用于制造半导体器件的系统和方法

    公开(公告)号:CN110277295A

    公开(公告)日:2019-09-24

    申请号:CN201910109891.7

    申请日:2019-02-11

    Abstract: 提供了用于制造半导体器件的系统和方法。所述用于制造半导体器件的系统可以包括:腔室;静电卡盘,用于装载基底;电源,将RF功率提供到静电卡盘;阻抗匹配器,位于电源与静电卡盘之间;功率传输单元,将静电卡盘连接到阻抗匹配器。功率传输单元可以包括功率杆和同轴电缆,功率杆连接到静电卡盘并且具有第一外径。同轴电缆可以包括内线、外线以及位于内线与外线之间的介电材料。内线将功率杆连接到阻抗匹配器并且具有比第一外径小的第二外径。外线连接到腔室且被设置为包围内线,并且具有比第一外径小且比第二外径大的第一内径。第一内径与第二外径的比大于介电材料的介电常数并且小于介电材料的介电常数的三倍。

    用于制造半导体器件的系统和方法

    公开(公告)号:CN110277295B

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN201910109891.7

    申请日:2019-02-11

    Abstract: 提供了用于制造半导体器件的系统和方法。所述用于制造半导体器件的系统可以包括:腔室;静电卡盘,用于装载基底;电源,将RF功率提供到静电卡盘;阻抗匹配器,位于电源与静电卡盘之间;功率传输单元,将静电卡盘连接到阻抗匹配器。功率传输单元可以包括功率杆和同轴电缆,功率杆连接到静电卡盘并且具有第一外径。同轴电缆可以包括内线、外线以及位于内线与外线之间的介电材料。内线将功率杆连接到阻抗匹配器并且具有比第一外径小的第二外径。外线连接到腔室且被设置为包围内线,并且具有比第一外径小且比第二外径大的第一内径。第一内径与第二外径的比大于介电材料的介电常数并且小于介电材料的介电常数的三倍。

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