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公开(公告)号：CN105529605B
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201510974419.1
申请日：2015-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本申请实施例提供一种激光处理方法及装置，该方法通过电子时序控制器根据分别获取到的两台脉冲激光发射器的脉冲发射重复频率，确定出向第一脉冲激光发射器和第二脉冲激光发射器发送触发信号的发送频率，并根据发送频率，同步向第一脉冲激光发射器和第二脉冲激光发射器发送触发信号，使两台脉冲激光发射器在接收到触发信号后，同步发射基频脉冲激光，并使得所述基频脉冲激光同步射入非线性介质，以得到所需脉冲激光。与现有技术相比，电子时序控制器可使脉冲发射重复频率不同的两台脉冲激光发射器发射的两束基频脉冲激光同步射入到非线性介质中，从而可有效增加脉冲激光发射器的选择范围，进而可更加容易获取新波段的脉冲激光。
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公开(公告)号：CN106451053B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201610681253.9
申请日：2016-08-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: H01S3/098
Abstract: 本发明公开了一种锁模状态的探测方法和设备，包括：接收激光器输出的脉冲激光，并将所述脉冲激光转换为电压脉冲信号；根据所述电压脉冲信号的电压幅度，确定所述电压脉冲信号在设定时间周期内的实际脉冲数目；根据所述实际脉冲数目，判断所述激光器的锁模状态。通过确定激光器输出的脉冲激光对应的电压脉冲信号在设定时间周期内的实际脉冲数目，判断激光器输出的脉冲激光是否稳定，进而准确判断激光器是否稳定锁模，提高锁模状态的探测准确率，同时简化了锁模状态的探测光路，有效提高锁模状态的探测效率。
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公开(公告)号：CN106451053A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610681253.9
申请日：2016-08-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: H01S3/098
CPC classification number: H01S3/1106
Abstract: 本发明公开了一种锁模状态的探测方法和设备，包括：接收激光器输出的脉冲激光，并将所述脉冲激光转换为电压脉冲信号；根据所述电压脉冲信号的电压幅度，确定所述电压脉冲信号在设定时间周期内的实际脉冲数目；根据所述实际脉冲数目，判断所述激光器的锁模状态。通过确定激光器输出的脉冲激光对应的电压脉冲信号在设定时间周期内的实际脉冲数目，判断激光器输出的脉冲激光是否稳定，进而准确判断激光器是否稳定锁模，提高锁模状态的探测准确率，同时简化了锁模状态的探测光路，有效提高锁模状态的探测效率。
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公开(公告)号：CN105529600A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201510974412.X
申请日：2015-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: H01S3/00
CPC classification number: H01S3/0014
Abstract: 本申请实施例提供一种监测方法及设备，该方法通过将锁模激光器发射的锁模脉冲激光通过光电探测器转化为锁模脉冲信号，再通过低通滤波器将得到的锁模脉冲信号进行滤波，得到锁模脉冲信号中的低频信号，进而使得信号监测器可根据得到的低频信号，判断出锁模激光器中是否出现Q调制现象。上述方法可将锁模脉冲信号中Q调制现象所对应的低频信号有效的分离出来，从而可通过该低频信号，监测锁模激光器中是否出现Q调制现象，后续可降低Q调制现象所带来的不利影响。
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公开(公告)号：CN105529605A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201510974419.1
申请日：2015-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本申请实施例提供一种激光处理方法及装置，该方法通过电子时序控制器根据分别获取到的两台脉冲激光发射器的脉冲发射重复频率，确定出向第一脉冲激光发射器和第二脉冲激光发射器发送触发信号的发送频率，并根据发送频率，同步向第一脉冲激光发射器和第二脉冲激光发射器发送触发信号，使两台脉冲激光发射器在接收到触发信号后，同步发射基频脉冲激光，并使得所述基频脉冲激光同步射入非线性介质，以得到所需脉冲激光。与现有技术相比，电子时序控制器可使脉冲发射重复频率不同的两台脉冲激光发射器发射的两束基频脉冲激光同步射入到非线性介质中，从而可有效增加脉冲激光发射器的选择范围，进而可更加容易获取新波段的脉冲激光。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111537552A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010588332.1
申请日：2020-06-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明的一种低膨胀材料线膨胀系数测量装置及方法，属于测量技术领域。本发明采用法布里-珀罗干涉仪测量试样的长度，利于提高测量准确性。本发明采用声光调制器产生附加光频移动，利用由同一套稳频激光器、高速光电接收器和频率计数器组成的频率测量系统能够完成对法布里-珀罗干涉仪两个相邻谐振峰的频率测量，在不显著增加系统成本情况下，实现测量试样长度。本发明能够对不同温度下的试样长度进行绝对测量，突破通常法布里-珀罗干涉仪测量范围小的局限，且不需要干涉测长系统连续工作，操作方便。综上，本发明具有测量准确度高、测量范围大、干涉系统结构简单且不需要长时间连续工作等优点，在低膨胀材料线膨胀系数测量方面有重要应用价值。
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公开(公告)号：CN108007392B
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201711306080.3
申请日：2017-12-11
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种动态光电显微镜瞄准信号光调制校准方法及装置，属于光电测量技术领域。方法为：可调控的钟形波电信号加载于发光电子器件之上产生信号光；信号光分为相同的两路，一路信号光经转换变成电信号并传输给上位机；另一路信号光传输给动态光电显微镜，动态光电显微镜输出电信号传输给上位机；两路电信号进行对比，即实现校准。装置包括控制及信息处理模块，调频控制模块，光学输出模块，光学接收模块，动态光电显微镜(校准对象)。用于解决现有动态光电显微镜的瞄准触发动态校准问题，具有较好的适应性和同步测量瞄准测量的评价能力，可以在稳定位置结构的条件下，完成动态光电显微镜瞄准触发信号的动态特性校准。
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公开(公告)号：CN104614850B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201510100855.6
申请日：2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种大焦距静态光电显微镜，具体涉及一种微米级可用于瞄准测量的光学系统，属于光学领域。其包括：照明光源(1)、目标分划板(2)、投影物镜组(3)、成像物镜组(4)、棱镜组(8)、中心通光平面镜(9)、图像传感器(10)和光电转换装置(11)。本发明提出的大焦距静态光电显微镜与已有技术相比较具有长工作距离、抗干扰能力强、可实现非接触瞄准和生产成本低的优点；同时，由于该装置的投影物镜组(3)和成像物镜组(4)光学参数完全相同且采用对称式结构，因此容易实现。(5)、第一平面镜(6)、第二平面镜(7)、转向物镜
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公开(公告)号：CN105371770A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510862602.2
申请日：2015-12-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种纳米压入仪压头位移和载荷的测量装置，属于计量技术领域。其特征是由弹簧支撑的压块在外力作用下可上下移动，移动的距离由激光干涉仪测量。压块的位移与所受的力之间的关系可通过测量压块在标准砝码的重力作用下产生的位移来确定。在用于纳米压入仪压头位移和载荷测量时，压头在压块上施加载荷，其位移由激光干涉仪测量，根据该装置的加载力与位移之间的关系，可以确定载荷的大小。本装置硬件由压块、弹簧、基座、稳频激光器、分光镜、参考角锥棱镜、测量角锥棱镜、偏振片、光电探测器和测量系统组成。本发明的装置可以在一次测量过程中同时完成压头位移和载荷的测量，在材料纳米力学测试及仪器校准方面有重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN103105134B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310005758.X
申请日：2013-01-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种基于猫眼反射原理的干涉微位移测量系统，属于几何量计量技术领域。其特征是将猫眼反射原理用于干涉法微位移测量，提出猫眼反射镜引入的位移测量误差修正数学模型，并采用平衡式双光程光学系统结构以提高系统的抗干扰能力。本发明的误差修正方法可以将猫眼反射镜引入的测量误差减小到纳米量级。本系统硬件由稳频激光光源、偏振分光镜、透镜-反射镜式猫眼反射镜、角锥棱镜、波片、偏振片、必要的反射镜和直角棱镜、以及光电接收器等组成。本系统具有测量分辨力高、抗干扰能力强、可实现非接触测量等特点，可用于解决无法使用角锥棱镜的情况下的微位移干涉测量问题，在微位移、微振动、热膨胀系数等测量方面有重要的推广应用价值。
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