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公开(公告)号:CN119533239A
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202411803514.0
申请日:2024-12-09
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种螺纹扫描测量仪的校准方法,包括:通过连接工具连接多个角度量块和多个长度量块模拟螺纹齿面,两端通过2个端盖固定,形成组合式螺纹标准器,所述角度量块有两个对称稳定准确的工作角度和一个稳定准确的工作长度;将组合式螺纹标准器安装在螺纹扫描测量仪上,使用螺纹扫描测量仪的量针对组合式螺纹标准器的模拟螺纹齿面进行扫描,再对该齿面的曲线进行拟合,计算出对应的螺纹中径、牙侧角和螺距参数的测量值,将其与标准值相减,得到对应参数的示值误差作为螺纹扫描测量仪的校准结果。本发明通过使用方便溯源的组合式螺纹标准器替代标准螺纹量规,能够提高螺纹扫描仪标准器的准确度,满足螺纹扫描测量仪的校准需求。
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公开(公告)号:CN117606341A
公开(公告)日:2024-02-27
申请号:CN202311602634.X
申请日:2023-11-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B7/02
Abstract: 本发明公开了一种高低温环境下LVDT传感器校准装置,包括高低温箱、位移台、支撑架、LVDT传感器及夹持装置、测量机构及夹持装置;位移台上设置有沿左右轴线方向延伸的连接杆,连接杆的末端带有输出端头,输出端头用于推动待校准的LVDT传感器运动,测量机构用于测量输出端头的位移量变化,用于对LVDT传感器的测量结果进行校准;LVDT传感器和测量机构都置于高低温箱中,LVDT传感器安装在LVDT传感器夹持装置上,测量机构安装在测量机构夹持装置上,LVDT传感器夹持装置和测量机构夹持装置安装在支撑架上,支撑架伸入高低温箱中,连接杆穿过测量机构夹持装置。本发明解决了LVDT传感器在高低温环境下的校准问题,可实现快速装调以及自动校准。
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公开(公告)号:CN106352823B
公开(公告)日:2018-03-30
申请号:CN201610737241.3
申请日:2016-08-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明涉及一种基于多瞄准装置的复合坐标测量系统,属于测量技术领域。本发明包括坐标测量机、激光干涉仪、电感测微仪、光电显微镜、机械运动系统、可调整工作台和嵌入式控制及数据处理系统。采用由嵌入式控制系统、机械运动系统、激光干涉仪、电感测微仪、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度接触式坐标测量系统以及由嵌入式控制系统、三坐标测量机、机械运动系统、激光干涉仪、光电显微镜、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度非接触式坐标测量系统,可实现不同被测件,如实现球棒、步距规、量块、卡规、环规、螺纹、线纹尺、分化板等多种长度计量器等所需要的测量功能,一机多用,社会效益前景广阔。
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公开(公告)号:CN119714044A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411897818.8
申请日:2024-12-20
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B9/02001 , G01B9/02 , G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种连续变倍宽光谱干涉测微装置,包括宽光谱光源、分划板、光学镜头组、物镜组、分光镜、连续变倍镜组、相机、位移台、位移台控制器以及计算单元;光学镜头组用于将从宽光谱光源发出的光束汇聚成平行光束,分光镜用于反射该平行光束和透过干涉光束,干涉光束透过分光镜并经过连续变倍镜组及相机汇聚后形成干涉图像;连续变倍镜组由多组镜片组成,能够通过移动改变镜片之间的间距,实现连续改变焦距,从而实现连续变倍和变视场;计算单元用于根据一系列干涉图像计算出被测表面的纵向高度并重构出被测表面的三维形貌。本发明具有高精度、焦距连续可变、放大倍率连续可变、视场连续可变、重量轻、体积小的优点。
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公开(公告)号:CN104634255A
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201510100854.1
申请日:2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于步距规测量的非接触式测量装置,属于测量技术领域。基体9固定在水平面上,导轨6固定安装于基体9的上表面;工作台8安装于导轨6上;位移机构10的一端固定于基体9上,另一端固定于工作台8上;调整机构5固定于工作台8上,并位于导轨6的正上方,调整机构5的轴线与导轨6平行。激光器1固定在基体9上表面上,其光轴与导轨6平行;桥框7固定于基体9上表面上,并跨在导轨6的两侧;瞄准定位系统2固定于桥框7上。环境传感器3固定于激光器1与被测物步距规40之间一位置。材料传感器11固定于被测物步距规40上。本发明可准确测步距规的工作长度,采用非接触测量,测量值可溯源,测量数据准确可靠。
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公开(公告)号:CN104614850A
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201510100855.6
申请日:2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
CPC classification number: G02B23/10 , G02B21/361 , G02B21/364
Abstract: 本发明涉及一种大焦距静态光电显微镜,具体涉及一种微米级可用于瞄准测量的光学系统,属于光学领域。其包括:照明光源(1)、目标分划板(2)、投影物镜组(3)、成像物镜组(4)、棱镜(5)、第一平面镜(6)、第二平面镜(7)、转向物镜组(8)、中心通光平面镜(9)、图像传感器(10)和光电转换装置(11)。本发明提出的大焦距静态光电显微镜与已有技术相比较具有长工作距离、抗干扰能力强、可实现非接触瞄准和生产成本低的优点;同时,由于该装置的投影物镜组(3)和成像物镜组(4)光学参数完全相同且采用对称式结构,因此容易实现。
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公开(公告)号:CN106352823A
公开(公告)日:2017-01-25
申请号:CN201610737241.3
申请日:2016-08-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明涉及一种基于多瞄准装置的复合坐标测量系统,属于测量技术领域。本发明包括坐标测量机、激光干涉仪、电感测微仪、光电显微镜、机械运动系统、可调整工作台和嵌入式控制及数据处理系统。采用由嵌入式控制系统、机械运动系统、激光干涉仪、电感测微仪、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度接触式坐标测量系统以及由嵌入式控制系统、三坐标测量机、机械运动系统、激光干涉仪、光电显微镜、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度非接触式坐标测量系统,可实现不同被测件,如实现球棒、步距规、量块、卡规、环规、螺纹、线纹尺、分化板等多种长度计量器等所需要的测量功能,一机多用,社会效益前景广阔。
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公开(公告)号:CN104614850B
公开(公告)日:2017-01-18
申请号:CN201510100855.6
申请日:2015-03-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种大焦距静态光电显微镜,具体涉及一种微米级可用于瞄准测量的光学系统,属于光学领域。其包括:照明光源(1)、目标分划板(2)、投影物镜组(3)、成像物镜组(4)、棱镜组(8)、中心通光平面镜(9)、图像传感器(10)和光电转换装置(11)。本发明提出的大焦距静态光电显微镜与已有技术相比较具有长工作距离、抗干扰能力强、可实现非接触瞄准和生产成本低的优点;同时,由于该装置的投影物镜组(3)和成像物镜组(4)光学参数完全相同且采用对称式结构,因此容易实现。(5)、第一平面镜(6)、第二平面镜(7)、转向物镜
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公开(公告)号:CN119714155A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411819182.5
申请日:2024-12-11
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种量块自动检测装置专用支架,包括量块支架、支架底座和底座托盘,量块支架用于放置标准量块和被测量块,支架底座用于放置量块支架,底座托盘用于放置多个支架底座,每个支架底座在底座托盘的放置位置固定;量块支架上设置有第一矩形孔、第二矩形孔、圆形开槽、侧面凹槽和限位凹槽,第一矩形孔用于放置被测量块,第二矩形孔用于放置标准量块,圆形开槽用于防止测头接触量块支架,侧面凹槽可供机械臂的叉片插入以在工作台上移动量块支架,限位凹槽用于固定量块支架的位置,支架底座设置有插入槽,用于机械臂的叉片插入量块支架和支架底座之间。本发明能够解决机械臂在自动测量量块过程中夹取、定位以及在带筋工作台上移动的难题。
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公开(公告)号:CN119575689A
公开(公告)日:2025-03-07
申请号:CN202411833988.X
申请日:2024-12-12
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种图形边缘瞄准方法,包括:通过物镜组使被测图形边缘在成像器件上形成左右两个独立的完全对称式图像;计算左右两个图像的对称中心线,分别计算两个图像的几何中心点,计算两个图像的几何中心点连线与所述对称中心线的交点作为瞄准点。本发明能够实现图形边缘的高精度瞄准。
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