车辆长度测量装置及车辆外轮廓测量系统

    公开(公告)号:CN107990831B

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN201711443773.7

    申请日:2017-12-27

    Abstract: 本发明提出一种车辆长度测量装置及车辆外轮廓测量装置,涉及车辆测量技术领域。本发明的车辆长度测量装置可用于测量通过一测量通道的一车辆的长度。该车辆长度测量装置包括第一激光扫描仪、速度传感器和第一处理单元。第一激光扫描仪设于测量通道的一侧,能形成平行或重合于测量通道中心线的扫描面,并能检测车辆的前端面到达第一参考位置的第一时刻及后端面驶离第二参考位置的第二时刻。速度传感器用于实时检测车辆的车速,获得实时的速度数据。第一处理单元用于接收速度数据,并从第一时刻到第二时刻对车速进行积分,再减去第一参考位置与第二参考位置之间的距离,以获得车辆的长度。

    高纯锗探测器
    103.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111211197A

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN202010040757.9

    申请日:2013-12-27

    Abstract: 本发明公开了一种高纯锗探测器,该高纯锗探测器包括:高纯锗晶体,所述高纯锗晶体具有本征区裸露表面;第一电极和第二电极,所述第一电极和第二电极分别与高纯锗晶体的第一接触极和第二接触极相连;和导电保护环,所述导电保护环设置在所述本征区裸露表面中且环绕所述第一电极以将本征区裸露表面阻隔成内区域和外区域。该高纯锗探测器能够通过在高纯锗探测器的本征区裸露表面中设置导电保护环来将该表面的漏电流与检测电流隔离开从而抑制表面漏电流的干扰。

    辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器

    公开(公告)号:CN106596597B

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201611143083.5

    申请日:2016-12-08

    Abstract: 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器,涉及辐射探测技术领域。其中,本发明的一种辐射探测装置包括:射线探测器;与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC;和与高速ADC连接的数据处理器;其中,射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号;高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据;数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数,进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数,进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像,从而提高被测物体的辐射探测成像质量,提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。

    图像检查模拟方法、装置、设备和计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN109901977A

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201711294990.4

    申请日:2017-12-08

    Abstract: 本发明公开了一种图像检查模拟方法、装置、设备和计算机可读存储介质。所述图像检查模拟方法包括:记录操作者对练习图像的检查操作,得到检查操作集合;获取预存的与所述练习图像对应的标准操作集合;将所述检查操作集合与所述标准操作集合比对,判断所述检查操作是否符合图像检查标准,所述图像检查标准包括:所述检查操作集合中的检查操作包括所述标准操作集合中的所有标准操作。本发明实施例的图像检查模拟方法、装置、设备和计算机可读存储介质,提供了一种对图像检查操作是否符合检查标准的判定方案,通过该方案能够便捷有效的提高图像检查的准确性和检查效率。

    车载式检查系统
    107.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105445294B

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201410443085.0

    申请日:2014-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种车载式检查系统,该车载式检查系统包括:底盘;设置在底盘上的回转机构;与所述回转机构连接的、用于发射射线的第一射线发射装置;与所述回转机构连接的、用于接收第一射线发射装置发射的射线的第一探测装置;以及与所述回转机构连接的、用于发射射线的第二射线发射装置,其中所述回转机构能够大致使第一射线发射装置、第一探测装置、第二射线发射装置围绕竖直轴线在收回位置和工作位置之间转动。通过在一辆运输工具上安装多套成像装置,在一次扫描过程中获得物体多角度透视图像。

    半导体探测器的信号处理方法及装置

    公开(公告)号:CN105242300B

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201510417228.5

    申请日:2015-07-15

    Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置,包括:获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系;根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间,所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间;在半导体探测器数据采集时,根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷,降低了本底噪声的影响,进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率,改善了峰康比。

    CT检查系统
    110.
    发明公开
    CT检查系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN108542413A

    公开(公告)日:2018-09-18

    申请号:CN201810437001.0

    申请日:2018-05-09

    Abstract: 本发明涉及CT检测技术领域,特别涉及一种CT检查系统。本发明所提供的CT检查系统,包括旋转支架、扫描单元和旋转驱动装置,旋转驱动装置的旋转驱动单元包括支撑梁和两个具有驱动轮的轮驱动机构,支撑梁可摆动地设置,两个轮驱动机构设置在支撑梁上并位于支撑梁摆动中心的两侧,驱动轮转动时通过带动旋转支架转动而使扫描单元转动。在本发明中,可摆动的支撑梁能够在位于其摆动中心两侧的两个轮驱动机构中的一个所受载荷较大时通过摆动将载荷自动向另一个分配,使得各轮驱动机构能够较为均衡地承担压力,因此,能够实现旋转支架更稳定的转动过程,从而有效提高被旋转支架带动转动的放射源装置和探测装置的旋转稳定性。

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