一种集成电路的自动测试装置

    公开(公告)号:CN218524831U

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202222765750.0

    申请日:2022-10-20

    Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路的自动测试装置,包括一侧开口设置的壳体和位于所述壳体上半部的检测部,所述壳体内底壁开设有两个第一槽,所述第一槽内过盈配合有第一活塞,所述第一活塞与所述检测部相连接,所述壳体底壁内开设有两个放置腔,所述放置腔内过盈配合有第二活塞,所述放置腔上半部与对应所述第一槽下半部之间连通开设有气道,所述壳体相对两侧均开设有排气孔,所述排气孔与对应所述第一槽下半部相通,所述壳体侧壁对应所述排气孔的位置设置有泄压阀。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型在检测部下降对电路板进行测试时,能够自动对不同尺寸的电路板定位并固定,提高了集成电路自动测试装置的适用性。

    一种电子整机高温动态老化测试装置

    公开(公告)号:CN218213235U

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202222299973.2

    申请日:2022-08-31

    Abstract: 本实用新型涉及一种电子整机高温动态老化测试装置,其特征在于:包括测试机主体以及安装在测试机顶部的导风板,导风板为中空结构,导风板底部开设有与测试机主体相通的导风孔,导风板一端设置有安装在测试机主体顶部的安装架,安装架内部安装有散热风机,散热风机与导风板相通,测试机主体一侧面安装有与其活动连接的活动框,活动框内侧安装有散热网,活动框与测试机主体之间设置有用于推动其移动的活动推件,本实用新型能够在对测试机测试时其内部产生的温度进行测量,在测量过程中对散热网进行开合调节以及在温度过高时,通过散热风机想测试机主体内部吹入凉风,进行快速降温,提高了降温效率。

    一种冲击碰撞自动测试装置

    公开(公告)号:CN216717766U

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202220189062.1

    申请日:2022-01-24

    Abstract: 本实用新型公开了一种冲击碰撞自动测试装置,其中,平台底架的底部设有上升驱动机构,上升驱动机构包括上升驱动电机、减速箱、电磁释放器、驱动转杆以及驱动竖杆,驱动竖杆分别固接于测试平台的两侧并且滑动连接于平台底架,驱动竖杆的中下部设有直线齿轮;驱动转杆转动设置,驱动转杆的两端分别设有一圆形齿轮,这两个圆形齿轮分别与相应的直线齿轮啮合;电磁释放器连接于驱动转杆与减速箱的输出轴之间,用作通电情况下的电磁吸合以及同步转动作用;上升驱动电机的输出轴与减速箱的输入轴相接;上升驱动电机、电控泄压阀以及电磁释放器分别电连接控制主机。与现有技术相比,可根据测试参数自动设置升降尺度,以完成不同高度的跌落试验。

    一种专用于打印机的振动测试台

    公开(公告)号:CN216717759U

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202220189063.6

    申请日:2022-01-24

    Abstract: 本实用新型公开了一种专用于打印机的振动测试台,包括主架以及活动安装于主架顶部的振动平台,振动平台连接有激振机构,振动平台的台面设有可调节装夹工位大小的装夹结构,装夹结构包括第一挡边、第二挡边、第三挡边以及第四挡边,第一挡边和第二挡边分别固定在振动平台的左右两侧的,第一挡边和第二挡边之间相互平行;第三挡边以及第四挡边之间相互平行,并且这两个挡边的两端分别滑动连接于第一挡边和第二挡边,第三挡边以及第四挡边之间作相互靠拢或远离的运动配合;第三挡边以及第四挡边分别滑动安装有两个限位组件,这四个限位组件包围形成一产品限位工位。能够对不同规格大小的打印机包装进行振动测试,适用性广,运行稳定可靠。

    一种集成电路封装测试装置

    公开(公告)号:CN215986363U

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202121742934.4

    申请日:2021-07-29

    Abstract: 本实用新型公开了一种集成电路封装测试装置,包括外壳和内壳,所述外壳的内腔活动连接有内壳,所述外壳和内壳的顶面均不封闭设置,所述内壳的左右侧壁上均匀分布设置有若干个夹紧机构,所述外壳的外侧壁上设置有定位机构。本实用新型通过设置有夹紧机构,在测试时可以将集成电路的引脚插入到竖槽内,通过内壳的下移可以使得齿条与齿轮啮合转动,使得固定板将引脚快速的固定,极大的提高了测试的效率;通过设置有定位机构,通过定位机构可以便捷的实现对集成电路进行定位测试操作,使得测试方便,并通过定位机构可以实现对集成电路解除锁定,便于高效的更换集成电路测试,操作方便。本实用新型具有测试效率高和操作方便的优点。

    一种集成电路老化测试装置

    公开(公告)号:CN218122182U

    公开(公告)日:2022-12-23

    申请号:CN202222315533.1

    申请日:2022-08-31

    Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路老化测试装置,包括活动检测板以及显示板,活动检测板与显示板均设置为方形结构,且长度与宽度相同,活动检测板与显示板通过活动转杆活动连接,活动检测板上开设有用于放置集成线路板的放置槽,活动检测板内部嵌入有可沿放置槽内部上下移动的放置板,放置板设置为L型结构,放置板顶部安装有导入架,活动检测板顶部开设有用于对导入架使力的施力凹槽,显示板上安装有显示屏,显示屏一侧设置有用于调节测试参数的调节按钮。本实用新型涉及集成电路老化测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种集成电路老化测试装置,能够在对测设装置进行便捷的收放携带,结构简单,操作便捷,降低检测设备的制造成本。

    一种半导体集成电路测试器

    公开(公告)号:CN219302602U

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202223352857.9

    申请日:2022-12-14

    Abstract: 本实用新型涉及一种半导体集成电路测试器,包括测试台以及放置在测试台上的半导体芯片,测试台上安装有用于对半导体芯片进行卡紧的夹持架,半导体芯片放置在夹持架内部,夹持架内壁设置有可沿其内部移动的防滑卡紧板,防滑卡紧板一侧面连接有用于推动其移动的活动推杆,活动推杆与用于带动其移动的推动件相连。本实用新型涉及集成电路测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种半导体集成电路测试器,在半导体芯片进行测试时进行稳定夹持,能够自动的对半导体芯片四个侧面进行卡紧松动,操作简单,夹持稳定。

    一种集成电路板的多工位测试装置

    公开(公告)号:CN218524497U

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202222765782.0

    申请日:2022-10-20

    Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路板的多工位测试装置,包括装置本体和设置在装置本体上的耐压检测组件,在挤压面板、拉伸杆、L形磁铁、固定磁铁、气缸、挤压面板、连接面板、滑杆、第二弹簧、顶起柱和连接孔的配合下,顶起柱对电路板进行顶起,当电路板与测试槽发生一定的脱离时,关闭气缸,当将电路板都取出时,再次开启气缸,其带动挤压面板继续向上移动,同时L形磁铁带动固定磁铁发生位移直至固定磁铁与阻隔块相接触,使二者相脱离,此时连接面板受到第二弹簧的弹力恢复到初始的位置。本实用新型涉及电路板测试的技术领域。本实用新型具有可便捷地将多个电路板与测试槽发生一定的脱离,便于操作者将其进行取出的效果。

    一种基于二维码质检方法的装置

    公开(公告)号:CN216486456U

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN202220029582.6

    申请日:2022-01-06

    Abstract: 本实用新型提供了一种基于二维码质检方法的装置,尤其涉及质检领域。包括:显示组件、二维码扫描组件、拍摄组件、选取组件及中央处理组件,显示组件、二维码扫描组件、拍摄组件、选取组件及中央处理组件通过自组网模块构成局域网络,二维码扫描组件包括自组网模块二及二维码扫描摄像头,中央处理组件包括服务器、自组网模块一及MES功能模块。与现有技术相比,本发明可以自动快速识别二维码信息,根据二维码信息调用具体的加工信息。相机自动多角度拍摄相框,可以进行角度变换与放大,控制自动进行质检。质检过程全自动进行也可改为人员参与进行,识别效果快,设备运行稳定。

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