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公开(公告)号：CN107046423B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201710070065.7
申请日：2017-02-09
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本公开涉及具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化。模数转换器(ADC)电路包括数模转换(DAC)电路，其包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的最低有效位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。
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公开(公告)号：CN109818485A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201811396100.5
申请日：2018-11-22
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Inventor： 沈军华
Abstract: 本公开涉及可重新配置的低功率和低功率栅极引导电路。采样电路包括开关电路和栅极升压电路。开关电路包括开关电路，包括用于接收输入电压的开关输入、栅极输入和开关输出。栅极升压电路为开关电路的栅极输入提供升压时钟信号。升压时钟信号的升压电压通过电压偏移跟踪所述输入电压。栅极升压电路包括耦合在第一电路节点和第二电路节点之间的单个升压电容。高电源电压施加到第一电路节点并且输入电压施加到所述第二电路节点，以在单个升压电容上产生升压电压。
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公开(公告)号：CN107046423A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710070065.7
申请日：2017-02-09
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
CPC classification number: H03M1/0612 , H03M1/069 , H03M1/1245 , H03M1/46 , H03M1/0678 , H03M1/468
Abstract: 本公开涉及具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化。模数转换器(ADC)电路包括数模转换(DAC)电路，其包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的至少显著位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。
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公开(公告)号：CN107046424A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710070081.6
申请日：2017-02-09
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
CPC classification number: H03M1/1009 , H03M1/0639 , H03M1/066 , H03M1/069 , H03M1/124 , H03M1/145 , H03M1/164 , H03M1/466 , H03M1/1033 , H03M1/468
Abstract: 本公开涉及具有双转换的ADC后台校准。模数转换器(ADC)系统可以采样输入电压为至少第一转换成第一N1位的数字值，并使用相同的输入电压样本的至少第二转换成第二N2位的数字值。第一转换的结果和第二变换的结果之间的差异可以被朝零驱动以调整一个或多个位的权重，用于在输入电压的随后样本的一个或多个后续模数转换中校准值。混洗、抖动或类似物可以帮助确保在第二转换中使用的至少部分决策路径不同于在第一转换中使用的决策路径。校准可以在后台执行，并同时ADC在正常操作模式中转换。
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公开(公告)号：CN105720980A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201510940534.7
申请日：2015-12-16
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
Abstract: 本申请涉及对于每个位电容器具有专用参考电容器的逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)。SAR ADC常规地包括用于实现将模拟输入逐位转换为数字输出的位测试的电路。用于位测试的电路通常加权(例如，二进制加权)，而这些位加权并不总是很理想。校准算法可以校准或校正非理想的位加权并通常优选这些位加权为信号独立的，使得可以易于测量和校准/校正位加权。本文所公开的实施例涉及SAR ADC的独特的电路设计，其中每个位电容器或一对位电容器(具有差分设计)具有相应的专用片上基准电容器。由于片上参考电容(提供快速参考建立时间)，得到ADC的速度较快，并同时与SAR ADC的非理想位加权相关的错误是信号独立的(可以易于测量和校正/校准)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105720980B
公开(公告)日：2019-12-17
申请号：CN201510940534.7
申请日：2015-12-16
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
Abstract: 本申请涉及对于每个位电容器具有专用参考电容器的逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)。SAR ADC常规地包括用于实现将模拟输入逐位转换为数字输出的位测试的电路。用于位测试的电路通常加权(例如，二进制加权)，而这些位加权并不总是很理想。校准算法可以校准或校正非理想的位加权并通常优选这些位加权为信号独立的，使得可以易于测量和校准/校正位加权。本文所公开的实施例涉及SAR ADC的独特的电路设计，其中每个位电容器或一对位电容器(具有差分设计)具有相应的专用片上基准电容器。由于片上参考电容(提供快速参考建立时间)，得到ADC的速度较快，并同时与SAR ADC的非理想位加权相关的错误是信号独立的(可以易于测量和校正/校准)。
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公开(公告)号：CN104518796B
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201410519933.1
申请日：2014-09-30
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本发明示例实施例提供了准确度增强技术来提高ADC的信噪比。例如，从最高有效位(MSB)到预定低有效位数字字的常规位试验和附加位试验可执行。常规位和附加位试验的结果相结合生成数字输出信号。剩余误差被测量，然后数字输出信号基于上述测量剩余误差进行调整。
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公开(公告)号：CN107046424B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201710070081.6
申请日：2017-02-09
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本公开涉及具有双转换的ADC后台校准。模数转换器(ADC)系统可以采样输入电压为至少第一转换成第一N1位的数字值，并使用相同的输入电压样本的至少第二转换成第二N2位的数字值。第一转换的结果和第二变换的结果之间的差异可以被朝零驱动以调整一个或多个位的权重，用于在输入电压的随后样本的一个或多个后续模数转换中校准值。混洗、抖动或类似物可以帮助确保在第二转换中使用的至少部分决策路径不同于在第一转换中使用的决策路径。校准可以在后台执行，并同时ADC在正常操作模式中转换。
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公开(公告)号：CN109818485B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201811396100.5
申请日：2018-11-22
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Inventor： 沈军华
Abstract: 本公开涉及可重新配置的低功率和低功率栅极引导电路。采样电路包括开关电路和栅极升压电路。开关电路包括开关电路，包括用于接收输入电压的开关输入、栅极输入和开关输出。栅极升压电路为开关电路的栅极输入提供升压时钟信号。升压时钟信号的升压电压通过电压偏移跟踪所述输入电压。栅极升压电路包括耦合在第一电路节点和第二电路节点之间的单个升压电容。高电源电压施加到第一电路节点并且输入电压施加到所述第二电路节点，以在单个升压电容上产生升压电压。
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公开(公告)号：CN103518327B
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201280022325.9
申请日：2012-04-11
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/66
Abstract: 本公开提供一种跟踪数模转换器(DAC)的操作的跟踪模块。所述DAC跟踪模块可以包括在带有DAC的芯片上，并由与DAC类似的电路部件形成。所述DAC跟踪电路可以输出信号，用以指示在每个比特转换的过程中SAR ADC内的所述DAC已经稳定至近似值。还提供一种差分解决方案。由于可以实现最佳转换速度，因此可以使功率最佳化，并且所述DAC内的比较器在比特转换结束时并在响应于所述DAC跟踪模块所输出的所述信号的下一转换周期之前可以关闭或者置于闲置模式。
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