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公开(公告)号：CN102278933A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110184739.9
申请日：2011-07-04
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种圆柱直齿渐开线花键环规跨棒距的测量方法及测量装置，测量方法包括如下步骤：（1）在卧式测长仪的测量座和尾座上相向安装两对称的测钩，在测钩的钩尖端上安装测量测头，所述测量测头包括刀口测头和平面测头，所述刀口测头与内花键键齿齿槽相互垂直；（2）进行零位校准，即调整两测量测头平行，将组合的量块用量块夹固定在卧式测长仪工作台上，调整工作台使量块夹上量爪工作面与刀口测头刀口面平行，然后将仪器置零；（3）量块取下，将被测的花键环规安装好，测量棒安装在被测的花键环规齿槽内；（4）使刀口测头与测量棒接触，调整工作台，读取仪器示值，加上零位校准用量块的实际值，就获得被测花键环规的跨棒距。
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公开(公告)号：CN105865389A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610401901.0
申请日：2016-06-08
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 上海计测工程设备监理有限公司
IPC: G01B21/04
CPC classification number: G01B21/042
Abstract: 本发明为一种微纳米标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的微纳米标准样板包括A区域、B区域和C区域三个工作区域；所述的A区域设有向上的箭头形状的循迹标识；所述的B区域设有不同计量尺寸的第一矩阵阵列光栅和第二矩阵阵列光栅；所述的C区域设有不同计量尺寸的第一横向刻度尺、第二横向刻度尺、第三横向刻度尺和第四横向刻度尺，所述的C区域还设有四个等腰直角三角形形状的循迹标识。所述A区域的向上的箭头形状的循迹标识实现了在测量前快速定位微纳米标准样板并确定样板的正交扫描方向，便于快速定位B区域和C区域，并通过坐标关系实现重复性测量。
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公开(公告)号：CN104457556A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310441883.5
申请日：2013-09-23
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B7/312
Abstract: 本发明公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量装置和方法，所述表座固定在底座上，电感测微仪设置于表座上，弹性体的一端固定在底座上，另一端和连接座的底部相连，连接座的首端和电感测微仪相连，末端和滑轨垂直相连，测头夹具套设在滑轨上，三针套件固定在测头夹具上，安装架固定在底座上，待测工件的圆柱部分夹持于安装架上，三针套件压紧在待测工件的螺纹部上，滚动轴承设置于待测工件的圆柱部分上，质量块压加在滚动轴承上。还公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量方法。本发明结构简单，制作方法，能够简单速度的测得待测工件的同轴度，精度高，操作过程简单，易于广泛推广。
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公开(公告)号：CN105865389B
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201610401901.0
申请日：2016-06-08
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 上海计测工程设备监理有限公司
IPC: G01B21/04
Abstract: 本发明为一种微纳米标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的微纳米标准样板包括A区域、B区域和C区域三个工作区域；所述的A区域设有向上的箭头形状的循迹标识；所述的B区域设有不同计量尺寸的第一矩阵阵列光栅和第二矩阵阵列光栅；所述的C区域设有不同计量尺寸的第一横向刻度尺、第二横向刻度尺、第三横向刻度尺和第四横向刻度尺，所述的C区域还设有四个等腰直角三角形形状的循迹标识。所述A区域的向上的箭头形状的循迹标识实现了在测量前快速定位微纳米标准样板并确定样板的正交扫描方向，便于快速定位B区域和C区域，并通过坐标关系实现重复性测量。
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公开(公告)号：CN104457788B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410621092.5
申请日：2014-11-06
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明涉及一种基线桩，属于仪器校准领域。一种大尺寸移动基线桩，其特征在于：包括0位移动基线桩和移动基线靶桩，所述0位移动基线桩和移动基线靶桩分别设置在不同点组成一段基线；所述0位移动基线桩包括桩基和设置在桩基上的四根主体支架，所述支架顶端设置有2维水平方向直线调整机构和2维旋转调整机构，以及设置在两个调整机构上的花岗岩定位挡块；所述移动基线靶桩包括基线靶桩基和基线靶主体桩架，基线靶主体桩架上设置有水平转摆机构，在水平转摆机构上设置有垂直于水平端面的目标靶。本发明采用分别设置0位移动基线桩和移动基线靶桩，再配合组成基线，实现了即时摆放、即时标定和即时校准检定，解决了永久基线场地的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104457788A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410621092.5
申请日：2014-11-06
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明涉及一种基线桩，属于仪器校准领域。一种大尺寸移动基线桩，其特征在于：包括0位移动基线桩和移动基线靶桩，所述0位移动基线桩和移动基线靶桩分别设置在不同点组成一段基线；所述0位移动基线桩包括桩基和设置在桩基上的四根主体支架，所述支架顶端设置有2维水平方向直线调整机构和2维旋转调整机构，以及设置在两个调整机构上的花岗岩定位挡块；所述移动基线靶桩包括基线靶桩基和基线靶主体桩架，基线靶主体桩架上设置有水平转摆机构，在水平转摆机构上设置有垂直于水平端面的目标靶。本发明采用分别设置0位移动基线桩和移动基线靶桩，再配合组成基线，实现了即时摆放、即时标定和即时校准检定，解决了永久基线场地的问题。
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公开(公告)号：CN103398087A
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201310343076.X
申请日：2013-08-07
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: F16C3/18
Abstract: 本发明公开了一种可调节偏心距的标准偏心轴，包括主轴，主轴一侧具有外螺纹段，另一侧具有轴肩，外螺段套装有垫圈和可与外螺纹段拧合的锁紧螺母，所述外螺纹段和轴肩之间有两个斜面，两斜面之间成60度角，距离主轴线距离相同且与轴体对称；在轴肩和垫圈之间依次套装有轴套、隔离套和轴套，所述轴套成环状，且环内有两个相互间成60度角的平面，两平面和主轴两斜面相匹配，在对应平面和斜面内分别放置一对可更换的相同高度的标准厚度块。本发明可达到偏心距的精确调整，通过标准厚度块的改变，可实现约定的标准偏心距，消除了人为调节的影响，在同一标准偏心轴上，可以实现快速的测量校准，结构简单可靠。
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公开(公告)号：CN102269739A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201110156486.4
申请日：2011-06-10
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种同时检测利莫那班和西布曲明的方法：将待测品进行样品前处理后进行高效液相色谱法检测即可；所述的高效液相色谱法的色谱条件为：色谱柱采用以十八烷基硅烷键合硅胶为填充剂的色谱柱，以甲醇或乙腈为流动相等度洗脱，检测波长为220～225nm。本发明的检测方法操作简单、分析速度快、结果可靠灵敏，可以通过对利莫那班和西布曲明的同时检测与监控，实现对产品的质量控制。
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公开(公告)号：CN103398087B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201310343076.X
申请日：2013-08-07
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: F16C3/18
Abstract: 本发明公开了一种可调节偏心距的标准偏心轴，包括主轴，主轴一侧具有外螺纹段，另一侧具有轴肩，外螺段套装有垫圈和可与外螺纹段拧合的锁紧螺母，所述外螺纹段和轴肩之间有两个斜面，两斜面之间成60度角，距离主轴线距离相同且与轴体对称；在轴肩和垫圈之间依次套装有轴套、隔离套和轴套，所述轴套成环状，且环内有两个相互间成60度角的平面，两平面和主轴两斜面相匹配，在对应平面和斜面内分别放置一对可更换的相同高度的标准厚度块。本发明可达到偏心距的精确调整，通过标准厚度块的改变，可实现约定的标准偏心距，消除了人为调节的影响，在同一标准偏心轴上，可以实现快速的测量校准，结构简单可靠。
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公开(公告)号：CN204730883U
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201520372969.1
申请日：2015-06-02
Applicant: 上海奇阳信息科技有限公司 , 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01D21/02
Abstract: 本实用新型涉及一种便携式测量设备，包括壳体，以及设在所述壳体内的主控电路板，压力传感器和流量传感器，所述压力传感器、所述流量传感器连接所述主控电路板，所述主控电路板集成多功能检测端口、以及分别连接所述多功能检测端口的AD处理芯片和DA芯片，所述多功能检测端口包括3路压力测量接口、1路流量测量接口、5路温度传感器接口、1路模拟信号输入接口、1路模拟信号输出接口、RS232通讯口、10/100M自适应网口和USB接口。本实用新型的有益效果在于：通过多功能总控板集成了多路测量接口，体积紧凑，携带方便，对使用环境无特殊要求，降低使用成本。
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