一种晶体缺陷类型识别方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119723572A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411787439.3

    申请日:2024-12-06

    Applicant: 长江大学

    Abstract: 本申请公开了一种晶体缺陷类型识别方法、装置、电子设备及存储介质,属于晶体结构分析技术领域,其方法包括:获取白云石晶体的缺陷透射显微图像;根据缺陷类型与透射显微图像的空间维度和成像特征的映射关系,为缺陷透射显微图像添加缺陷类型标签,生成标签缺陷显微图像;将标签缺陷显微图像进行图像预增强,生成标签缺陷训练集;构建初始RetinaNet模型,以缺陷显微图像为输入,缺陷类型为输出,对初始RetinaNet模型进行迭代训练,生成目标晶体缺陷类型识别模型;根据待测晶体的透射显微图像,识别待测晶体缺陷的类型。本发明可以解决现有技术方案不能准确定位识别白云石晶体缺陷和缺陷类型的技术问题。

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