马，从而实现方便快捷的检测木马。
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公开(公告)号：CN218835258U
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202223352878.0
申请日：2022-12-14
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路老化筛选测试装置，包括筛选测试架、导入槽以及导出槽，筛选测试架上开设有用于集成电路板导入的导入槽，导入槽尾端两侧设置有用于集成电路板导出的导出槽，两组导出槽之间设置有开设有在筛选测试架上的测试槽，测试槽内部安装有感应器，筛选测试架一侧面固定有固定板，固定板上安装有位于感应器上方的施力件，感应器与PLC控制器相连。本实用新型涉及集成电路老化筛选设备技术领域。本实用新型能够在老化电路板进行测试时对其表面增加一定压力，根据发生的形变变换产生的压力大小，判断电路板是否老化，对其中老化的集成电路板进行筛选，提高筛选便捷性。
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公开(公告)号：CN218727804U
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202222766334.2
申请日：2022-10-20
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路可靠度的测试装置，包括装置底板和开设在装置底板上表面的放置槽，所述设置在装置底板上的固定组件，所述固定组件包括设置在放置槽上的若干个吸盘，在按压柱、连接槽、第一弹簧、限位孔、出气腔室、滑动腔室、滑杆、第二弹簧、连接杆、活塞和负压腔室的配合下，活塞靠近第二弹簧进运动，此时负压腔室内形成负压，使吸盘产生吸力，当电路板与吸盘相接触时，吸盘将对电路板进行限位固定。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型具有电路板在检测的电路的过程中不会出损伤，确保数据的准确性以及减少电路板报销率的效果。
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公开(公告)号：CN218524831U
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202222765750.0
申请日：2022-10-20
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路的自动测试装置，包括一侧开口设置的壳体和位于所述壳体上半部的检测部，所述壳体内底壁开设有两个第一槽，所述第一槽内过盈配合有第一活塞，所述第一活塞与所述检测部相连接，所述壳体底壁内开设有两个放置腔，所述放置腔内过盈配合有第二活塞，所述放置腔上半部与对应所述第一槽下半部之间连通开设有气道，所述壳体相对两侧均开设有排气孔，所述排气孔与对应所述第一槽下半部相通，所述壳体侧壁对应所述排气孔的位置设置有泄压阀。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型在检测部下降对电路板进行测试时，能够自动对不同尺寸的电路板定位并固定，提高了集成电路自动测试装置的适用性。
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公开(公告)号：CN218213235U
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN202222299973.2
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种电子整机高温动态老化测试装置，其特征在于：包括测试机主体以及安装在测试机顶部的导风板，导风板为中空结构，导风板底部开设有与测试机主体相通的导风孔，导风板一端设置有安装在测试机主体顶部的安装架，安装架内部安装有散热风机，散热风机与导风板相通，测试机主体一侧面安装有与其活动连接的活动框，活动框内侧安装有散热网，活动框与测试机主体之间设置有用于推动其移动的活动推件，本实用新型能够在对测试机测试时其内部产生的温度进行测量，在测量过程中对散热网进行开合调节以及在温度过高时，通过散热风机想测试机主体内部吹入凉风，进行快速降温，提高了降温效率。
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