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公开(公告)号：CN104052478B
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201410095256.5
申请日：2014-03-14
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
CPC classification number: H03M1/38 , H03M1/1019 , H03M1/164 , H03M1/44 , H03M1/46
Abstract: 本发明的实施方案可以提供模拟数字转换器（ADC）系统。ADC系统可以包括模拟电路，所述模拟电路接收输入信号和基准电压，并且将输入信号转换成原数字输出。模拟电路可以包括至少一个采样元件，至少一个采样元件在采样相位期间内对输入信号进行采样并且在转换相位期间再用于连接到基准电压。ADC系统还可以包括数字处理器，数字处理器接收原数字输出，并且对于每个时钟周期，在模拟数字转换中对基准电压误差进行数字校正。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107872227A
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201710862493.3
申请日：2017-09-22
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
CPC classification number: H03M1/466 , H03M1/0863 , H03M1/1245 , H03M1/14 , H03M1/68 , H03M1/804 , H03M1/806 , H03M1/468
Abstract: 本公开涉及在模数转换器中增量预加载。在SAR ADC运行期间，在执行位试验之前，几个MSB可以预加载预定位判决。可以提供系统和方法，用于增量地预加载预定位判决，以便在可接受的输入电压的有限范围内保持存在于比较器输入端的电压。
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公开(公告)号：CN104052478A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201410095256.5
申请日：2014-03-14
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
CPC classification number: H03M1/38 , H03M1/1019 , H03M1/164 , H03M1/44 , H03M1/46
Abstract: 本发明的实施方案可以提供模拟数字转换器（ADC）系统。ADC系统可以包括模拟电路，所述模拟电路接收输入信号和基准电压，并且将输入信号转换成原数字输出。模拟电路可以包括至少一个采样元件，至少一个采样元件在采样相位期间内对输入信号进行采样并且在转换相位期间再用于连接到基准电压。ADC系统还可以包括数字处理器，数字处理器接收原数字输出，并且对于每个时钟周期，在模拟数字转换中对基准电压误差进行数字校正。
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公开(公告)号：CN107046423B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201710070065.7
申请日：2017-02-09
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本公开涉及具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化。模数转换器(ADC)电路包括数模转换(DAC)电路，其包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的最低有效位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。
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公开(公告)号：CN107046423A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710070065.7
申请日：2017-02-09
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
CPC classification number: H03M1/0612 , H03M1/069 , H03M1/1245 , H03M1/46 , H03M1/0678 , H03M1/468
Abstract: 本公开涉及具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化。模数转换器(ADC)电路包括数模转换(DAC)电路，其包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的至少显著位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。
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