车辆检查系统
    161.
    发明公开
    车辆检查系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN106840235A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710223124.X

    申请日:2017-04-07

    CPC classification number: G01D11/00 B65G25/08 B65G2201/0294

    Abstract: 本发明公开了一种车辆检查系统,包括扫描装置和穿过扫描装置的扫描区域的车辆传送装置,车辆传送装置用于驱动被检查车辆通过扫描区域,包括沿被检查车辆的移动方向位于扫描区域的上游的初始驱动段和设置于初始驱动段下游的自行段,初始驱动段用于驱动被检查车辆向扫描装置移动并使被检查车辆在终止驱动时具有初始速度,自行段用于使终止驱动后的被检查车辆在自行段上自行移动以使被检查车辆完全通过扫描区域。本发明的车辆检查系统结构简单,成本降低。

    辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器

    公开(公告)号:CN106596597A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201611143083.5

    申请日:2016-12-08

    Abstract: 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器,涉及辐射探测技术领域。其中,本发明的一种辐射探测装置包括:射线探测器;与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC;和与高速ADC连接的数据处理器;其中,射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号;高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据;数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数,进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数,进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像,从而提高被测物体的辐射探测成像质量,提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。

    一种半导体探测器
    165.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105759303A

    公开(公告)日:2016-07-13

    申请号:CN201610188180.X

    申请日:2013-04-26

    CPC classification number: G01T1/366

    Abstract: 本发明提供一种半导体探测器,该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极;所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面;所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜;所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上,所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上,所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上;所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比,所述半导体探测器能够提高能量分辨率。

    X射线检查系统
    167.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104515781A

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201410851416.4

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种X射线检查系统,包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置,X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流,X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块,强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号,数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流,强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响,从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。

    用于辐射装置的调节定位装置

    公开(公告)号:CN102590238A

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN201110438869.0

    申请日:2008-06-12

    Abstract: 一种用于辐射装置的调节定位装置,包括:夹紧装置,所述夹紧装置可分离地连接到辐射装置上以夹紧所述辐射装置;支座,所述夹紧装置连接到所述支座上并且在其之间限定一滑动路径,其中夹紧所述辐射装置的所述夹紧装置可在预定方向上沿所述滑动路径移动;以及调节装置,所述调节装置与所述夹紧装置相结合,以驱动所述夹紧装置沿所述滑动路径移动,所述夹紧装置包括第一弧面板部分和第二弧面板部分,所述第一、第二弧面板部分紧固配合,以将辐射装置夹紧在其之间。

Patent Agency Ranking