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公开(公告)号：CN104677831A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510097053.4
申请日：2015-03-03
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种分光瞳差动共焦-光声显微成像装置与方法，其基于具有大工作距、高轴向分辨力和抗杂散光干扰的分光瞳差动共焦显微成像系统，将分光瞳差动共焦显微成像系统与光声成像系统的结构与功能有机融合，利用分光瞳差动共焦显微成像系统探测生物样品的空间结构信息，利用光声显微成像系统探测生物样品的功能信息，继而实现生物样品空间结构信息和功能信息的同时探测，以期对生物活体进行原位、无创的实时成像。分光瞳差动共焦技术的采用使分光瞳差动共焦光声显微成像装置的轴向分辨力和工作距得以有效兼顾，可抑制高散射样品焦面杂散光对成像质量的干扰，系统信噪比高，便于分光瞳差动共焦-光声显微成像装置的集成化设计。
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公开(公告)号：CN104482880A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410790656.8
申请日：2014-12-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密成像测试技术领域，涉及一种激光受激发射损耗三维超分辨分光瞳差动共焦成像方法与装置。本发明的核心思想是将分光瞳激光差动共焦探测技术和激光受激发射损耗成像技术有机融合，集成了分光瞳差动共焦探测技术的高分辨、高散射抑制特性，通过激光差动共焦技术提高轴向分辨能力，通过受激发射损耗显微技术改善横向分辨能力，继而提高系统的空间分辨力和抗样品散射能力。该装置包括激发激光系统、第一双色镜、四分之一波片、测量物镜、样品、扫描工作台、淬灭激光系统、光束整形系统、第二双色镜、分光瞳差动共焦探测系统及数据处理模块。本发明具有高空间分辨、高散射样品抑制的三维超分辨成像与检测能力，在微纳米技术领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN103105231B
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201310027359.3
申请日：2013-01-21
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J3/44
Abstract: 本发明属于光学显微成像及光谱测量技术领域，涉及一种高空间分辨共焦拉曼光谱探测方法与装置。该方法与装置在光谱探测中融入共焦技术，并利用二向色分光系统（13）对瑞利光和拉曼散射光进行无损分离，利用共焦曲线（34）最大值与焦点位置精确对应的特性，通过寻找最大值来精确捕获激发光斑焦点位置的光谱信息，实现高空间分辨的光谱探测，构成一种可实现样品微区高空间分辨光谱探测的方法和装置。本发明具有定位准确，高空间分辨，光谱探测灵敏度高等优点，在生物医学、法庭取证等领域有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN103940799A
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201410086332.6
申请日：2014-03-10
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于显微光谱成像技术领域，涉及一种“图谱合一”的激光双轴共焦布里渊-拉曼光谱测量方法与装置。本发明将双轴共焦显微和光谱探测技术有机融合，利用瑞利光进行辅助探测，并结合拉曼光谱探测和布里渊光谱探测技术实现对系统高空间分辨图谱合一的探测，具有高空间分辨力。本发明具有三维层析几何成像、光谱探测和微区图谱层析成像三种模式，通过探测共焦拉曼光谱探测中遗弃的布里渊散射光来获得物质基本性质及多种交叉效应，同时利用共焦拉曼光谱探测技术和共焦布里渊光谱探测技术优势互补的特点实现对测量样品的微区形貌、状态、材质、属性等多个参数的获取，在生物医学、高能制造、材料化学等领域有广泛的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103439254A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310404307.3
申请日：2013-09-06
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于显微光谱成像技术领域，将共焦显微技术与拉曼光谱探测技术相结合，涉及一种分光瞳激光共焦拉曼光谱测试方法及装置。利用共焦拉曼光谱探测中遗弃的瑞利散射光构建分光瞳共焦显微成像系统，实现样品三维几何位置的高分辨成像与探测；利用分光瞳共焦显微成像系统的“极值点”来控制光谱探测系统能精确捕获物镜聚焦点处激发的拉曼光谱信息，继而实现“图谱合一”的分光瞳共焦拉曼光谱高空间分辨成像与探测。本发明为微区三维几何位置与光谱的高空间分辨探测提供新的技术途径，可广泛应用于物理、化学、生物医学、材料科学、环境科学、石油化工、地质、药物、食品、刑侦和珠宝检定等领域，可对样品进行无损伤鉴定和深度光谱分析。
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公开(公告)号：CN101446314B
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：CN200910000778.1
申请日：2009-01-09
Applicant: 北京理工大学
IPC: F16C32/06
Abstract: 本发明属于精密加工及测量技术领域，涉及一种空气轴承技术，包括主轴、轴承套，外部排气管，在轴承套内设置封闭零压槽环路收集所有废气，轴承套两端的零压槽环路还将位于二者之间的高压区与外部环境隔离，零压槽环路与外部排气管之间通过排气管道或者直接用排气孔连接起来，由外部排气管将所有废气引出、回收。本发明首次提出将在空气静压轴承内设置封闭的零压槽环路，对废气进行有目的的引导，使它与测量环境分离，消除了因废气的排放所产生的气体扰动对测量环境的影响，显著提高了测量系统的测量精度，优化了空气静压轴承的结构，有效的防止了灰尘从排气孔进入轴承，可广泛用于精密加工及测量装备中。
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公开(公告)号：CN102679895A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210191601.6
申请日：2012-06-11
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种反射式共焦透镜中心厚度测量方法。该方法通过共焦测量方法配合平面反射镜精确定位透镜前表面顶点和后表面顶点，进而通过光线追迹公式测得透镜中心厚度。本发明首次提出利用被测透镜自身发出的光束并结合共焦技术对被测透镜前、后表面顶点进行高精度定焦瞄准，很大程度上降低了被测透镜的装调难度，具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点，可用于透镜中心厚度的高精度检测。
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公开(公告)号：CN102147240B
公开(公告)日：2012-08-22
申请号：CN201010621159.7
申请日：2010-12-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/255 , G01B11/06 , G01B11/14 , G01N21/45 , G01M11/02
CPC classification number: G01M11/025 , G01B11/06 , G01B11/14 , G01B11/2441 , G01B11/255 , G01M11/0271
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种差动共焦(共焦)干涉元件多参数测量方法与装置。本发明的核心思想是利用差动共焦(共焦)测量系统测量球面元件表面曲率半径、透镜顶焦距、透镜折射率、透镜厚度以及镜组轴向间隙，利用面形干涉测量系统测量元件表面面形，可实现元件多个参数的同时测量，测量精度高。本发明首次将差动共焦(共焦)探测系统和面形干涉测量系统相融合，测量参数全面，且在元件多个参数测量过程中，无需重新调整光路，拆卸被测元件，对被测元件无损伤，测量速度快。
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