一种单分子测序芯片
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105154323B

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201510500302.X

    申请日:2015-08-14

    Inventor: 吴平 颜钦

    Abstract: 本发明提供了一种单分子测序芯片,该芯片包括基片和所述基片压合设置的基底层,所述基片包括相对设置的第一表面和第二表面,所述基片第一表面间隔设置有多个流道形成的反应池阵列,每个所述流道相对设置的两个侧壁沿所述流道的长度方向延伸并在所述流道的两端交汇形成两个带有夹角的锥形末端,所述两个锥形末端表面分别设置有与所述基片第二表面连通的流体输入孔和流体输出孔,所述基底层包括透明基底和设置在所述透明基底表面的间隔层,所述间隔层与所述基片第一表面接触且所述间隔层对应所述流道所在的位置设置有腐蚀凹槽。所述芯片的流场分布情况良好,芯片中基底的变形率低,芯片内流体的冲刷切换彻底。

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