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公开(公告)号：CN118209842A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410328005.0
申请日：2024-03-21
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于RF射频夹具技术领域，具体涉及一种用于多种芯片测试的RF射频夹具的自动去嵌入方法，采用AFR算法与TDR结合的时域频域混合的去嵌入方法，AFR对比其他传统去嵌入方法而言，在保证测量准确度的前提下，减少了测量次数，提高了射频芯片参数的测量效率，降低了射频芯片测试成本。RF射频夹具是放置在PCB板上用来固定并测试芯片和各种元器件的夹具；该夹具用于测试可通过频率高达44GHz的射频芯片ADRF5024的性能，例如插入损耗、回波损耗和驻波比等参数。夹具测试避免其Pad损坏，提高了测试芯片的重复利用性，使得芯片便于快速取放。
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公开(公告)号：CN105136299B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201510251077.0
申请日：2015-05-18
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明涉及一种红外光谱反演方法，具体涉及一种基于PEM的新型红外光谱反演方法及其装置，是一种采用弹光调制干涉具、无需知道零光程差点、高通量的红外光谱测量方法；提出一种非傅里叶变换的新型PEM红外光谱反演方法，该方法只需以PEM驱动频率为参考，以等时间采样方式采集一个驱动周期的干涉信号，无需知道零光程差点；最大光程差以短波长、单色性较好的632.8nm的氦氖激光器为参考得到；对PEM调制的干涉信号进行快速傅里叶变换，得到矩阵B，通过最大光程差L0和测量光谱波段范围得到系数矩阵A，由公式得到被测光光谱；本发明主要应用在红外光谱反演方法方面。
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公开(公告)号：CN104535191B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410857811.3
申请日：2014-12-31
Applicant: 中北大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，属于偏振光谱成像测量结构技术领域；提供一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，该结构完全通过电脑控制磁旋光线圈电压和AOTF的驱动频率实现偏振光谱成像，无运动部件，且只需一个面阵列光电探测器；包括前置望远准直光学模块、磁致旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块、面阵列光电探测器和控制电脑，所述前置望远准直光学模块、磁致旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块和面阵列光电探测器依次放置，所述面阵列光电探测器与控制电脑连接；本发明主要应用在偏振光谱成像测量方面。
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公开(公告)号：CN104977084A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201510391690.2
申请日：2015-07-06
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及AOTF光谱成像技术领域，涉及一种提高AOTF成像空间分辨率和光谱分辨率的方法；提出一种采用多次迭代去逼近真值的优化算法，在某波长下，将CCD成像的每个象元得到的光强减去由于光谱和衍射角展宽的干扰光，从而获得光强真值，该真值是经过多次迭代获得，因此方法将AOTF获得的二维图像和一维光谱的数据立方经过多次迭代来提高最终的成像空间分辨率和光谱分辨率；首先对AOTF衍射角展宽进行测量，然后对AOTF衍射光谱展宽进行测量，经过上述两者的测量得出衍射效率η(xi+m,yj,λk,mdλ)；通过AOTF光谱成像获得被测目标在CCD的象元(xi,yj)探测的光强I0(xi,yj,λk)；通过公式进行多次迭代；本发明主要应用在AOTF光谱成像方面。
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公开(公告)号：CN119935504A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510076070.3
申请日：2025-01-17
Applicant: 中北大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于镜片分析技术领域，具体涉及一种基于弱相干光源干涉的镜片分析方法及装置，包括红光LED光源、绿光LED光源、蓝光LED光源、蓝紫光LED光源、紫光LED光源、第一准真透镜、第二准直透镜、第三准直透镜、长焦聚焦透镜、透绿反红蓝陷阱滤光片、透蓝反红二向色镜、半透半反镜、精密可移动镜片、哈特曼光阑、面阵相机、光电探测器、光电门和待测镜片。本发明采用五个波长的LED光源，分时点亮方式，结合弱相干光干涉理论，通过电机扫描不同界面0光程差下干涉信号最强的位置，实现被测镜片厚度、折射率、阿贝数、光程、防蓝光等的分析测量，整个系统结构简单、精度高、成本低、集成度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112129983B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202011021173.3
申请日：2020-09-25
Applicant: 中北大学
IPC: G01R13/02
Abstract: 本发明属于波形恢复数据处理技术领域，具体涉及一种基于等时间间隔等效取样的波形恢复数据处理方法，包括下列步骤：S1、采用等时间间隔脉冲信号对超高频信号进行等效取样；S2、在频域内逐次逼近超高频信号的幅值最大值所对应的频率值；S3、通过欠取样时域波形和频率值的确定，重建原始信号。所述S1中对超高频信号进行取样的方法为：采用三个相邻采样频率对被测超高频信号分别进行取样，得到采样值。本发明采用三个相邻采样频率对被测信号进行取样，可克服被测信号含有整倍频采样率成分时的漏频问题，同时也可以基于三个不同取样率的取样信号进行频谱信号的频率计算。本发明用于波形的恢复及数据处理。
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公开(公告)号：CN111257740B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202010263660.4
申请日：2020-04-07
Applicant: 中北大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于测试夹具技术领域，具体涉及一种用于射频开关芯片测试的PCB夹具，包括弹片、PCB夹具底座和PCB夹具盖，所述PCB夹具盖设置在PCB夹具底座上，所述PCB夹具底座包括上层、下层，所述上层为弹片限位块，所述弹片设置在弹片限位块内，所述下层为PCB夹具底板，所述弹片限位块固定在PCB夹具底板上，所述弹片限位块四面分别置有大小相同的矩形槽口，所述弹片限位块中心处的PCB夹具底板上固定有支撑衬底，所述支撑衬底上设置有芯片支撑块，所述芯片支撑块的四周设置有四个大小相同的弹簧固定槽。本发明具有结构简单、灵敏度高、寿命长、制作成本低的特点，本发明可以根据不同PCB测试板做改变，有效降低设计成本。本发明用于射频开关芯片的测试。
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公开(公告)号：CN111443231B
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010288652.5
申请日：2020-04-14
Applicant: 中北大学
IPC: G01R19/00
Abstract: 本发明属于感应电流检测技术领域，具体涉及一种基于锁相放大的非接触式感应电流检测系统及方法，包括控制电路、波同转换器、双脊形波导、电源模块、第一射频信号源、锁相放大器、第二射频信号源，双脊形波导的两端分别连接有波同转换器，双脊形波导通过波同转换器分别连接有控制电路、电源模块、第一射频信号源、锁相放大器，锁相放大器连接有第二射频信号源，双脊形波导内设置有敏感单元桥丝、隧道磁阻探头，所述敏感单元桥丝与隧道磁阻探头连接。本发明可以有效避免测试设备引入误差，通过锁相的方法能在干扰环境中提取出有效的隧道磁阻探头的输出电压值，从而间接得到敏感单元桥丝上感应电流的大小。本发明用于感应电流的检测。
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公开(公告)号：CN105136295A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510593719.5
申请日：2015-09-17
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及AOTF光谱成像技术领域，更具体而言，涉及一种AOTF同一幅图中光谱不均匀的解决方法及装置，主要用来解决AOTF成像中同一幅图的光谱不均匀，是一种通过后续数据处理实现光谱修正的方法；本发明通过公式得出在任意驱动频率f、任意CCD的x方向的象元xi对应AOTF衍射的中心波长；本发明主要应用在AOTF光谱成像方面，与现有的AOTF成像光谱相比，同一幅图光谱的平均误差可降低一个数量级，明显提高了AOTF的光谱测量精度。
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公开(公告)号：CN104501957A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410857812.8
申请日：2014-12-31
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明一种基于电光调制的小型静态傅里叶光谱测量结构，属于傅里叶光谱测量技术领域；提供一种通过改变电压实现调制光程差的小型静态傅里叶光谱测量，该结构实现了高光谱分辨率、无运动部件、调制速度快；包括缩束准直模块、小型静态干涉具和高速光电探测器，所述缩束准直模块、小型静态干涉具和高速光电探测器沿Z轴依次放置，所述缩束准直模块包括第一透镜、光阑和第二透镜，所述第一透镜、光阑和第二透镜沿Z轴依次放置，所述小型静态干涉具包括起偏器、小型电光调制器和检偏器，所述起偏器、小型电光调制器和检偏器沿Z轴依次放置；本发明主要应用在傅里叶光谱测量技术领域。
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