一种基于环形器的纳米光栅0级检测位移的测量方法

    公开(公告)号:CN109029273A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201811240791.X

    申请日:2018-10-24

    Applicant: 中北大学

    CPC classification number: G01B11/02 G01B9/02055

    Abstract: 本发明涉及位移测量技术领域,更具体而言,涉及一种基于环形器的纳米光栅0级检测位移的测量方法,通过纳米光栅直接反射后的0级衍射光与经过反射镜后反射回的0级衍射光干涉信号来测量,实现入射光与检测光共光路;采用探测0级衍射光的方法,提高光能利用率和光电探测灵敏度;并且结合光纤环形器实现入射光与检测光共光路的方法,实现方便,请可有效消除杂散光的影响;结合在光栅处添加压电陶瓷驱动器,使其进行正弦调制,通过锁相放大一倍和二倍频信号,实现位移的高精度和高灵敏度测量,消除了背景噪声及激光强度波动对测量的影响,通过锁相一倍频信号和二倍频信号幅值,并进行相除可消除激光光强波动导致位移测量精度下降问题。

    一种双通道光栅位移测量方法

    公开(公告)号:CN109029272A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201811240765.7

    申请日:2018-10-24

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及高精度位移测量技术领域,更具体而言,涉及一种双通道光栅位移测量方法,通过改变传统亚波长双层光栅结构,实现两个相位相差90°的双通道光栅位移传感,结合反正切可实现大量程、全量程灵敏度一致的高精度位移测量。由于该方法可获得一个通道光强随位移为正弦三角函数、另一个通道光强光强随位移为余弦三角函数,并且光栅常数d为亚波长级别,结合高倍细分技术,可实现跟高位移灵敏度的探测。

    一种双通道光栅位移测量方法

    公开(公告)号:CN109029272B

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201811240765.7

    申请日:2018-10-24

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及高精度位移测量技术领域,更具体而言,涉及一种双通道光栅位移测量方法,通过改变传统亚波长双层光栅结构,实现两个相位相差90°的双通道光栅位移传感,结合反正切可实现大量程、全量程灵敏度一致的高精度位移测量。由于该方法可获得一个通道光强随位移为正弦三角函数、另一个通道光强光强随位移为余弦三角函数,并且光栅常数d为亚波长级别,结合高倍细分技术,可实现跟高位移灵敏度的探测。

Patent Agency Ranking