-
公开(公告)号：CN104634255A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510100854.1
申请日：2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于步距规测量的非接触式测量装置，属于测量技术领域。基体9固定在水平面上，导轨6固定安装于基体9的上表面；工作台8安装于导轨6上；位移机构10的一端固定于基体9上，另一端固定于工作台8上；调整机构5固定于工作台8上，并位于导轨6的正上方，调整机构5的轴线与导轨6平行。激光器1固定在基体9上表面上，其光轴与导轨6平行；桥框7固定于基体9上表面上，并跨在导轨6的两侧；瞄准定位系统2固定于桥框7上。环境传感器3固定于激光器1与被测物步距规40之间一位置。材料传感器11固定于被测物步距规40上。本发明可准确测步距规的工作长度，采用非接触测量，测量值可溯源，测量数据准确可靠。
-
公开(公告)号：CN104614850A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510100855.6
申请日：2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
CPC classification number: G02B23/10 , G02B21/361 , G02B21/364
Abstract: 本发明涉及一种大焦距静态光电显微镜，具体涉及一种微米级可用于瞄准测量的光学系统，属于光学领域。其包括：照明光源(1)、目标分划板(2)、投影物镜组(3)、成像物镜组(4)、棱镜(5)、第一平面镜(6)、第二平面镜(7)、转向物镜组(8)、中心通光平面镜(9)、图像传感器(10)和光电转换装置(11)。本发明提出的大焦距静态光电显微镜与已有技术相比较具有长工作距离、抗干扰能力强、可实现非接触瞄准和生产成本低的优点；同时，由于该装置的投影物镜组(3)和成像物镜组(4)光学参数完全相同且采用对称式结构，因此容易实现。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106352823B
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201610737241.3
申请日：2016-08-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明涉及一种基于多瞄准装置的复合坐标测量系统，属于测量技术领域。本发明包括坐标测量机、激光干涉仪、电感测微仪、光电显微镜、机械运动系统、可调整工作台和嵌入式控制及数据处理系统。采用由嵌入式控制系统、机械运动系统、激光干涉仪、电感测微仪、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度接触式坐标测量系统以及由嵌入式控制系统、三坐标测量机、机械运动系统、激光干涉仪、光电显微镜、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度非接触式坐标测量系统，可实现不同被测件，如实现球棒、步距规、量块、卡规、环规、螺纹、线纹尺、分化板等多种长度计量器等所需要的测量功能，一机多用，社会效益前景广阔。
-
公开(公告)号：CN114964107A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210532243.4
申请日：2022-05-09
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的是一种多基准的标准花键量规，属于测量工具技术领域。本发明公开的是一种多基准的标准花键量规，包括芯轴、与所述芯轴同轴设置的标准花键量规、第一圆柱基准轴、第二圆柱基准轴及圆锥基准轴；所述芯轴包括同轴设于两端的第一顶尖孔及第二顶尖孔；所述第一圆柱基准轴、所述标准花键量规、所述第二圆柱基准轴及所述圆锥基准轴依次同轴设置；所述标准花键量规的本身齿距误差、齿形误差、齿向误差均小于5微米。本发明的一种多基准标准花键量规，加工和测量基准一致，最大限度减小测量基准对齿厚测量的影响，方便评价齿厚参数的测量准确度。
-
公开(公告)号：CN114295063A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111561688.7
申请日：2021-12-16
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种花键量规参数测量方法及装置，属于计量器具校准领域。本发明的装置包括底座、工作台、运动轴、测头、立柱、上顶尖和下顶尖。测头为三维扫描测头，测量切向运动轴X轴位置的传感器安装在U轴上，测量径向运动轴Y轴位置的传感器安装在靠近Y轴运动导轨的位置。本发明使用接触测量方式扫描花键工作面，计算得到齿厚和齿槽宽；使用自定心方式，直接测得跨棒距M值。本发明采用的基圆数学模型、分度圆数学模型和花键齿形数学模型等花键数学模型和测量装置布局符合参数定义，能够满足各类型花键校准需求，尤其是能够从实质上解决奇数齿花键的校准问题，消除实际压力角偏离理论值对测量结果的影响，提高测量效率及测量结果更精确程度。
-
公开(公告)号：CN106352823A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610737241.3
申请日：2016-08-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明涉及一种基于多瞄准装置的复合坐标测量系统，属于测量技术领域。本发明包括坐标测量机、激光干涉仪、电感测微仪、光电显微镜、机械运动系统、可调整工作台和嵌入式控制及数据处理系统。采用由嵌入式控制系统、机械运动系统、激光干涉仪、电感测微仪、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度接触式坐标测量系统以及由嵌入式控制系统、三坐标测量机、机械运动系统、激光干涉仪、光电显微镜、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度非接触式坐标测量系统，可实现不同被测件，如实现球棒、步距规、量块、卡规、环规、螺纹、线纹尺、分化板等多种长度计量器等所需要的测量功能，一机多用，社会效益前景广阔。
-
公开(公告)号：CN104614850B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201510100855.6
申请日：2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种大焦距静态光电显微镜，具体涉及一种微米级可用于瞄准测量的光学系统，属于光学领域。其包括：照明光源(1)、目标分划板(2)、投影物镜组(3)、成像物镜组(4)、棱镜组(8)、中心通光平面镜(9)、图像传感器(10)和光电转换装置(11)。本发明提出的大焦距静态光电显微镜与已有技术相比较具有长工作距离、抗干扰能力强、可实现非接触瞄准和生产成本低的优点；同时，由于该装置的投影物镜组(3)和成像物镜组(4)光学参数完全相同且采用对称式结构，因此容易实现。(5)、第一平面镜(6)、第二平面镜(7)、转向物镜
-
-
-
-
-
-
Search Results
7
records
(took 0.04 seconds)
