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公开(公告)号：CN115493705B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202110672172.3
申请日：2021-06-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/12
Abstract: 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法，装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块；光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光，并将辐射的光入射至分光模块；分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光，并分别投影至对应的探测器；反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数；温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温，得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温；温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。
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公开(公告)号：CN118165641A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211544650.3
申请日：2022-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: C09D183/08 , C09D7/62 , C09D5/32
Abstract: 本发明提供一种可喷涂耐高温超黑涂层及其成型方法，其组成包括填料、聚合物基体、添加剂和溶剂，其中，所述填料为采用微纳结构碳材料作为原料并通过原位碳纳米管表面改性得到的超黑材料；所述聚合物基体为多杂原子掺杂有机硅树脂，其主链为Si‑O‑Si结构，所述杂原子为非金属元素和/或金属元素，所述杂原子位于主链上。本发明能够将涂层耐温范围提高至400℃～500℃以上，能够实现更宽谱段、更高效的吸收效果，可应用于高温条件下的宽谱段红外辐射原位校准。
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公开(公告)号：CN114688990B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202011576170.6
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种基于光场相机的多参数三维测量装置、系统及方法，所述装置包括：脉冲激光组件、滤光组件、光场相机以及处理单元；其中，所述脉冲激光组件发出脉冲光束以对待测目标进行周期性的照明，且所述待测目标能够在脉冲激光组件发出脉冲光束时，根据脉冲光束形成反射光；滤光组件用于根据脉冲光束对反射光进行滤光，以及对待测目标的自发光进行滤光；光场相机基于滤光后的反射光以及自发光采集待测目标的图像以分别获得速度光场图像以及温度光场图像；处理单元用于根据所述速度光场图像获取待测目标的速度，以及根据温度光场图像获取待测目标的温度。上述装置既可以获取温度，也可以获取速度，适用于发动机试车试验中开展多参数测量工作。
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公开(公告)号：CN114303686B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202011055301.6
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: A01G7/06
Abstract: 本发明提供了一种农作物顶端优势去除装置及方法，所述装置包括：光纤激光器组件、传输光纤、扩束准直组件以及F‑θ镜；所述光纤激光器组件通过所述传输光纤将激光束传入所述扩束准直组件；所述扩束准直组件依据所述F‑θ镜与农作物顶芽之间的距离调整所述激光束的发散角、腰斑半径及腰斑位置，使所述激光束经过F‑θ镜后聚焦到所需去除的农作物顶芽所在的区域去除农作物顶芽。本发明的农作物顶端优势去除装置及方法，通过高能量的激光进行精准切割，不会对切割区域外的农作物植株造成损伤，精准控制激光的作用范围和强度，提高了打顶效率，保护农作物等植株，增加农作物的产量和品质。
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公开(公告)号：CN115732289A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202111025371.1
申请日：2021-09-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种真空紫外放电管，该放电管包括氟化镁光学窗口、过渡腔、软玻璃腔和硬玻璃泡壳，过渡腔包括多个热膨胀系数不同的过渡单元，且多个过渡单元按照热膨胀系数的大小顺序依次连接，硬玻璃泡壳与热膨胀系数最低的过渡单元连接，软玻璃腔一端与热膨胀系数最高的过渡单元与连接，另一端与氟化镁光学窗口连接。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中氟化镁光学窗口无法实现可靠封接的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113916386A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010644796.X
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种基于气体电离室的真空紫外波长校准装置，包括：真空紫外光源为气体放电光源，前端窗口为氟化镁窗口，用来提供覆盖120nm～200nm波段范围的光谱能量；真空紫外单色分光系统包括入射狭缝、分光光栅、出射狭缝，真空紫外光源的光经入射狭缝进入，经分光光栅分光形成单色光，经出射狭缝出射；真空紫外准直系统包括多片光学镜片，使得真空紫外准直系统的焦面位置与真空紫外单色分光系统的出射狭缝位置重合，对真空紫外单色分光系统的出射光进行准直，形成平行光出射；真空紫外漫射系统为长方形，铝基底材料进行打磨制成，其表面为漫反射表面；真空紫外切换机构为圆形转台或平移导轨，可将漫射系统移入移出。
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公开(公告)号：CN112229330A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN201910634548.4
申请日：2019-07-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及测量技术领域，公开了一种高温环境中位移场测量系统。其中，该系统包括：成像装置，用于对具有特征标示的被测目标进行成像得到包含特征标示的被测目标图像序列；控制处理装置，用于对被测目标图像序列中每个被测目标图像的特征标示进行识别，分析特征标示在对应图像中的坐标位置，并基于坐标位置确定被测目标的位移场；热防护结构腔体，成像装置设置在所述热防护结构腔体内，所述热防护结构腔体具有隔热透光窗口，所述成像装置通过所述隔热透光窗口对被测目标进行成像。由此，可以实现对高温环境下的被测目标的非接触式位移测量。
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公开(公告)号：CN109557521B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201710871361.7
申请日：2017-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种红外脉冲激光目标模拟装置，红外脉冲激光目标模拟装置包括红外光源组件、汇聚光学组件、单色仪、准直光学组件、偏振调制组件和频率调制组件，红外光源组件用于发出红外光，汇聚光学组件用于聚焦红外光，单色仪用于从红外光中分离出设定波长的单色光，准直光学组件用于准直红外光，偏振调制组件用于将红外光调制成偏振光，频率调制组件用于将红外光调制成设定脉冲频率的激光。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中使用实物激光器进行测试试验的成本高且操作复杂的技术问题。
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公开(公告)号：CN107036534B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201610075934.0
申请日：2016-02-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开的一种基于激光散斑测量振动目标位移的方法及系统，涉及震动物体的位移测量技术，能够精确测量震动物体的位移。来自成像组件和来自反射镜的光能量在光电探测组件的CCD感光面上均分布呈多个斑并发生干涉，被测物体在振动过程中发生位移，对散斑图像进行运算，获得被测物体的振动信息，对干涉图像进行运算，获得被测物体的振动和位移的总体信息，再将两组信息进行组合计算获得被测物体的位移信息，主要用于测量振动目标位移。
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公开(公告)号：CN111006773A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911179919.0
申请日：2019-11-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，属于红外辐射定标技术领域，解决了现有红外辐射面的温度均匀性差的问题。本发明的空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，包括热匀化导热层、加热层和分离式电极组，热匀化导热层位于加热层和MEMS红外辐射面之间；分离式电极组为加热层供电，使加热层发热；加热层对MEMS红外辐射面进行加热；热匀化导热层对MEMS红外辐射面起到热匀化作用，提升MEMS红外辐射面温度的均匀性。本发明能够大幅度提升空间环境下MEMS红外辐射面的均匀性，温度分布均匀性优于3K，确保其满足红外载荷辐射定标的使用要求。
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