一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法

    公开(公告)号:CN101514890B

    公开(公告)日:2010-11-10

    申请号:CN200910131922.5

    申请日:2009-03-27

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法,该测量方法首先采用热压印方法在被测物体表面制作矩形光学应变花标记,在测量光路中放置四棱锥镜,引入光学剪切量,形成具有剪切量的图像,根据数字相关方法计算具有剪切量的图像中光学应变花的4个标记点的位移,根据有限元方法计算应变花区域的应变。本发明有效提高了图像质量,改善了数字相关方法的应变求解区域不大的问题,可以实现操作简单方便,在复杂工作环境下进行现场实时的高精度大区域的无损测量。

    多功能三维位移激光干涉测量系统

    公开(公告)号:CN1304817C

    公开(公告)日:2007-03-14

    申请号:CN200410000005.0

    申请日:2004-01-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种多功能三位移激光干涉测量系统,属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。本发明由激光器,图像采集摄像系统,分光耦合器,三维干涉光路系统和六维调节载荷架五部分组成。该测量系统可实现u、v、w三个位移场的高精度实时测量,位移测量灵敏度可达波长量级,并具有云纹干涉和电子散斑干涉两种位移测量模式。采用六维调节载荷架能实现六个自由度的调节,使得本系统可同时实现单向拉压、三点弯曲加载实验,具有使用方便,结构紧凑、测量精度高等特点。系统配有相移装置,经过相移技术处理后的位移测量精度可达纳米量级。

    一种用于表征纳米多孔材料的方法

    公开(公告)号:CN104331895A

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201410673694.5

    申请日:2014-11-21

    Applicant: 清华大学

    CPC classification number: G06T7/0004 G06T7/45 G06T2207/10061 G06T2207/30124

    Abstract: 一种结合了扫描云纹技术和灰度共生矩阵处理方法的纳米多孔材料表征方法,通过扫描电子显微镜拍摄被测纳米多孔材料的云纹条纹图像,并采用灰度共生矩阵方法处理该云纹条纹图,以获得其条纹分布的统计学特征,利用几何云纹法的基本公式,可由获得的云纹条纹图中条纹分布的统计学参数求得被测纳米多孔材料的结构主周期和结构主方向。

    一种物体表面三维形貌的测量方法

    公开(公告)号:CN103424085A

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201310232350.6

    申请日:2013-06-13

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种物体表面三维形貌的测量方法,属于光测力学技术领域。本发明通过倾斜扫描电镜试样台的角度,获取被测试样在不同角度下的扫描云纹图像,对不同倾斜角度的两幅图像分别进行云纹条纹处理,分别得到两个角度下的位移场,利用扫描电镜中的立体分析模型公式,根据位移场确定被测试样的三维形貌图。本发明方法集成了扫描云纹技术测量灵敏度高、视场大的优点,实现了对微纳米尺度物体三维形貌的测量。本发明弥补了传统扫描电镜法只能测量面内信息的不足,拓展了扫描云纹法的应用范围,且对微纳米尺度物体三维形貌测量具有很好的效果。

    一种力电耦合加载与三维全场变形测量系统

    公开(公告)号:CN100347535C

    公开(公告)日:2007-11-07

    申请号:CN200610113113.8

    申请日:2006-09-15

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种力电耦合加载与三维全场变形测量系统,涉及一种对压电铁电材料施加力电耦合载荷的加载装置以及三维变形测量系统。属于结构形变及力学实验技术领域。本系统将力电耦合加载装置和三维多功能干涉系统很好的结合在同一个实验台上,在满足光测要求的同时,能够提供力载荷,电载荷以及力电耦合加载,同时可以进行云纹干涉面内变形测量和迈可耳逊干涉离面变形测量的三维测量。实现力电耦合加载下铁电陶瓷材料的180°畴变,面内、离面90°畴变的u、v、w三个位移场的高精度实时位移测量,便于畴变的细观机理分析。本发明装置使用方便,结构紧凑。

    一种二值化的纳米多孔材料表征方法

    公开(公告)号:CN104359929A

    公开(公告)日:2015-02-18

    申请号:CN201410673713.4

    申请日:2014-11-21

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种基于二值化方法的、结合了扫描云纹技术和灰度共生矩阵处理方法的纳米多孔材料表征方法,通过扫描电子显微镜拍摄被测纳米多孔材料的云纹条纹图像,并采用灰度共生矩阵方法处理该云纹条纹图,通过对获得的云纹条纹图进行二值化处理,可将图像的灰度级别降低为原来的1/128,相应地,由二值化云纹条纹图所获得的灰度共生矩阵的维数也减少到原来的1/128。本发明方法具有快速高效等优点,同时兼具灵敏度高、操作简单,以及可批量处理等优点。

    激光近净成型过程中变形场-温度场同步在线监测方法

    公开(公告)号:CN115096200A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202210688483.3

    申请日:2022-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种激光近净成型(LENS)过程中变形场‑温度场同步在线监测方法,包括以下步骤:一,在用于激光打印制作试件的基板上预先用高温漆制备一层耐高温的第一高温散斑;二,利用半透半反镜将被测物体基板和试件表面发射出的光分成两束不同方向的透射光路和反射光路,将基板的第一高温散斑的一面和试件的被观测表面对准透射光路方向;利用第一双棱镜的两个前表面上的不同中心波长的窄带通滤光膜,用以将反射光路中的图像分成两个不同波段的图像;…等。本发明可以解决LENS过程中,极端制造环境导致的变形场‑温度场测量难题。

    一种力电耦合加载与三维全场变形测量系统

    公开(公告)号:CN1920527A

    公开(公告)日:2007-02-28

    申请号:CN200610113113.8

    申请日:2006-09-15

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种力电耦合加载与三维全场变形测量系统,涉及一种对压电铁电材料施加力电耦合载荷的加载装置以及三维变形测量系统。属于结构形变及力学实验技术领域。本系统将力电耦合加载装置和三维多功能干涉系统很好的结合在同一个实验台上,在满足光测要求的同时,能够提供力载荷,电载荷以及力电耦合加载,同时可以进行云纹干涉面内变形测量和迈可耳逊干涉离面变形测量的三维测量。实现力电耦合加载下铁电陶瓷材料的180°畴变,面内、离面90°畴变的u、v、w三个位移场的高精度实时位移测量,便于畴变的细观机理分析。本发明装置使用方便,结构紧凑。

    激光近净成型过程中变形场-温度场同步在线监测方法

    公开(公告)号:CN115096200B

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202210688483.3

    申请日:2022-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种激光近净成型(LENS)过程中变形场‑温度场同步在线监测方法,包括以下步骤:一,在用于激光打印制作试件的基板上预先用高温漆制备一层耐高温的第一高温散斑;二,利用半透半反镜将被测物体基板和试件表面发射出的光分成两束不同方向的透射光路和反射光路,将基板的第一高温散斑的一面和试件的被观测表面对准透射光路方向;利用第一双棱镜的两个前表面上的不同中心波长的窄带通滤光膜,用以将反射光路中的图像分成两个不同波段的图像;…等。本发明可以解决LENS过程中,极端制造环境导致的变形场‑温度场测量难题。

    多功能三维位移激光干涉测量系统

    公开(公告)号:CN1556371A

    公开(公告)日:2004-12-22

    申请号:CN200410000005.0

    申请日:2004-01-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种多功能三位移激光干涉测量系统,属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。本发明由激光器,图像采集摄像系统,分光耦合器,三维干涉光路系统和六维调节载荷架五部分组成。该测量系统可实现u、v、w三个位移场的高精度实时测量,位移测量灵敏度可达波长量级,并具有云纹干涉和电子散斑干涉两种位移测量模式。采用六维调节载荷架能实现六个自由度的调节,使得本系统可同时实现单向拉压、三点弯曲加载实验,具有使用方便,结构紧凑、测量精度高等特点。系统配有相移装置,经过相移技术处理后的位移测量精度可达纳米量级。

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