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公开(公告)号:CN102589853B
公开(公告)日:2014-01-08
申请号:CN201210011997.1
申请日:2012-01-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种自准直式差动共焦透镜焦距测量方法。该方法将自准直思想融入到差动共焦测量方法中,进而实现透镜顶焦距及焦距的高精度测量。其核心思想是,引入辅助平面反射镜将被测透镜准直成的平行光束沿原光路反射,并配合差动共焦技术对被测透镜的焦点及表面顶点进行精确定位,进而得到被测透镜的顶焦距及焦距。本发明首次将自准直测量思想融入差动共焦测量方法,利用差动共焦响应曲线的过零点精确确定被测透镜的焦点及表面顶点位置,具有测量精度高、抗环境干扰能力强等优点,可用于透镜焦距的高精度检测。
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公开(公告)号:CN102589853A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201210011997.1
申请日:2012-01-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种自准直式差动共焦透镜焦距测量方法。该方法将自准直思想融入到差动共焦测量方法中,进而实现透镜顶焦距及焦距的高精度测量。其核心思想是,引入辅助平面反射镜将被测透镜准直成的平行光束沿原光路反射,并配合差动共焦技术对被测透镜的焦点及表面顶点进行精确定位,进而得到被测透镜的顶焦距及焦距。本发明首次将自准直测量思想融入差动共焦测量方法,利用差动共焦响应曲线的过零点精确确定被测透镜的焦点及表面顶点位置,具有测量精度高、抗环境干扰能力强等优点,可用于透镜焦距的高精度检测。
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公开(公告)号:CN102589854A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201210011999.0
申请日:2012-01-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种反射式差动共焦透镜焦距测量方法。该方法通过差动共焦测量方法配合平面反射镜精确定位透镜表面顶点和焦点位置,进而测得透镜顶焦距及焦距。本发明首次提出通过差动共焦响应曲线过零点时对应被测透镜焦点和表面顶点特性实现精确定焦,将差动共焦测量技术扩展到透镜焦距测量领域,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点,可用于透镜焦距的高精度检测。
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公开(公告)号:CN102679894B
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:CN201210190779.9
申请日:2012-06-11
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种反射式差动共焦透镜中心厚度测量方法。该方法通过差动共焦测量方法配合平面反射镜精确定位透镜前表面顶点和后表面顶点,进而通过光线追迹公式测得透镜中心厚度。本发明首次提出利用被测透镜自身发出的光束并结合差动共焦技术对被测透镜前、后表面顶点进行高精度定焦瞄准,很大程度上降低了被测透镜的装调难度,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点,可用于透镜中心厚度的高精度检测。
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公开(公告)号:CN102589854B
公开(公告)日:2014-01-08
申请号:CN201210011999.0
申请日:2012-01-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种反射式差动共焦透镜焦距测量方法。该方法通过差动共焦测量方法配合平面反射镜精确定位透镜表面顶点和焦点位置,进而测得透镜顶焦距及焦距。本发明首次提出通过差动共焦响应曲线过零点时对应被测透镜焦点和表面顶点特性实现精确定焦,将差动共焦测量技术扩展到透镜焦距测量领域,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点,可用于透镜焦距的高精度检测。
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公开(公告)号:CN102679894A
公开(公告)日:2012-09-19
申请号:CN201210190779.9
申请日:2012-06-11
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种反射式差动共焦透镜中心厚度测量方法。该方法通过差动共焦测量方法配合平面反射镜精确定位透镜前表面顶点和后表面顶点,进而通过光线追迹公式测得透镜中心厚度。本发明首次提出利用被测透镜自身发出的光束并结合差动共焦技术对被测透镜前、后表面顶点进行高精度定焦瞄准,很大程度上降低了被测透镜的装调难度,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点,可用于透镜中心厚度的高精度检测。
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