公开(公告)号：CN112422955A

公开(公告)日：2021-02-26

申请号：CN202011166168.1

申请日：2020-10-27

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李婷 ,  何杰 ,  崔双韬 ,  张先娆 ,  徐晚成 ,  张曼 ,  曹天骄 ,  袁昕 ,  李倩敏 ,  时光

IPC: H04N17/00

Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，属于仿真分析领域。一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，包括以下步骤：1)对ADC比较器的翻转进行仿真分析，得出翻转区间偏移；2)计算所述翻转区间偏移分布在ADC计数器的一个时钟周期内的概率和跨越多个时钟周期的概率，并计算由此而引起的CMOS图像传感器噪声电压；3)将所述CMOS图像传感器噪声电压和对应的概率相乘，得到由ADC固有噪声引起的CMOS图像传感器噪声的计算值。本发明的分析方法，确定了由ADC固有噪声而引起CMOS图像传感器的整体噪声，在设计阶段有利于明确设计值是否满足设计要求，为噪声设计改进提供依据。

公开(公告)号：CN110232251B

公开(公告)日：2022-09-27

申请号：CN201910528445.X

申请日：2019-06-18

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李倩敏 ,  郭仲杰 ,  李婷 ,  李海松 ,  吴龙胜

IPC: G06F30/3312

Abstract: 本发明公开了一种适用于时序开关电路的噪声仿真分析方法，包括以下步骤：1)对时序开关电路进行瞬态仿真，并输入一个定频信号，电路的输出端输出仿真结果；2)对仿真结果进行采样，采样间隔为Tsample，得到离散采样序列；3)对离散采样序列进行频域变换，获得其频谱信息；4)根据频谱信息计算电路噪声；其中，Tsample为时序开关电路的工作周期，Tsig/Tsample>2，Tsig为定频信号的周期；定频信号的振幅在时序开关电路的大信号输入摆幅范围内；避免了交流仿真中由于电路大信号工作状态固定造成的噪声采样不完整。

公开(公告)号：CN110232251A

公开(公告)日：2019-09-13

申请号：CN201910528445.X

申请日：2019-06-18

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李倩敏 ,  郭仲杰 ,  李婷 ,  李海松 ,  吴龙胜

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种适用于时序开关电路的噪声仿真分析方法，包括以下步骤：1)对时序开关电路进行瞬态仿真，并输入一个定频信号，电路的输出端输出仿真结果；2)对仿真结果进行采样，采样间隔为Tsample，得到离散采样序列；3)对离散采样序列进行频域变换，获得其频谱信息；4)根据频谱信息计算电路噪声；其中，Tsample为时序开关电路的工作周期，Tsig/Tsample>2，Tsig为定频信号的周期；定频信号的振幅在时序开关电路的大信号输入摆幅范围内；避免了交流仿真中由于电路大信号工作状态固定造成的噪声采样不完整。

公开(公告)号：CN112422955B

公开(公告)日：2022-08-12

申请号：CN202011166168.1

申请日：2020-10-27

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李婷 ,  何杰 ,  崔双韬 ,  张先娆 ,  徐晚成 ,  张曼 ,  曹天骄 ,  袁昕 ,  李倩敏 ,  时光

IPC: H04N17/00

Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，属于仿真分析领域。一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，包括以下步骤：1)对ADC比较器的翻转进行仿真分析，得出翻转区间偏移；2)计算所述翻转区间偏移分布在ADC计数器的一个时钟周期内的概率和跨越多个时钟周期的概率，并计算由此而引起的CMOS图像传感器噪声电压；3)将所述CMOS图像传感器噪声电压和对应的概率相乘，得到由ADC固有噪声引起的CMOS图像传感器噪声的计算值。本发明的分析方法，确定了由ADC固有噪声而引起CMOS图像传感器的整体噪声，在设计阶段有利于明确设计值是否满足设计要求，为噪声设计改进提供依据。