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公开(公告)号：CN113920208B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202010661255.8
申请日：2020-07-10
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T9/00 , G06V10/762 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/088
Abstract: 本公开实施例提供了一种图像处理方法及装置、计算机可读存储介质和电子设备。该方法包括：获取待测原始图像；编码所述待测原始图像，生成所述待测原始图像的目标特征图；根据正样本原始图像获得与所述目标特征图匹配的第一目标解码向量，所述正样本原始图像为无异常区域的图像；解码所述第一目标解码向量，获得所述待测原始图像的待测生成图像。通过本公开实施例提供的技术方案，通过无异常区域的正样本原始图像来获得待测原始图像的待解码的解码向量，可以更加准确地重构待测原始图像，避免重构待测原始图像的异常区域。
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公开(公告)号：CN116413822A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202111668982.8
申请日：2021-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种扫描检查装置，包括第一旋转架(1)、第一驱动装置、射线源(2)、探测器(3)、用于冷却射线源(2)的冷却装置和第二驱动装置，第一旋转架(1)的中心设有用于供被检物(6)通过的输送通道，第一驱动装置与第一旋转架(1)驱动连接以驱动第一旋转架(1)转动，射线源(2)、探测器(3)、用于冷却射线源(2)的冷却装置均安装在第一旋转架(1)上并随第一旋转架(1)转动，第二驱动装置被配置为驱动冷却装置朝着与第一旋转架(1)的旋转方向相反的方向转动，以使冷却装置在随第一旋转架(1)转动的过程中保持固定的姿态。本发明能够实现对射线源的冷却，同时使冷却装置在旋转过程中能够保持固定的姿态，防止冷却装置倾斜或倒置。
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公开(公告)号：CN109544870B
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN201811565587.5
申请日：2018-12-20
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种用于智能监控系统的报警判断方法与装置。用于智能监控系统的报警判断方法包括：获取来自多个监控终端设备的实时视频流；使用预设识别模型对每个所述实时视频流进行识别并输出满足预设报警规则的报警帧；根据来自大于预设数量个实时视频流的报警帧识别报警场景；按所述报警类别输出报警信息和对应的报警帧。本公开提供的用于智能监控系统的报警判断方法可以在提高报警判断精度的同时降低报警判断成本。
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公开(公告)号：CN109283588A
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201811294703.4
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种用于重建宇宙射线粒子的径迹的方法和设备、以及检查方法和检查设备。所述方法包括：利用宇宙射线粒子探测器探测宇宙射线粒子，所述宇宙射线粒子探测器包括至少一个闪烁体和多个漂移管，在所述宇宙射线粒子的作用下，所述多个漂移管中的至少2个漂移管中的带电粒子产生漂移；利用所述至少一个闪烁体，记录宇宙射线粒子入射至所述宇宙射线粒子探测器的时间零点；根据所述时间零点，计算所述至少2个漂移管中带电粒子的漂移时间；基于计算出的漂移时间，确定宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置；和根据确定出的宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置，拟合出宇宙射线粒子的径迹。
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公开(公告)号：CN109142404A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN108732192A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810436690.3
申请日：2018-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/203 , G01N23/20 , G01N23/20025 , G01N23/20066 , G01N23/04
Abstract: 本发明涉及安全检查技术领域，特别涉及一种安全检查系统。本发明所提供的安全检查系统，其包括背散射扫描装置和支撑装置，支撑装置形成允许被检物通过的检查通道，背散射扫描装置设置在支撑装置的上部并包括背散射射线源装置和背散射探测装置，且支撑装置调节背散射扫描装置的高度。在本发明中，安全检查系统的支撑装置可以调节安装在支撑装置上的背散射扫描装置的高度，由于便于在扫描过程中根据被检物的高度来调节背散射的飞点光斑投影大小和张角大小，因此，能够有效提升背散射图像的成像质量。
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公开(公告)号：CN104634796A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201410767544.0
申请日：2014-12-11
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0016 , G01V5/0008 , G21K1/02
Abstract: 本发明公开了一种用于集装箱或车辆检查系统的对准系统、检查系统和对准方法。检查系统包括射线源、准直器以及安装在探测器臂上的探测器模块，射线源、准直器以及探测器模块布置成形成检查通道，射线源发射的射线束经过准直器入射到被检查物体，由探测器模块收集被衰减的射线束以完成检查。对准系统包括测量模块，所述测量模块布置成接收从准直器发出的射线束并通过测量射线束确定射线源和准直器的位置和方向。该对准方法可以更加准确地测量射线源中心点、探测器笔端中心线及准直器中心线的对准程度。
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公开(公告)号：CN113077391B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202010711447.5
申请日：2020-07-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提出一种校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统，涉及图像扫描领域。该方法包括：获取被扫描对象的扫描图像；从所述扫描图像中检测一个或多个参照物；根据预设的参照物的标准参数，确定每个参照物的变形参数；根据所述一个或多个参照物的变形参数，对所述扫描图像进行校正。通过从扫描图像中检测参照物，根据参照物的变形参数，对扫描图像进行校正，以改善扫描图像变形的问题，提高检测效果。
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公开(公告)号：CN116184484A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202111427640.7
申请日：2021-11-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T7/00
Abstract: 本公开提供了一种探测器装置和射线检测设备，其可以应用于辐射检测技术领域。该探测器装置包括：探测器组件，用于接收射线源产生的射线，并生成模拟信号；模拟电路模块，用于接收模拟信号并转换成数字信号，模拟电路模块具有相对设置的第一表面和第二表面，第一表面的第一区域与探测器组件可拆卸连接，第二表面适于与探测器装置的目标安装位置连接；以及数字电路模块，用于接收来自模拟电路模块的数字信号，第一表面的第二区域与数字电路模块可拆卸连接。
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