可溶于光致抗蚀剂显影液的有机底部抗反射组合物及使用该组合物的光刻和蚀刻方法

    公开(公告)号:CN1484094A

    公开(公告)日:2004-03-24

    申请号:CN03133069.X

    申请日:2003-07-23

    Inventor: 崔相俊

    CPC classification number: G03F7/091

    Abstract: 本发明提供一种有机底部抗反射组合物,其含有芳族聚合物化合物、热交联剂和有机溶剂。芳族聚合物化合物含有的官能团可吸收波长短于约248nm的曝光且其为可热交联的以及可用酸水解脱交联的。热交联剂通过与芳族聚合物化合物的官能团反应导致热交联反应。有机底部抗反射组合物可溶于光致抗蚀剂显影液。有机底部抗反射组合物应用于光刻和蚀刻方法时,有机底部抗反射组合物形成的层可在光致抗蚀剂曝光和烘焙过程之后的显影过程中与光致抗蚀剂层一同显影形成图案。其结果是光刻及蚀刻方法可得到简化,沉积的光致抗剂层的初始厚度可以降低,且蚀刻的加工裕度提高。

    用于光刻胶的阻挡涂敷组合物及使用该组合物形成光刻胶图形的方法

    公开(公告)号:CN1912745A

    公开(公告)日:2007-02-14

    申请号:CN200610101176.1

    申请日:2006-07-03

    Inventor: 崔相俊 畑光宏

    CPC classification number: G03F7/11 G03F7/0752 G03F7/2041

    Abstract: 提供了阻挡聚合物、引入这种聚合物的阻挡涂敷组合物以及利用这种阻挡涂敷组合物抑制浸渍光刻过程中光刻胶成分溶解的方法。该阻挡聚合物可以由包括至少一个单体的一种或多种单体合成,该单体具有三(三甲基硅氧烷基)甲硅烷基以及将具有5,000至200,000道尔顿的重量平均分子量(Mw)。该阻挡聚合物可以与一种或多种有机溶剂结合,以形成可以被涂敷到光刻胶层的阻挡涂敷组合物,从而形成在曝光处理过程中充分地抑制成分如PAG溶解到浸渍介质中的阻挡涂层。该三(三甲基硅氧烷基)甲硅烷基单体可以与其他单体结合,具体,包括一个极性基团的单体,用于改进,例如,所得阻挡涂层在显影液中的疏水性和/或可溶性。

    用于化学放大抗蚀剂的共聚物

    公开(公告)号:CN1125836C

    公开(公告)日:2003-10-29

    申请号:CN98125176.5

    申请日:1998-12-02

    CPC classification number: G03F7/0045 C08F220/18 C08F222/06 G03F7/039

    Abstract: 本发明提供了一种应用于化学放大抗蚀剂的光敏聚合物。光敏聚合物为式(I):其中R1选自氢和C1至C20脂烃,n为整数。特别地,R1选自甲基、乙基、正丁基和环己基或R1选自含C7至C20脂环脂烃,如金刚烷基、降冰片基和异冰片基。本发明还提供了包含光酸引发剂和聚合物的化学放大抗蚀组合物。聚合物为式(II):其中R1选自氢和C1至C20脂烃;R2选自氢或甲基;R3选自叔丁基或四氢吡喃基;n和m各自为整数,其中n/(m+n)比例为0.1至0.5。本发明化学放大抗蚀组合物对干蚀工艺具有强的抗蚀性,对膜材料具有优良的粘合性,可利用常规显影剂显影。

    制造具有多个存储器节点电极的半导体存储器器件的方法

    公开(公告)号:CN1949482B

    公开(公告)日:2012-03-14

    申请号:CN200610132163.0

    申请日:2006-10-12

    CPC classification number: H01L28/90 H01L21/0334 H01L21/31144 H01L27/10852

    Abstract: 一方面,提出了一种制造半导体存储器器件的方法,包括:在半导体衬底的第一部分和第二部分上面形成模具绝缘膜,其中模具绝缘膜包括在半导体衬底的第一部分上面彼此间隔的多个存储节点电极孔。该方法还包括:在存储节点电极孔的内表面上分别形成多个存储节点电极,以及形成覆盖膜,所述覆盖膜覆盖位于半导体衬底的第一部分上面的存储节点电极和模具绝缘膜的第一部分,但暴露出位于半导体衬底的第二部分上面的模具绝缘膜的第二部分。该方法还包括:至少利用湿法刻蚀,选择性地除去模具绝缘膜以暴露出由覆盖膜所覆盖的存储节点电极中的至少一个存储节点电极的侧壁,以及通过干法刻蚀除去覆盖膜以暴露出存储节点电极的上部。

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