公开(公告)号：CN118190317A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410358898.3

申请日：2024-03-27

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王玉忠 ,  李伟明 ,  翟芳 ,  胡凛 ,  黄文锋

IPC: G01M7/02 ,  G01M7/06

Abstract: 本申请涉及一种振动应力极值的检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：根据多个振动应力参数对目标焊点施加振动应力；其中，多个振动应力参数中的目标振动应力参数与施加振动应力的时间正相关，目标焊点为电子元器件的镀金引脚与印刷电路板之间焊接形成的质量合格的焊点；对目标焊点施加检测电信号，并获取目标焊点输出的反馈电信号；在根据反馈电信号确定目标焊点开裂失效的情况下，获取目标焊点的振动应力极值；其中，振动应力极值为目标焊点开裂失效时，目标振动应力参数的值。采用本方法能够对目标焊点焊接状态进行实时监测，提高了检测效率，还实现了对于目标焊点的振动应力极值的检测。

公开(公告)号：CN119249104B

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202411758953.4

申请日：2024-12-03

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 周舟 ,  何日吉 ,  王玉忠 ,  何骁 ,  李伟明 ,  吕海强

IPC: G06F18/20

Abstract: 本申请涉及一种元器件工艺性能评估方法、装置、计算机设备和可读存储介质。方法包括：获取元器件的初始工艺性能测试指标，确定初始工艺性能测试指标与元器件工艺性能的关联度，并基于关联度，从初始工艺性能测试指标中筛选工艺性能测试指标，根据工艺性能测试指标，对元器件进行性能评估，得到工艺性能测试结果，确定工艺性能测试指标的指标权重系数，并根据指标权重系数、工艺性能测试结果以及工艺性能测试结果，生成元器件的工艺性能评估结果。采用本方法能够准确进行元器件工艺性能评估。