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公开(公告)号：CN112327694A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011215464.6
申请日：2020-11-04
Applicant: 中北大学
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明属于取样示波器精密延时技术领域，具体涉及一种基于FPGA的高精度三级延时系统与方法，包括精密延时模块、细延时模块、FPGA模块、输出选择模块、时基放大压缩模块，所述FPGA模块分别与精密延时模块、细延时模块、输出选择模块连接，所述精密延时模块连接有细延时模块，所述细延时模块连接有输出选择模块，所述输出选择模块与时基放大压缩模块连接。本发明精密延时采用高精度专用延时芯片，延时分辨率高，可达0.1ps；本发明采用三级延时电路设计，延时范围大；本发明采用时基放大压缩模块设计，可以对精密延时信号进行幅度放大及下降沿压缩，驱动取样器对射频信号进行采样。本发明用于信号的延时。
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公开(公告)号：CN112284529A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011166271.6
申请日：2020-10-27
Applicant: 中北大学南通智能光机电研究院
Abstract: 本发明属于激光脉宽测量技术领域，具体涉及一种基于FPGA的高精度多路激光脉宽测量装置及方法，所述光电转换模块通过导线与放大电路连接，所述放大电路连接有微分电路，所述微分电路连接在FPGA‑TDC模块上，所述直流稳压供电分别与光电转换模块、放大电路、微分电路、FPGA‑TDC模块连接。本发明只采用6个滤光片加高速光电探测器组成脉宽探测装置来避免虚警、漏警引起的误判；本发明采用FPGA模块来实现高精度时间数字转换来实现激光脉宽的测量，并且可以使测量精度达到皮秒级别；本发明采用FPGA模块来同时控制6路高速光电探测器探测激光脉宽来降低激光测试系统的误测率，提高系统的可靠性。本发明用于对激光脉宽测量。
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公开(公告)号：CN108549124B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201810324012.8
申请日：2018-04-12
Applicant: 中北大学
IPC: G02B5/18
Abstract: 本发明属于光栅加工技术研究领域，具体涉及一种采用脉冲激光加工全息金光栅的装置及方法，该装置包括脉冲激光器、扩束准直系统、第一反射镜、玻璃基底、角度调节间隔子、第二反射镜、电动位移平台和控制电脑，加工全息金光栅的方法采用固体脉冲激光器，并结合全息成像技术，利用等厚干涉的全息记录技术，使得加工的系统采用共光路结构，加工过程不需要对脉冲激光进行分光束干涉，提高了系统的稳定度，并且能够实现光栅刻线周期以及光栅面积的灵活调节，是一种稳定性好、加工效率高、光栅刻线周期及光栅面积可灵活调节的光栅加工技术。该光栅加工的装置及方法是基于脉冲激光和等厚干涉技术实现的。
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公开(公告)号：CN111272281A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010143488.9
申请日：2020-03-04
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于干涉具稳定控制技术领域，具体涉及一种弹光调制傅里叶光谱仪中干涉具稳定控制装置及方法，卡塞格林望远镜的一侧依次设置有起偏器、弹光调制干涉具，弹光调制干涉具分别连接有第一分束器、第二分束器，第一分束器设置在参考激光的出射光路上，第二分束器的分束光路上设置有第二探测器，第二探测器连接有高速比较器；弹光调制干涉具的一侧依次设置有解偏器、第一探测器，高速比较器和AD采集电路均连接在数据处理控制模块上，弹光调制干涉具通过LC驱动电路与数据处理控制模块连接。本发明实现弹光调制干涉具的电-力-光闭环自适应稳定控制，最终实现弹光调制干涉具的高效稳定工作。本发明用于弹光调制干涉具的控制。
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公开(公告)号：CN111122923A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN202010068483.4
申请日：2020-01-21
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于SMT夹具技术领域，具体涉及一种用于多种芯片测试的SMT夹具，包括底层结构、中层结构、顶层结构，所述底层结构包括底座，所述中层结构包括芯片限位块、弹片限位块，所述顶层结构包括夹具盖、限位按压块，所述底座上设置有芯片限位块，所述芯片限位块的中心设置有按压方形槽，所述按压方形槽顶部的中心处设有芯片限位槽，所述芯片限位块的侧面设置有三个弹片限位块，所述弹片限位块固定在底座上，所述弹片限位块的中部设置有弹片限位槽，所述限位按压块固定在夹具盖的中心处。本发明可以直接固定于测试板上，利用弹片作为测试板与夹具的衔接便可以进行芯片测试。本发明用于芯片的测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108490373B
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201810120989.8
申请日：2018-02-07
Applicant: 中北大学
Abstract: 一种全自动调零电子式冲击电流计及其调零方法，目的是具有自动纠正补偿偏差的能力而且调零过程简单；本发明包括积分器、数据采集和调零电路、信号检测器和显示器；积分器包括高开环增益低漂移运算放大器AD708和积分电阻、积分电容；AD708的反相输入端接积分电阻R1一端，R1另一端作为该积分器输入端；数据采集和调零电路包括单通道的双极性电压输入串行输出的A/D转换器、串行输入单通道的双极性电压输出的D/A转换器、2选1双向模拟开关CD4053和单片机；信号检测器包括跟随器、双比较器LM319和用CD4013做成的单稳态触发器；单稳态触发器的输出端接单片机的中断请求输入端，显示器通过串口接收并显示单片机发来的数据；积分器零漂就是整个装置的零漂。
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公开(公告)号：CN110082928A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910359541.6
申请日：2019-04-30
Applicant: 中北大学
IPC: G02B27/48
Abstract: 本发明涉及激光显示技术领域，更具体而言，涉及一种基于偏振多样性与角度多样性结合的激光消散斑装置，沿光路依次设置激光器、准直透镜、合束镜、基于偏振多样性的静态消散斑装置、基于角度多样性的静态消散斑装置、散射片、光通管、中继透镜、数字微镜器件、投影透镜组和观测屏。在光源部分加入相应波片，无需对激光显示系统做任何改变，就可通过非运动方式实现多种散斑抑制技术结合的激光散斑减少。根据激光投影系统的特性设计了激光散斑抑制方案，既不影响投影系统的整体结构，又能抑制激光散斑，结构简单、成本低、系统的一致性和稳定性高。
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公开(公告)号：CN109029273A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201811240791.X
申请日：2018-10-24
Applicant: 中北大学
CPC classification number: G01B11/02 , G01B9/02055
Abstract: 本发明涉及位移测量技术领域，更具体而言，涉及一种基于环形器的纳米光栅0级检测位移的测量方法，通过纳米光栅直接反射后的0级衍射光与经过反射镜后反射回的0级衍射光干涉信号来测量，实现入射光与检测光共光路；采用探测0级衍射光的方法，提高光能利用率和光电探测灵敏度；并且结合光纤环形器实现入射光与检测光共光路的方法，实现方便，请可有效消除杂散光的影响；结合在光栅处添加压电陶瓷驱动器，使其进行正弦调制，通过锁相放大一倍和二倍频信号，实现位移的高精度和高灵敏度测量，消除了背景噪声及激光强度波动对测量的影响，通过锁相一倍频信号和二倍频信号幅值，并进行相除可消除激光光强波动导致位移测量精度下降问题。
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公开(公告)号：CN109029272A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201811240765.7
申请日：2018-10-24
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及高精度位移测量技术领域，更具体而言，涉及一种双通道光栅位移测量方法，通过改变传统亚波长双层光栅结构，实现两个相位相差90°的双通道光栅位移传感，结合反正切可实现大量程、全量程灵敏度一致的高精度位移测量。由于该方法可获得一个通道光强随位移为正弦三角函数、另一个通道光强光强随位移为余弦三角函数，并且光栅常数d为亚波长级别，结合高倍细分技术，可实现跟高位移灵敏度的探测。
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公开(公告)号：CN108519335A
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201810314306.2
申请日：2018-04-10
Applicant: 中北大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明涉及领域椭偏测量方法及仪器设备技术领域，更具体而言，涉及一种基于弹光调制的光谱椭偏测量装置及方法，该光谱椭偏测量装置及方法是基于45°双驱动对称结构弹光偏振调制和FPGA的弹光驱动控制及数据信号处理技术实现的。复色光源经单色仪输出准单色光后，经过光速整形及准直，通过起偏器、待测样品、弹光调制器，最后经检偏器出射，并被光电倍增管探测接收。在FPGA单元中实现调制光信号倍频项的同相分量和正交分量解调，并传入控制电脑。该光谱椭偏测量装置无需机械调节，测量速度快，精度和灵敏度较高、便于自动化控制，能够为椭偏测量技术相关领域提供新理论和新方法。
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