高功率激光系统中反射光学元件的制备及其测温方法

    公开(公告)号:CN110736561A

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201911012197.X

    申请日:2019-10-23

    Abstract: 一种高功率激光系统中反射光学元件的制备及其测温方法,反射光学元件的制备包括步骤:在基底材料上利用磁控溅射镀制一层VO2相变薄膜;在VO2相变薄膜上镀制高反膜。由于VO2的相变特性,反射光学元件的透过率会随温度发生变化,高功率激光系统中测温方法包括利用接触式测温的方法测试反射光学元件在某一波长处透过率随温度变化的曲线;高功率激光系统中,增加该波长的探测激光入射至反射光学元件表面的辐照区域,并利用功率计测试探测激光的透过率;结合上述透过率随温度变化曲线利用透射率计算光学元件的表面温度。本发明相比红外热像仪测温的方法不仅成本较低,而且可以高精度的测试光学元件表面微米深度的温度变化。

    高效主动换热光谱合束光栅集成化模块及其制备方法

    公开(公告)号:CN111854291A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202010704210.4

    申请日:2020-07-21

    Abstract: 一种高效主动换热光谱合束光栅集成化模块及其制备方法,整个模块包括光栅结构层、光栅基板、微通道冷却层、导流层、密封板和冷却液进出口部分组成,首先利用高热导、低膨胀材料制备光栅基板、微通道冷却层和密封板,然后利用共晶焊料在真空焊炉中将所有部件焊接在一起并进行退火处理,随后对光栅基板再次抛光修正其面形,并最终在其表面完成合束光栅结构制备。本发明解决了传统的冷却方案因冷却模块和合束光栅相互独立而导致的整个光栅冷却模块装配复杂、体积大、重量重、冷却效果不理想的问题,十分有利于高功率光谱合束系统的小型化、轻量化。

    基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法

    公开(公告)号:CN109900737B

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201910167946.X

    申请日:2019-03-06

    Abstract: 本发明提出一种基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法,首先利用泵浦激光辐照样品,达到稳态后利用红外热像仪记录样品表面最高温度,并利用泵浦光功率计测试样品的反射和透射功率;第二步,利用探测激光器(CO2激光器,光斑尺寸与泵浦激光光斑大小相同)辐照样品表面,一般CO2对于介质膜等光学元件吸收率为1,逐渐增加探测激光功率使得样品表面温度达到第一次测试的温度,此时读取探测光功率计中的功率;最后利用探测光功率计的读数比上样品的反射与透射功率之和,即为样品表面的弱吸收率。本发明主要利用一般光学元件对CO2激光的吸收率为1,样品在泵浦光辐照下的温度特性来测试表面的弱吸收率,相比现有的技术测试不仅精度高而且操作更加简单、方便,不需要后期数据处理。

    一种基于光热折变玻璃的反射式体光栅制备方法

    公开(公告)号:CN110879433A

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201911167157.2

    申请日:2019-11-25

    Abstract: 一种基于光热折变玻璃的反射式体光栅制备方法,包括步骤:(1)曝光面进行精抛光;采用双束紫外平行光形成的干涉条纹对PTR玻璃进行曝光;采用450-550℃的温度进行热显影;沿垂直于曝光入射面方向切割;对切割面精抛光处理后镀上对使用波长λ使透过率大于99.5%的全介质减反膜,完成反射式体光栅的制备。本发明通过调节曝光角度θ可实现对使用波长的调控,通过对曝光时长、热处理温度和时长实现对反射式体光栅的衍射效率(10%~99%)进行调控,通过切割厚度(0.3mm~30mm)调控实现对光谱半高宽(0.02nm~1nm)进行调控。通过工艺参数调节实现自由调控,且有利于实现规模化量产。

    基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法

    公开(公告)号:CN109900737A

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201910167946.X

    申请日:2019-03-06

    Abstract: 本发明提出一种基于等效温度的光学元件弱吸收测试装置及方法,首先利用泵浦激光辐照样品,达到稳态后利用红外热像仪记录样品表面最高温度,并利用泵浦光功率计测试样品的反射和透射功率;第二步,利用探测激光器(CO2激光器,光斑尺寸与泵浦激光光斑大小相同)辐照样品表面,一般CO2对于介质膜等光学元件吸收率为1,逐渐增加探测激光功率使得样品表面温度达到第一次测试的温度,此时读取探测光功率计中的功率;最后利用探测光功率计的读数比上样品的反射与透射功率之和,即为样品表面的弱吸收率。本发明主要利用一般光学元件对CO2激光的吸收率为1,样品在泵浦光辐照下的温度特性来测试表面的弱吸收率,相比现有的技术测试不仅精度高而且操作更加简单、方便,不需要后期数据处理。

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