公开(公告)号：CN1855552A

公开(公告)日：2006-11-01

申请号：CN200610067699.9

申请日：2006-03-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： L·特萨卡拉科斯 ,  J·-U·李 ,  C·S·科尔曼 ,  S·勒博尤夫 ,  A·厄邦格 ,  R·沃纳罗斯基 ,  A·M·斯里法斯塔法 ,  O·苏利马

IPC: H01L31/0248 ,  H01L31/042 ,  H01L31/18

CPC classification number: H01L31/18 ,  B82Y20/00 ,  H01L31/035227 ,  H01L31/1085

Abstract: 本发明涉及包括纳米结构材料的光电装置，其中这种光电装置专门由无机成分组成。根据实施例，这种纳米结构的材料是1维的纳米结构(201)或分支的纳米结构(2302)，其中使用这种纳米结构来增强该光电装置的效率，尤其是用于太阳能电池的应用。另外，本发明还涉及制造和使用这种装置的方法。

公开(公告)号：CN102183523B

公开(公告)日：2015-08-26

申请号：CN201010623179.8

申请日：2010-12-23

Applicant: 通用电气公司

Inventor： F·R·阿迈德 ,  O·苏利马 ,  K·R·纳加卡 ,  赵日安 ,  J·W·布雷

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01R31/308 ,  G01N21/66 ,  G01N21/9505 ,  H02S50/10

Abstract: 一种方法包括：经由电流源(14)将电流提供给至少一个光伏装置(12)，并且经由辐射探测器(16)来探测来自至少一个光伏装置(12)的发射光子辐射。该方法还包括将对应于所探测的发射光子辐射的信号从辐射探测器(16)输出到处理器装置(18)，以及经由处理器装置(18)来处理与所探测的发射光子辐射对应的信号，以便生成一个或多个二维光子图像。该方法还包括分析一个或多个二维光子图像，以便确定至少一个光伏装置(12)中的至少一个缺陷。

公开(公告)号：CN102183523A

公开(公告)日：2011-09-14

申请号：CN201010623179.8

申请日：2010-12-23

Applicant: 通用电气公司

Inventor： F·R·阿迈德 ,  O·苏利马 ,  K·R·纳加卡 ,  赵日安 ,  J·W·布雷

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01R31/308 ,  G01N21/66 ,  G01N21/9505 ,  H02S50/10

Abstract: 一种方法包括：经由电流源(14)将电流提供给至少一个光伏装置(12)，并且经由辐射探测器(16)来探测来自至少一个光伏装置(12)的发射光子辐射。该方法还包括将对应于所探测的发射光子辐射的信号从辐射探测器(16)输出到处理器装置(18)，以及经由处理器装置(18)来处理与所探测的发射光子辐射对应的信号，以便生成一个或多个二维光子图像。该方法还包括分析一个或多个二维光子图像，以便确定至少一个光伏装置(12)中的至少一个缺陷。