一种GaAs晶片的抛光组合物及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN118496767A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410518902.8

    申请日:2024-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种环保高效的GaAs晶片的抛光组合物,所述抛光组合物由以下重量百分比的原料组成:抛光剂磨料0.8%‑40%;碱性化合物0.01%‑10%;氧化剂1%‑25%;氧化稳定剂0.001%‑0.5%;表面活性剂0.001%‑1%;余量为去离子水,此抛光组合物的pH值为7.5‑9.1。本发明抛光组合物采用绿色环保的氧化剂,解决了含次氯酸钠类氧化剂抛光液长期使用对人体的损害和环境污染问题;同时,在pH7.5‑9.0和氧化稳定剂的配合下,使抛光组合物具有高的材料移除速率,对设备和环境友好等特点。

    一种用于获得高质量SiC单晶衬底表面的CMP组合物及制备方法

    公开(公告)号:CN119842323A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202411857052.0

    申请日:2024-12-17

    Abstract: 本发明涉及一种用于获得高质量SiC单晶衬底表面的CMP组合物,其由下述重量百分比的原料制成:抛光磨料20‑50 wt%,氧化剂3‑5 wt%,表面活性剂0.1‑0.5 wt%,氢键调节剂0.2‑0.5 wt%,抛光促进剂0.2‑1 wt%,消泡剂0.01‑0.05wt%,余量为水;所述CMP组合物呈中性。该CMP组合物采用氧化硅作为磨料,引入氢键调节剂、抛光促进剂和氧化剂,提升碳化硅晶圆CMP抛光速率,实现清洗后硅面表面粗糙度Ra可达0.07nm以下,清洗后表面无大颗粒(>0.2um),同时无需对氧化硅原料进行处理,具有优异的长期储存稳定性,并且体系随着储存时间的延长不会出现颗粒团聚和沉降现象,在后续抛光过程中能够获得优异的抛光表面质量。

Patent Agency Ranking