公开(公告)号：CN1142290C

公开(公告)日：2004-03-17

申请号：CN00137209.2

申请日：2000-12-28

Applicant: 复旦大学

Inventor： 符维娟 ,  李晶 ,  周仕明 ,  周鲁卫 ,  陈良尧

IPC: C12Q1/68 ,  C12M1/34

Abstract: 本发明是一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交效率的方法及其装置。现有技术的检测方法多是将探针固定在基片上，去检测标记过的样品，这样的检测需要时间的等待，而且检测信号会随标记物信号的衰减而失去准确性。本发明用椭圆偏振仪检测DNA芯片杂交效率，通过生物分子本身的光学性质，测得其椭圆偏振参数ψ、Δ，定义与探针完全匹配的样品和只有探针存在时的芯片杂交效率分别为极大值和极小值，从而获得待测样品的杂交效率。本发明装置简捷，测量快速准确。

公开(公告)号：CN1305011A

公开(公告)日：2001-07-25

申请号：CN00137209.2

申请日：2000-12-28

Applicant: 复旦大学

Inventor： 符维娟 ,  李晶 ,  周仕明 ,  周鲁卫 ,  陈良尧

IPC: C12Q1/68

Abstract: 本发明是一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交效率的方法及其装置。现有技术的检测方法多是将探针固定在基片上,去检测标记过的样品,这样的检测需要时间和等待,而且检测信号会随标记物信号的衰减而失去准确性。本发明用椭圆偏振仪检测DNA芯片杂交效率,通过生物分子本身的光学性质,测得其椭圆偏振参数Ψ、△,定义与探针完全匹配的样品和只有探针存在时的芯片杂交效率分别为极大值和极小值,从而获得待测样品的杂交效率。本发明装置简捷,测量快速准确。