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公开(公告)号:CN119623373A
公开(公告)日:2025-03-14
申请号:CN202411753616.6
申请日:2024-12-02
Applicant: 中国兵器工业计算机应用技术研究所
IPC: G06F30/33 , G06N3/006 , G06F119/08
Abstract: 本发明涉及一种提高芯片温度稳定性的控制电路设计方法;该方法包括:在芯片的表面设置测温电阻和加热电阻,用于测温并将芯片加热到额定最高工作温度;初步构建芯片温度控制电路,芯片温度控制电路包括多个待确定参数的电阻和电容;构建芯片温度控制电路仿真模型,基于预设的适应度函数、芯片额定最高工作温度和芯片对应的温度变化过程传递函数对电阻、电容的待确定参数和控制电路的控制参数进行迭代优化,得到最小化适应度值对应的最优参数值;基于最优参数值得到控制电路。本发明基于电路级别的参数优化提高了芯片温度稳定性控制效果,且不需要对现有芯片进行重新设计,提高了该方法的通用性,降低了芯片温度控制成本。