半导体存储器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116249346A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202211536107.9

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 一种半导体存储器件可以包括:单元阵列结构,包括电连接到存储单元的第一接合焊盘;以及外围电路结构,包括第二接合焊盘,该第二接合焊盘电连接到外围电路并接合到第一接合焊盘。单元阵列结构可以包括:堆叠,包括在垂直方向上堆叠的水平导电图案;包括垂直导电图案的垂直结构,垂直导电图案在垂直方向上与堆叠交叉;以及提供在覆盖堆叠的一部分的平坦化绝缘层中的电力电容器。

    半导体存储器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114068573A

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202110829327.X

    申请日:2021-07-22

    Abstract: 半导体存储器件可以包括:外围电路结构,该外围电路结构包括在第一区域中集成在半导体衬底上的外围电路和设置在第二区域中的第一键区;堆叠,提供在外围电路结构的第一区域上,该堆叠包括在第一方向上延伸并垂直地堆叠的多条第一导电线;覆盖该堆叠的上绝缘层;提供在上绝缘层上的互连层;穿透插塞,与堆叠间隔开,并且被提供为穿透上绝缘层以将互连层连接到外围电路结构的外围电路;模制结构,提供在外围电路结构的第二区域上,并且在第一方向上与堆叠间隔开;以及穿透结构,提供为穿透模制结构并与第一键区垂直地重叠。

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